Устройство для аттестации штриховых мер

ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистических Республик(22) Заявлено 0606.79 (21) 2776576/18-28с присоединением заявки йо(23) ПриоритетОпубликовано 230781, Бюллетень М 27Дата опубликования описания 230781 51)М. К . С 01 В 1100 Государственный комитет СССР но делам нзобретеннй н открытнй(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ АТТЕСТАЦИИ ШТРИХОВЫХ МЕР где э Изобретение относится к контроль но-измерительной технике, в частности к устройствам для аттестации штриховых мер. 5По основному авт.св. 9771463 наиболее близким к изобретению по технической сущности является устройство для аттестации штриховых мер методом компарирования, содержащее 10 последовательно расположенные источник света, оптическую систему, включакщую оптический элемент, образцовую диафрагму с двумя щелями, расстояние между серединами которых выбирается из условия154 р 4(Ьбпдк.,ц 1)1 ) где 1. - эталон длины - единицаамасштаба аттестуемой мерыьо - максимально возможное значение ширины штриха,Ь Зн,пк - максимально возможное минусовое отклонение единицы интервала аттестуемоймеры от эталоннойкоэффициент увеличенияединицы масштаба.аттестуемой меры.Ширина щелей В Ь, ,Г, фотоэлект 1 псхрический узел выполнен в виде димического фотоэлектрического микроскопа, рабочая зона фотокатода которого перекрывает плоскости щелей образцовой диафрагмы, Блок обработкисигнала с фотоприемного узла выполнен в виде схемы управления, входкоторой связан с выходом динамического фотоэлектрического микроскопа,схемы кварцевого генератора, соединенной со схемой управления, схемыкоррекции и вычислительного узла,сОединенного со схемой кварцевогогенератора и схемой коррекции Г 11 .Недостатком известного устройстваявляется ограниченный диапазон выбора расстояния р между серединамиобеих щелей образцовой диафрагмы.Цель изобретения - расширение диапазона выбора расстояния р между серединами обеих щелей образцовой диафрагмы,Поставленная цель достигается тем,что расстояние р между серединамиобеих. щелей образцовой диафрагмывыбиается из условия849002 35 где а - знак разности ( -1), и число импульсов, подсчитайных вычйслительным узлом за время с с частотой кварцевого генератора РкГ (с периодом Т) на -ом единичном интервале.Таким образом, электронным анало гом длины (э- ) являетсяП.;Ь -Ь= Ч=с,- -кг 50 55 еО 65 Ьс - максимально возможноезначение ширину штриха,д+3 щах максима ьно воЪможное положительное отклонениеединицы интервала аттестуемой меры от эталонной,ь, " максимально возможноеминусовое отклонение единицы интервала аттестуемой меры от эталонной,Г " коэффициент увеличенияединицы масштаба аттестуемой меры.На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого устройства.Устройство содержит последователь,но расположенные источник 1 света, оптическую систему, включающую оптический элемент 2 и объектив 3, образцовую диафрагму 4 с двумя щелями, фотоэлектрический узел в виде динамического фотоэлектрического микроскопа 5, рабочая эона фотокатода б которого перекрывает плоскости щелей образцовой диафрагмы 4, и блок обработки сигнала с фотоприемного узла в виде схемы 7 управления, вход которой связан с выходом динамического фотоэлектрического микроскопа 5, схемы 8 кварцевого генератора, соединенного со схемой 7 управления, схемы 9 коррекции и вычислительного узла 10, соединенного со схемой 8 кварцевого генератора и схемой 9 коррекции.Расстояние между серединами щелей диафрагмы выбирается из условия (,+2 ь,+д ) (ьу-ь,-д ъ, )а ширина щелей В=Ь Г.Устройство работает следующим образом.