Устройство для измерения деформаций

Номер патента: 732662

Авторы: Липанов, Пишков, Шрамек

ZIP архив

Текст

ОП ИСАН ИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Х АВТОРСКОМУ СВИДИЕЛЬСТВУщ 732662 Союз Советских Сфциелистических Республик(22) Заявлено 31.1078 (211 2684169/25-28с прмсоединеммем заявки йо(51)М, Кл,2 6 01 В 7/18 Государствеииий комитет СССР по делам изобретений и открытий(И 3 УДК 531.781.2539.3(088.8) Дата опубликования описания 05 Р 580(71) Заявитель Ижевский механический институт(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ Изобретение относится к измерительной технике, а именно к тензометрическим устройствам для измере-ния деФормаций, и может. быть использовано для измерения деформаций деталей, на которых можно разместитьчетыре тензореэистора, образующихмост.Известно устройство для измере"ния деФормаций, содержащее тензореэистор, соединенный с ним источникпитания постоянного тока, фотореэистор, включенный параллельно тенэорезистору, установленный на Фотореэисторе светодиод, соединенный с источником калибровочного сигнала, и регистратор 11.Однако такое устройствоне обеспечивает высокой точности измерений,на которую влияют погрешности отколебаний сопротивления линий связии наводимые в них помехи,Наиболее близким к изобретениюпо технической сущности и достигаемому эффекту является устройстводля измерения деформаций, содержащеечетыре тенэорезистора, образующие.основной мост, два резистора, входящие в компенсационный мост, фоторезистор, включенный в диагональ питания моста, светодиод, закрепленный на фоторезисторе и соединенный с источником компенсационного напряжения от компенсационного моста, источник питания постОянного тока, соединенный .:с диагональю питания моста и фотореэистором, и регистратор, включенный в измерительную диагональ основного моста (2.Однако к это устройство не обеспечивает высокой точности измерений при наличии наводок на лигиях связи между мостом к регистратором.Целью изобретения является повышение точности измерений.Поставленная цель достигается тем, что устройтно снабжено вторым светодиодом, тремя фотореэисторами и четырьмя световодами, положительная шина источника питания соединена с одним вйводом первого и второго тенэореэисторов, а другой вывод каждого кэ икх соединен соответственно с одним выводом одного иэ последующих тенэореэксторов и с отрицательным выводом другого светодиода, свободные концы третьего и четвертого тензореэисторов соединены с отрица25 ЗО 35 40 4 Я тельной виной источника литания,нажатий светодиод соединен двумясветоводами с соответствующими фо-:,торезисторами, всв фоторезисторысоединены в четцрехллечий иост, арвгиотраторвключей в диагональивритаХа чертеже представлена схемаустройства для измерения деформаций.Устройство содержит источник 1латания постоянного тока, тенэорваиетары 2 и 3, каждый из которыхсоединен одним выводом с положительной шиной источника 1 питания, дварезистора 4 и 5, Соединенные соответственно с другими выводами тенэорезисторов 2 и 3, тензорезисторы 6И 7 каждый иэ которых соединенодним выводом с отрицательной шинойисточника 1 питания, а другим с одним иэ резисторов 4 или , первыйсаетодиод 8, положительный вывод .;щкоторого соединен с точкой соединения тенэореэиотора 2 и резистора 4,а отрицательный - с точкой соединения тензорезистора 7 и резистора 5,второй светодиод 9, положительный .вывод которого соединен с точкойсоединения тензорезистора 3 и резистора 5, а отрицательный - с точкойсоединения тенэореэистора б и резистора 4, четыре фотореэистора 10-13,совдйненные в мост, на диагональлитания которого подается напряжениепостоянного тока от дополнительногоисточника (на чертеже не показан),регистратор 14, включенный в измерительную диагональ моста, световоды15 и 16, соединяющие светодиод 8 сфотореэисторами 10 и 13, световоды17 и 18, соединяющие светодиод 9 сфотореэксторами )1 и 12.Устройство работает следующимобраЭОмТанэорезисторы 2 и 7 воспринимаютдеформацию одного знака,.а тензорезисторы 3 и 6 - противоположногознака. При этом л 3 щение напряжения.иа одном из резисторов 4 или 5 умень-.шается, а. на другом соответственновозрастает, что лриводйт к изменениюяркости свечения светодиодов 8 и 9.Оптический выходной сигнал от этойчасти.схеаа, расположенной непосредственно абливи контролируемой детали подается по световодам 15-18 к фотореэисторам 10-13, преобразующим оптический сигнал снова в электрический. Напряжение в измерительной диагонали моста из фоторезисторов 10-13 регистрируется регистратором 14.Предлагаемое устройство позволяет повысить точность измерений при воздействии на линии связи электромагнитных .полей, так как оптические линии связи невосприимчивы к этим факторам. Кроме того, световодц имеют меньшее поперечное сечение н меньшую массу по сравнению с электрическими линиями связи и исключают необходимость поддержания в этих линиях высокого сопротивления изоляции, характерного для проволочной тензсметрин.формула изобретенияУстройство для измерения деформаций, содержащее четыре тенэореэнс- .тора, два резистора, фоторезнстор,светодиод, источник питания постоянного тока и регистратор, о т л ич а ю щ.е е с я тем, что, с цельюповаааения точности измерений, оноснабжено вторци светодиодом, тремяфоторезисторами и четырьмя световодами, положительная шина источникапитания соединена с одним выводомпервого и второго тенэореэисторов,,а другой вывод каждого из них соединен соответственно с одним выводомодного иэ последуюаях тензореэисторов и с отрицательным выводом другого светодиода, свободные концы третьего и четвертого "тензорезисторовсоединены с отрицательной шиной источника литания,.каждый светодиод соединен двумя световодамн с соответствующими фоторезисторами, все фоторезисторц соединены в четырехплечий мост,а регистратор включен в диагональмоста.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельствь СССРВ 406166 кл. С 01 В 7/16, 1974.2. Авторское свидетельство СССРЮ 406166, кл. 0 01 В 7/18, 1972/30 Тнр ЦИНИПИ Госу по делам 13035, Москварственного коми зобретений и о З, Раушская Подписноетета СССРкрытыйнаб д, 4/5

Смотреть

Заявка

2684169, 31.10.1978

ИЖЕВСКИЙ МЕХАНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ

ЛИПАНОВ АЛЕКСЕЙ МАТВЕЕВИЧ, ШРАМЕК ВЛАДИМИР БАЯНОВИЧ, ПИШКОВ ВИКТОР НИКОЛАЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 7/16

Метки: деформаций

Опубликовано: 05.05.1980

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-732662-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения деформаций</a>

Похожие патенты