Ежкин

Номер патента: 1213430

Опубликовано: 23.02.1986

Автор: Ежкин

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, радиосигнала, спектра

...радиосигнала равенчислу Кразрядов МАДЛЗ 4, максимальное же значенне,е не зависитот й, и для низкочастотных радиосигналов в зависимости от конкретнойзадачи и цели может достигать десятковтысяч и более,В соответствии со свойством преобразования Фурье об изменениимасштаба сжатию сигнала во временив е раз соответствует расширениеего спектра также в е раз,Следовательно, на выходе сумматора 5 имеется преобразованныйЙ "элементнйй сегмент радиосигналас расширенным. спектром, которыйпроходя через фильтр 7, имеющийполосу пропускания, в е раэ большую полосы частот ОФМ-радиосигнала,поступает на информационный входанализатора 9 спектра. Фильтр 7очищает высокочастотный ОФМ радноимпульс от тех спектральных компонент, которые являются...

Номер патента: 849002

Опубликовано: 23.07.1981

Автор: Ежкин

МПК: G01B 11/00

Метки: аттестации, мер, штриховых

...узла 10, соединенного со схемой 8 кварцевого генератора и схемой 9 коррекции.Расстояние между серединами щелей диафрагмы выбирается из условия (,+2 ь,+д ) (ьу-ь,-д ъ, )а ширина щелей В=Ь Г.Устройство работает следующим образом.Источник света 1 через оптический элемент 2 освещает аттестуемую меру 11 со штрихами 12, световые изображения которых переносятся объективом 3 в плоскости щелей образцовой диафрагмы 4, за которой расположен фотокатод б динамического фотоэлектрического микроскопа 5, Расстояние между серединами двух щелей образцовой диафрагмы 4 выбирается Из условия,+2 Ь +Ь Ъ ) Г 4 Ь;6(Ь, -2 Ь -Ь Ъа) ) исключающего возможность одновременного появления оптических изображений штрихов в обеих щелях образцовой диафрагмы 4; что дает...

Номер патента: 771463

Опубликовано: 15.10.1980

Автор: Ежкин

МПК: G01B 11/00

Метки: аттестации, мер, штриховых

...использовать один канал фотоэлектронной обработки, применение в котором динамического фотоэлектрического микроскопа 5 позволяет производить аттестацию при непрерывном со стабилизированной скоростью Ч перемещении аттестуемой штриховой меры 11. Динамический фотоэлектрический микроскоп 5 выделяет середины оптических изображений штрихов 12 в плоскостях щелей образцовой диафрагмы 4 и в виде дельта-импульсов подает их на схему 7 управления, которая выделяет те дельта-импульсы, расстояние между которыми соответствует разности длин единиц (шагов) аттестуемых интервалов в плоскостях щелей образцовой диафрагмы 41. Г(1 - порядковый номер единицы аттестуемого интервала) и расстоянию между серединами щелей образцовой диафрагмы 1. о Вычислительный...