Дифференциальный способ измеренияпоказателя преломления
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 817546
Автор: Степин
Текст
Союз Советских Социалистических Республик(22) Заявлено 22 Р 376 (21) 2337316/18-25с присоединением заявки Йо(51)М. Кл,з 6 01 В 21/01 Государственный комитет СССР но делам изобретений н открытий(72) Автор изобретения нГ Ю.А.Степин ИЫ 3 Я(54) ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ10 Изобретение относится к оптикомеханическому приборостроению и может быть использовано при измененииоптических констант материалов.Известны дифференциальные методыизмерения показателей преломления,основанные на фотографировании .спектра, построенного лучами, прошедшимичерез эталонную и измеряемую приз"мы 1 .Недостатком таких методов является чрезвычайная длительность измерений,Наиболее близким техническим решением является дифференциальный способ измерения показателя преломленияпутем измерения разности показателейпреломления склеенных в единый приэменный блок образца и эталона нониальным сомещением изображений опорных 20линий в их спектрах с помощью верка"льного микрометра.Сущность этого способ заключаетсяв следующем.Иэ коллиматора параллельный пучокнаправляют на входную грань призменного блока, состоящего иэ эталона иобразца, причем каждую из призм ссопряженной с ней половиной щели перекрывают с частотой, превышающей вре.30 менную разрешающую способность при- емно-регистрирующей систеьы. В результате этого в поле зрения зрительной трубы получают расположенные друг над другом спектры источника, построенные лучами, прошедшими через эталон и образец. Перемещением в ту или . другую сторону (в зависимости от знака измеряемой разности показателей преломления образца и эталона) подвижной части зеркального микрометра ноннально совмещают изображения одной и той же линии в спектрах эталона и образца, По величине и направлению перемещения микрометра определяют знак и величину искомой разностиЦиапаэон измерений зависит от длины хода подвижной части микрометра в каждую сторону от нулевого положения и угла отклонения лучей его элементами. Точность измерений, в свою очередь, зависит от угла отклонения лучей элементами микрометра (21.Недостатком известного способа измерений является невозможность увеличения диапазона измерений беэ увеличения габаритов прибора или беэ ухудшения точности измерений,Цель изобретения - увеличение диапазона измерений показателей пре4 В 17546 Формула изобретения б 5 ломления без увеличения габаритовприбораПоставленная цель достигается тем,что призменный блок поворачивают.к ,коллиматору рабочими гранями поочередно, сохраняя положение его преломляющего угла, при этом по перемещению подвижной части микрометра до совмещения иэображений опорных линий рпределяют абсолютное значение показателя преломления, а знак показателя преломления определяют по положению призменного блока.На чертеже схематически изображен рефрактометр, реализующий предлагаемый способ. Устройство состоит из коллиматора 1, включающего источник 2 света, конденсатор 3, щель 4 и объектив 5, эталона 6 и образца 7, склеенных в еди-. ный призменный блок, объектива 8 камерной части, неподвижной части микромет О ра,включающей зеркала 9,10 и 11,под- вижной части микрометра, включающей зеркала 12,13 и 14,шкалы 15,жестко связанной с подвижной частью микрометра,отсчетного индекса 16,окуляра 17 и экранов 18.Источником 2 света(линейчатого спектра) через конденсатор 3 освещают щель 4, расположенную в фокальной плоскости объектива 5 коллиматора 1. Из коллиматора параллельный пучок 30 попадает на призменный блок, состоящий из эталона б и образца 7, Диспергнрованный призмами свет попадает в камерный объектив 8, который строит иэображения двух спектров в фокаль ной плоскости окуляра 17. Для того, чтобы спектры не перекрывали друг друга по высоте, экраны 18 вращаются с частотой, превышающей временную разрешающую способность глаза, перек О рывают поочередно верхнюю и нижнюю половины щели 4 и призмы б и 7 эталон и образцы. Окна в экранах расположены так, что свет, идущий через верхнюю половину щели, проходит только через нижнюю призму, а свет, 4 идущий через нижнюю половину щели, только через верхнюю призму. Способ осуществляют следующим образом.Призменный блок поворачивают к коллиматору рабочими гранями поочередно, сохраняя расположение его преломляющего угла. При положении А, когда к коллиматору обращена катетная грань призменного блока, эталон 6 находится сверху, а при положении Б., когда к коллиматору обращена гипотенузная грань призменного блока, сверху расположен образец 7. При каждом из положений призменного блока (А и Б) перемещают подвижную часть оптического микрометра (зеркала 12, 13 и 14) в сторону увеличения отсчета, наличие с нулевого положения. При каждом положении (А и Б) призменного блока в процессе перемещения микрометра может быть либоувеличение, либо уменьшение расстояния между изображениями опорной линиив спектрах эталона и образца,В результате описанных действий, определяют при каком из положений приэменного блока укаэанное расстояние между изображениями опорной спектральной линии уменьшается, и при этом положении,. перемещением подвижной части микрометра, нониально совмещают иэображения этой линии. По шкале 15 микрометра снимают величину перемещения микрометра и определяют по ней абсолютное значение разности показателей преломления образцаи эталона для длины волны, соотвествующей спектральной линии, а знак этой разности определяют по нап- равлению смещения спектра эталона при движении подвижной части микрометра от нулевого положения. Если спектр эталона смещается в направлении от ребра преломляющего угла призменного блока к его основанию, то показатель преломления образца больше показателя преломления эталона, и, следовательно, измеренная разностьимеет положительное значение, а если спектр эталона смещается в противоположном направлении, то измеренная разность имеет отрицательное значение. Предлагаемый способ позволяет,перемещением подвижной: части микрометра в одну и ту же сторону, измерять и положительную, и отрицательную разность показателей преломленияобразца и эталона, т,е, не увеличивая габариты рефрактометра, можноизмерять вдвое большие разности показателей преломпения,Дифференциальный способ измерения показателя преломления путем измерения разности показателей преломления склеенных в единый призменный блок образца и эталона нониальным совмещением изображений опорных линий в их спектрах с, помощью зеркального микрометра,о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью увеличения диапазона измерений без увеличения габаритов прибора, призменный блок поворачивают к коллиматору рабочими гранями поочередно, сохраняя положение его преломляющего угла, при этом по перемещению подвижной части микрометра до совмещения изображений опорных линий определяют абсолютное значение показателя преломления, а817546 знак показателя преломления опреде;ляют по положению приэменного блока. Источники инФормации,принятые во,внимание при экспертизе оставитель Л,ЧайковскаТехред А.Вабинец орректор В. Вут дакто ск аж 907венного комитета СССРретений и открытийРауШская наб., д. 4 Подписное филиал ППП фПатентфф, г. ужгород, ул. Проектная аказ 1321/57 Ти ВНИИПИ Государс по делам иэо 113035, Москва, Ж
СмотретьЗаявка
2337316, 22.03.1976
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6681
СТЕПИН ЮРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 21/01
Метки: дифференциальный, измеренияпоказателя, преломления
Опубликовано: 30.03.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-817546-differencialnyjj-sposob-izmereniyapokazatelya-prelomleniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Дифференциальный способ измеренияпоказателя преломления</a>
Предыдущий патент: Устройство для определения темпе-ратуры сегнетоэлектрического фазовогоперехода
Следующий патент: Измерительная кювета
Случайный патент: Устройство для подъема и перемещения груза между заданными позициями