Штыревая линия задержки

ОП ИСАНИЕИЗОРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоиетскнкСоцналнстнческнхРеспублнк и 875504(28) Приоритет ие демам нзееретеннй н еткрытнй(71) Замвитель Московский институт электронного маши строении(54) ШТЫРЕВАЯ ЛИНИЯ ЕРЖКИ держки сигнала, например погрешности измерительного преобразования перемещений.Цель изобретения - исключение влияния ди.электрической проницаемости среды на коэффициент замедления,5Укаэанная цель достигается тем, что в шты.ревую линию задержки, содержащую гребенку,выполненную в виде штырей, укрепленных наосновании, введены вторая штыревам гребенка,/1 Оидентичнам первой и рмд параллельных проводящих пластин, число которых соответствуетчислу штырей гребенок, причем обе гребенкиразмещены в одной плоскости штырями навстречу друг другу, а пластины расположены вплоскости, параллельной плоскости штырей па 1 эраллельно штырям гребенок напротив них нарасстоянии, равном или меньшем ширины шты.,рей. При этом все электрическое поле окаэываетсм сосредоточенным внутри линии,Изобретение относится к технике сверхвысоких частот, в частности к линиям задержки ипредназначено длм применения в качестве инвариантного к изменению диэлектрической прони.цаемости среды элемента задержки, напримерпервичного измерительного преобразователя магнитной проницаемости или перемещений.Известна замедляющая система, выполненнаяв виде спирали круглого поперечного сеченияс постоянным шагом намотки 111,Несмотря на то, что поле спирали сосредоточено в основном внутри ее витков, ее харак.тернстики сильно зависят от параметров внеш.ней средыНаиболее близкой к изобретению являетсяштыревам линия задержки, содержащая гребец.ку, выполненную в виде штырей, укрепленныхна основании. Эта линия помещена в замкнутый экран 23.Недостатком известной линии задержки явля.ется зависимость коэффициента замедления отдиэлектрической проницаемости среды, что цриводит на практике к связанной с изменениемпараметров среды погрешности в значении,эаНа фиг. 1 и 2 приведена конструкция ли.иии; на фиг, 3 - экспериментальная зависи.мость коэффициента замедления от расстоянии875504 пластин, располагаемых со стороны штыревыхгребенок параллельно им,Линия содержит выполненные на диэлектрической,подложке 1 печатные проводники в виде штыревых гребенок 2, расположенных штырями друг против друга, с одной стороны,и в виде пластин 3, установленных противштырей гребенок 2 параллельно им на рассто.янин, равном или меньшем ширины ппырей,с другой. Блоки с гребенками 2 и пластина. 1 Оми 3 для наглядности пространственно раэнесеныфОбразование емкости между каждой пластиной 3 и установленными против нее штырямигребенок 2 приводит к тому, что практически 15все электрическое поле волны оказывается со.средоточенным внутри замедляющей системы,между пластинами 3 и штырями гребенок 2,а магнитное поле остается снаружи. В результате на коэффициент замедления системы окаэы- зввают влияние только факторы, способные изменять магнитное поле волны, например металлическая пластина, располагаемая со стороны гребенок 2 параллельно им (кривая 4). Диэлектрическая же пластина (относительная диэлектрическая проницаемость - 10, толщина - 2 мм)ие изменяет магнитное поле волны и не оказывает влияшш на коэффициент замедления (кривая 5)ЗОТаким образом, коэффициент замедления предлагаемой замедляющей системы не зависит отдиэлектрической проницаемости среды. 4Применение изобретения в качестве элемента задержки в сверхвысокочастотных приборах, например для первичного измерительного преобразования неэлектрнческих величин, способных изменять магнитное поле волны (магнитной проницаемости, перемещений), позволит исключить связанную с изменением диэлектрической проницаемости среды составляющую ногрешиости значения задержки, например погрешности первичного измерительного преобразования. формула изобретения" Штыревая линия задержки, содержащая гребенку, выполненную в виде штырей, укрепленных на основании, о т л и ч а ю щ а я с ятем, что, с целью исключения влшпщя диэлектрической проницаемости среды на коэффициентзамедления, в линию введены вторая штыреваягребенка, идентичная первои, и ряд проводящихпластин, число которых соответствует числу штырей гребенок, при этом обе гребенки размещены в однойплоскости штырями навстречу другдругу, а пластины расположены в плоскости,параллельной плоскости штырей параллельноштырям гребенок напротив них на расстоянии,равном или меньшем ширины штырей.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Силин Р, А, и Сазонов В. П Замедляющиесистемы, М., Советское радио, 19 бб, с, Ни - 07,2. Там же, с, 324 - 334 (прототип).875504:еаза УВНИИПИ Заказ 9368/80 Тираж 787 Подписноегее ееал ППП "Патент", г,ужгород, ул.Проектная