Способ определения толщины слоя двухслойного изделия
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 974253
Автор: Мироненко
Текст
И. Мирон центральный научно-исследовательский институт и технологии тяжелого и транспортного машиностроения явнтел 5 Й) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЯ ДВУХСЛОЙНОГО ИЗДЕЛИЯСл я, мн; матери. /с; логозвука слоя измеря толцин скорос але иэ е ультрряемог Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано дня определения толщины слоя двухслойного материала.Известен способ определения толщины слоя двухслойного материала, основанный на изиерении вреиени прохождения ультразвука, вводимого под угломк границе раздела 1.1.Его недостаткои является низкаядостоверность результатов определенияграницы раздела иатериалов с близкиииакустическими свойствами, обусловленная тем, что амплитуда эхо-сигнала отграницы раздела сравнима с амплитудойложных помех,Наиболее Чюизкии по техническойсущности к предлагаемому является способ определения толщины слоя двухслой-ноГо изделия, заключающийся в том,что прозвучивают изделие в направлении, перпендикулярном границе разделаслоев, и по времени распространенияультразвука судят о толщине 21. Недостатком этого способа является низкая достоверность определения толщины слоя для материалов, акустические свойства которых различаются менее чем в 1,2 раза, обусловленная теи, что амплитуда эхо-сигнала в этом случае имеет незначительную величину и сравнима с амплитудой помех.Цель изобретения - повышение достоверности определения толщины слоя для материалов, акустические свойства которых различаются менее чем в 1 2 раза. Поставленная цель достигается тем, то производят дополнительное иЗмереие толщины изделия любым методом и пределяют толщину слоя иэ условия3 97125С, - скорость ультразвука в материале второго слоя, мм/с;Н - толщина изделия, определеннаяпо времени распространенияультразвука, мм; 5Н " толщина иэделия, измереннаяне ультразвуковым методом,мм еНа чертеже изображена принципиаль.ная схема устройства, реализующего 1 в предлагаемый способ.Устройство содержит электрически связанные между собой преобразователь 1 ультразвуковых колебаний и регистратор 2. Позицией 3 обозначено 1 ф контролируемое двухслойное изделие.Сущность способа определения тол-. ,щины слоя двухслойного изделия заклю чается в следупщем.На испытываемое двухслойное изде- ф лие 3 устанавливается преобразове тель 1 ультразвуковых колебаний, прозвучивают его в направлении, перпендикулярном границе раздела слоев, и определяют суммарную толщину Н 4 двух- ф слойного иэделия с помощью регистратора 2, настроенного на скорость увы. развука в материале одного из слоев.Далее производят измерение сум" марной толщины изделия Н любым дру" ЗО гим не ультразвуковым методом, например .с помощью штангенциркуля, с точ" ностью не ниже, цем ультразвуковым методом, а толщину слоя определяют из условия ЭЗи ы -2 -3С(И - Н,)4 "Са.где й - толщина измеряемого слоя,мм;Г - скорость ультразвука в ма фтериале измеряемого слоя,мм/с;Г " скорость ультразвука в ма"териале второго своя, мм/с;Н 4 - толщина изделия, определен" 4ная по времени распространения ультразвука, мм;Н, - толщина изделия, измереннаяне ультразвуковым методом,мм.3 4Таким образом, благодаря измерению толщины изделия не ультразвуковым методом и нахождению толщины слоя иэ расцетной зависимости повышается достоверность результатов для материалов, акустические свойства которых различаются менее чем в 1,2 раза. Формула изобретения Способ определения толщины слоя двухслойного иэделия, заключающийся в том, что прозвучивают иэделие в направлении, перпендикулярном границе раздела слоев, и по времени распространения ультразвука судят о толщине, о т л и ц а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения достоверности определения толщины слоя для материалов, акустические свойства которых различаются менее чем в 1,2 раза, производят дополнительное измерение толщины: изделия любым методом и определяют толщину слоя из условия толщина измеряемого слоя, мм;скорость ультразвука в материале измеряемого слоя, мм/с;скорость ультразвука в мате"риале второго слоя, мм/с;толщина иэделия, определеннаяпо времени распространенияультразвука, мм;толщина изделия,измеренная неультоазвуковим методом, мм,где ЬНЯ. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Неразрушающий контроль металлови иэделий. Справочник под ред. Г.С,Самойловича. И., "Иашиностроение",1976, с. 332.2. Иатериалы УИ Всесоюзной научно"технической конференции по неразру"шающим физическим методами средствам контроля. Кишинев, 1977, с. 589591 прототипСоставитель Р. Восканян Ре 8 актор Н, Кищтулинец Техрео М,Тапер Корректор И, Ватрушкина Заказ 66 7 1 Тираж 7 " Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035 Москва Ж-ЗБ Раюиская наб. д. 4/5 Шае еЛти А еав в 4 В еав е в 4ъафилиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,
СмотретьЗаявка
2870507, 09.01.1980
ЦЕНТРАЛЬНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ МАТЕРИАЛОВ И ТЕХНОЛОГИИ ТЯЖЕЛОГО И ТРАНСПОРТНОГО МАШИНОСТРОЕНИЯ
МИРОНЕНКО ВАСИЛИЙ ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 29/04
Метки: двухслойного, изделия, слоя, толщины
Опубликовано: 15.11.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-974253-sposob-opredeleniya-tolshhiny-sloya-dvukhslojjnogo-izdeliya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения толщины слоя двухслойного изделия</a>
Предыдущий патент: Сканирующее устройство дефектоскопа
Следующий патент: Сканирующее устройство к дефектоскопу
Случайный патент: Топливный бак трактора с дизельным двигателем