Способ контроля качества магнитных материалов

Союз Советских Социалистических РеспубпикОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ 767627(51)У( 3 О 01 й 22/00 С 01 й 27/72 Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытийОпублмковано 30.0980. Бюллетень М 9 3 б Дата опубликования описания 300980.(72) Авторы изобретения Ю.И.Беснятых, В.И,Зубков, И.М.Котелянский и В.В.Тарасенко Ордена Трудового Красного Знамени институт радиотехники и электроники(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МАГНИТНЫХ МАТЕРИ 10 А 5 е41 с мо линииоопии при этом по судят о каче константе по о состоянииНа Фиг. 1 ная электрич для реализац уктурйстваспособа; Изобретение относится к радиотехнике и может использоваться для контроля за качеством магнитных компо= нентов.5Известен способ контроля качества магнитных материалов, основанный на помещении исследуемого образца в постоянное и сверхвысокочастотное электромагнитные поля 11.Однако известный способ не обладает необходимой точностью, производительностью измерений и широтой Функциональных возможностей.Цель изобретения - повышение точ ности, производительности измерений и расширение Функциональных воэмож- ностей. Для этого в способе контроля качества магнитных материалов, основаниом на помещении исследуемого образца в постоянное и сверхвысокочастотное электромагнитные поля, возбуждают в материале две сверхвысокочастотные монохроматические поверхностные вол ны с неравными волновыми векторами, измеряют величины волновых векторов К 1 и К и величины затухания этих воли Г и Г и определяют ширину ре,зонансной линии 2 дНс, и константу 2поверхностной анизотропии А по Формулам4 Г Й ф еЙ 1"Ь ЫЬЪ толщина образца; намагниченность насыцения;отношение внешнего маг нитного поля к намагни ченности" насыщения; константа неоднородног обмена магнитного мате риалаширине резонансной тве материала, а и ерхностной анизотр го поверхности,представлена стрская схема устро и предложенного767627 формула изобретения 2 х Ь Г ек)к-к) 4 йм Й КГе 9,6 ВЦ + ф) ( А о де сыще Формации,е при экспер Источники ин нятые во внимани 1. Сафантьевски поверхностных н ог нестабильност волн. - "физик т. 13, 9 7, сего маг- намагниния; 60 орбдного го матез ияна чес А.П. и др. В еодйородносте и магнитостат твердого тел 1927-1931.п к 1 ой линии а по конпри этом по ши судят о качест 71 на фиг, 2 - конструкция преобразователей сверхвысокочастотной (СВЧ)"электромагнитной волны в поверхностную н обратно.Устройство для реализации предложенного способа содержит модулятор 1,генератор 2, вентиль 3, четыре одинаковых переключателя 4 и 5, магнитныйобразец 6, магнит 7, две.одинаковыеплаты 8, калиброванный аттенюатора 9,приемник 10 и осциллограф 11 (Фиг.1).Переключатели 4 служат для направления СВЧ волны либо через исследуемый материал, либо через калибро вайнцй аттенюатор 9. Переключатели 5служат для направления СВЧ волны наплаты 8.На общую плату 8 нанесены двапреобразователя 12,и 13 для преобразования СВЧ электромагнитной волны вповерхностную и обратно в виде структур типа меандр с разными пространственными периодами. Пространственныйпериод структуры задает волновое число К возбуждаемой поверхностной волны, В устройство для реализации пред.ложенного способа входят две одинако,вые платы 8, так как преобразователиСВЧ волны в поверхностную и обратноидентичны. Платы 8 расположены напротивоположных концах поверхностимагнитного материала,Реализация предложенного, способаосуществляется следующим образом.Возбуждение двух поверхностныхволн осуществляется с помощью генератора 2, модулятора 1 и преобразователей 12 и 13. Первые два возбуждаютСВЧ электромагнитную волну, промодулированную по амплитуде прямоугольным импульсОм, два вторых преобразуют эту волну в два поверхностных сразличными волновыми числами К (и стем же законом модуляции по амплитуде). Измерение затухания поверхностных волн производится сравнительным д - толщина образца1 МО- намагниченностьН ния-- отнбшение- внешн4 Ю Монитного поля кченности насыщеР - константа неоднобмена"магнитнориаларине резонанснве материала,методом. Для этого на экране осцилло.графа 11 Фиксируются последовательноамплитуды огибающих поверхностныхволн и СВЧ волны, прошедшей непЬсредственно через калиброванный аттенюатор 9. Введением аттенюатора 9 добиваются равенства этих амплитуд дляСВЧ и каждой из поверхностных волн и,таким образом, узнают затухание СВЧтракта между двумя переключателями 4,Зная потери переключателей 5 и преоб разователей 12 и 13 (или измеряя ихнезависимо тем же сравнительным мета"дом), узнают потери каждой из поверхностных волн. Дальнейшая обработкарезультатов производится по алгорит му предложенного способа и рассчитываются ьНо и АЗ, По аНо оцениваетсякачество материала, по А - качествоповерхности.3 Технико-экономическая эффективность способа контроля качества магнитных материалов заключается в повышении точности, производительности измерений и расширении Функциональных возможностей. Способ контроля качества магнитнцх материалов, основанный на помещении исследуемого образца в постоян- ЗО ное и сверхвысокоЧастотное электромагнитные поля, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения точности, производительности измерений и расширения функциональных воз можностей, возбуждают в материаледве сверхвысокочастотные монохроматические поверхностные волны с неравными волновыми векторами, измеряют величины волновых векторов К и 40 К 2 и величины затухания этих волн Ги Г и определяют ширину резонансной линйн 2 аНо и константу поверхностной анизотропии А по формулам нте поверхностной бнизотропнтоянии его поверхности.767627 г.1 Составитель В.Маврина Техред Ж. Кастелевич Корректор М.Демч актор Н.Суха илиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная Закаэ 7184/39 Т ВНИИПИ Госуд коми по делам и от 113035, Москва сная