Источник света 1 через оптический элемент 2 освещает аттестуемую меру 11 со штрихами 12, световые изображения которых переносятся объективом 3 в плоскости щелей образцовой диафрагмы 4, за которой расположен фотокатод б динамического фотоэлектрического микроскопа 5, Расстояние между серединами двух щелей образцовой диафрагмы 4 выбирается Из условия,+2 Ь +Ь Ъ ) Г 4 Ь;6(Ь, -2 Ь -Ь Ъа) ) исключающего возможность одновременного появления оптических изображений штрихов в обеих щелях образцовой диафрагмы 4; что дает возможность использовать один канал фотоэлектронной обработки, применениев котором динамического фотоэлектрического микроскопа 5 позволяет производить аттестацию при непрерывномсо стабилизированной скоростью Чперемещения аттестуемой штриховоймеры 11. Динамический фотоэлектрический микроскоп 5 выделяет середи 5 10 15 20 25 30 ны оптических изображений штрихов 12 в плоскостях щелей образцовой диафрагмы 4 и в виде дельта-импульсов подает их на схему 7 управления, которая выделяет те дельта-импульсы, расстояние между которыми соответствует разности длин единиц (шагов) аттестуемых интервалов в плоскостях щелей образцовой диафрагмы 4 (.; х Г, где 1 - порядковый номер единицы аттестуемого интервала и расстояния между серединами щелей образцовой диафрагмы, Вычислительный узел 10 по командам со схемы 7 управления подсчитывает временной интервал между этими дельта-импульсамидля заданной стабилизированной скорости Ч перемещения штриховой меры 11) с частотой Г кварцевого генератора. Схема 7 управления дает команду на схему 9 коррекции, которая вводит поправку в предыдущее вычисление на разность длин единицы масштаба аттестуемой меры з и интервала между серединами щелей образцовой диафрагмы 4, приведенного к плоскости штриЬохов . Следовательно, процесс вычисления разности длин каждой (-й единицы аттестуемого интервалаи . единицы масштаба аттестуемой меры приведенных к плоскости штрихов, выглядит таким образом а его временной эквивалент с; эй. -- ":б" и Т: с 1 Ч - 1 кгПосле чего вычислительный узел алгебраически пересчитывает отклонение каждого измеренного единичного интервала от единицы масштаба аттестуе/мой меры на отклонение его относительно первого (нулевого) штриха. Эта окончательная операция аттестации, в результате которой определяется величина и знак отклонения на каждом (-том аттестуемом интервале штриховой меры 11, выражается формулойА=С Бз а, - " Ч= - , см,п.,-1 1 - санкт Гкг.-где Н - номер последнего интервалаштриховой меры (число аттестуемых интервалов меры).849002 Изобретение может быть использовано для аттестации как линейных, так и круговых штриховых мер (для этого в приведенных формулах нужно заменить единицы длины на угловые единицы, а линейную скорость - на угловую).Изобретение обеспечивает простоту устройства, высокую точность, производительность, надежность и широкий диапазон единиц аттестуемых интервалов (от долей микрометра до миллиметров). где1 ъах6+3,10 Устройство для аттестации штриховых мер методом компарирования по авт.св. 9771463, о т л и ч а ю щ е - е с я тем, что, с целью расширения диапазона выбора расстояниямежду серединами обеих щелей образцовой диафрагмы, оно выбирается из условия 1(зрЮМпкц)4 о "э эах -Ъю 4)г 076/53 Тираж 642 Подписное НИИПИ 3 иал ППППат Формула изобретения эталон длины - единицамасштаба аттестуемой ме"ры,максимально воэможное.значение ширины штриха,максимально возможное йоложительное отклонениеединицы интервала аттестуемой меры от эталоннойфмаксимально возможное минусовое отклонение единицы интервала аттестуемоймеры от эталонной,коэффициент увеличенияединицы масштаба аттесту"емой меры. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе20 1. Авторское свидетельство СССР 9771463, кл. С 01 В 11/00, 1978 (прототип),г. Ужгород, ул. Проектная,