Способ определения диэлектрическихсвойств материала

Союз СоветскинСоциалистическикРеспублик ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(22) Заявлено 17. 08. 79 (2) 2811453/18-25с присоединением заявки РВ(51)М. Кл. 6 01 М 27/60 Гасударственный комитет по делец изобретений и открытий(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛАИзобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при разработке устройств для бесконтактного измерения, в частности для измерения диэлектрической пронииаемости. Известен спосоГ измерения диэлектрических параметров веществ, при реализации которого в межзлектродное0 пространство конденсатора помещают вещество и измеряют емкость этогоконденсатора 11.Недостатком этого способа является невысокая точность измерения.Наиболее близким к изобретению является способ определения диэлект. рических свойств материала путем помещения над его поверхностью двух электродов, по крайней мере на один щ из которых подаез."я потенциал, и измерения электрических параметров в цепи, подключенной ко второму электроду 12 1. Недостаточная точность измеренияобусловлена тем, что при реализацииспособа необходимо производить изме"рения в двух положениях, т.е. результирующая погрешность, по крайней мере,вдвое больше, чем при одном измерении, Кроме того, результат измеренияусредняется по площади пластин конденсатора.Целью изобретения является повьепение точности измерений,Эта цель достигается тем, чтопо способу определения диэлектрических свойств материала путем помещения над его поверхностью двухэлектродов, по крайней мере на одиниз которых подается потенциал, иизмерения электрических параметровв цепи, подключенной к второмуэлектроду, поддерживают уровень потенциала на одном из электродовпостояннык, измеряют потенциал второго электрода в изолированномсостоянии, перемещая электроды по8535, 3 4 деляет более высокую эффективность способа. нормали к поверхности, определяют минимальное значение потенциала на втором электроде и по соотношению этого потенциала и потенциала на первом электроде судят о диэлектри 5 ческих свойствах материала, Кроме того, с целью выявления локальных неоднородностей диэлектрических свойств после получения минимального значения потенциала второго электрода перемещают электроды параллельно поверхности, определяют изменение потенциала указанного электрода в :процессе перемещения и по этому изменению судят о неоднородности свойств вдоль поверхности материала.На чертеже представлена схема устройства для реализации способа.Оно состоит из влияющего электрода 1, измерительного электрода 2 20 источника 3 для задания потенциала на влияющем электроде, усилителя 4 и измерительного прибора 5.Способ реализуется следующим образом. 25Датчик с охладителями подводится к поверхности исследуемого материала 6 таким образом, чтобы электроды находились на одинаковом расстоянии от поверхности, На электроде .1 задается 50 и поддерживается постоянный потенциал, В процессе перемещения электродов к поверхности определяется минимальное значение потенциала.Проведенные расчеты и эксперименты З 5 свидетельствуют о том, что минимальное значение зависит от диэлектрической проницаемости материала и, зная это минимальное значение для материалов с известными свойствами 40 и для исследуемого материала, можно однозначно определить, в частности, ,диэлектрическую проницаемость, При этом погрешность измерений может быть снижена по сравнению с прототи пом в несколько раз, Это в совокупности с возможностью оценки неоднородности свойств материала опреФормула изобретения 1. Способ определения диэлектрических свойств материала путем помещения над его поверхностью двух электродов, по крайней мере на один из которых подается потенциал, и измерения электрических параметров в цепи, подключенной к второму электроду, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности,поддерживают уровень потенциала на одном из электродов постоянным,измеряют потенциал второго электрода в изолированном состоянии, перемещая электроды по нормали к поверхности, определяют минимальное значение потенциала на втором электроде и по соотношению этого потенциала и потенциала на первом электроде судят о диэлектрических свойствах материала.Способ по п.1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью выявлещя локальных неоднородностей диэлектрических свойств, после получения минимального значения потенциала второго электрода перемещают электроды параллельно поверхности, определяют изменение потенциала указанного электрода в процессе перемещения и по этому измененйю судят о неоднородности свойств вдоль поверхности материала. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Матисс И.Т, Электроемкостныепреобразователи для неразрушающегоконтроля. Рига, "Зинафгне", 197 7.2, Авторское свидетельство СССР В 216807, кл, 21 а 4, 71, 1966 (прототип)."Патент", г. Уигород, ул. Проектная,или 5642/19 .Тираа 997 ВНИИПИ Государственногопо делам изобрете 113035, Иосква, Ж, Р Подписное комитета ССЦР ннй и открытий уаская иаб., д. 4/5