Система для контроля качества отжига стекла

Номер патента: 642263

Авторы: Бялик, Кадлец

ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ С 11 ИДЕТГЛЬСТВУ 11 я 642263 Сеюэ Советскими Сфцнааистнчасккк Респубаик(51) М. Кл, С 03 В 25/О присоединением заявки3) Приоритет осударстаенный комитет СССР но делам изобретений и открытий.7(088.8 Опубликовано 1501.79. Бюллетень % 2 Дата опубликования описания 1501.79(72) Авторы изобретен А.Бялик и С,И.Кадлец го ;циивт Всесоюзного научно-и трукторского институт промышленности строит Киевский филиа и проектно-кон(54) СИСТЕ 11 А ДЛЯ КСНТРОЛЯ КАЧЕСТВА СТОИГА СТГ Изобретение относится к стекольной промышленности и может быть использовано для контроля качества отдельных образцов стекла и изделий иэ него.Известна система для контроля качества отжига стекла, содержащая источник излучения и приемник 1 .Эта система не позволяет судить об однородности получаемого стекла, являющегося основным критерием качества отжига.Известна и другая система для контроля качества отжига стекла, содержащая мирру, установленную между осветителем и коллиматором, объектив и светоприемник 2 .Недостатком известной системы является низкая точность контроля качества отжига стекла, связанная с субъективностью определения предельного угла разрешения мирры, рассматриваемой через исследуемое стекло. Эта неточность приводит к неправильному определению категории оптической однородности стекла и, как следствие, к неправильному его дальнейшему использованию, К числу недостатков системы относится н большая сложность пр цесса нонт 1 оля, вызванная необходимостью последовательного просмотра большого числа мирр и, как следствие, низкая производительность контроля качества отжига.Указанные недостатки не позволяют использовать известную систему для массового контроля качества отжига оптического стекла или для контроля качества отжига листового полированного стекла, а при выборочном контроле отдельных образцов стекла не позволяют судить а качестве отжига с достаточной точностью.Целью предполагаемого изобретения является повышение качества контроля.Гоставленная цель достигается тем, что известная система для контроля качества отжига стекла, содержащая мирр установленную мех;ду осветителем и коллиматором, объектив и свето- приемник, снабжена устройством измерения временного интервала, пороговым блоком, детектором, фильтром и электродвигателем, причем светоприемник подключен ко входу фильтра, выход которого соединен с одним из входов детектора, другой вход которого соединен с пороговым блоком, выходы детектора подключены к соответствующим входамустройства измерения временного интервала, а мирра выполнена с радиально расположенными штрихами и эксцен.трично установлена на валу электродвигателя. На фиг. 1 изображена система для контроля качества отжига стекла; на фиг. 2 - временная диаграмма его работы.Осветитель 1 имеет источник света 2 и конденсатор 3, радиальную мир О ру 4, эксцентрично установленную на валу двигателя 5, коллиматор 6, объектив 7, диафрагму 8, светоприемник 9, фильтр 10, детектор 11, устройство измерения временного интервала 12, 5 пороговый блок 13 и механизм перемещения стекла 14.Устройство измерения временного интервала 12 содержит триггер 15 с раздельными входами, генератор 16 20 квантующих импульсов, схему 17 совпадения, счетчик 18 импульсов и индикатор 19.Описанная схема работает следующим образом. 25Световой поток от осветителя 1, проходя через радиальную мирру 4, попадает во входной зрачок коллиматора 6. Коллиматор 6 направляет параллельный световой лучок на исследуемое стекло 20 и при помощи объектина 7 образует в плоскости установки светопрнемника 9 иэображение мирры 4. Дифрагма 8 служит для вырезания из изображения мирры узкой полосы, в пределах которой разрешающая способность мирры 4, практически, постоянна, При вращении эксцентрично установленной мирры 4 плавно изменяется ширина полос участка мирры, проектируемого на исследуемое стек ло 20, т,е. разрешающая способность мирры.1 ри отсутствии стекла в поле зрения прибора изображение мирры проектируется в пюгоскость установки свето приемника без искажений и размытостей и глубина модуляции светового пучка в течение всего периода измерения остается постоянной, независимо от того, какой участок мирры проектируется 50 на светоприемник. Появление стекла в поле зрения прибора вызывает искажения и рассеяние света, обусловленные неоднородностью стекла. При этом, чем выше качество отжига, тем одно- родней стекло и тем выше его разрешающая способность. При вращении мирры 4 глубина модуляции светового пучка остается постоянной (максимальной) до тех пор, пока через стекло проектируются участки мирры, разрешающая способность которых меньше разрешающей способности исследуемого стекла,Когда разрешающая способность проектируемого участка мирры становится больше разрешающей способности стек ла, глубина модуляции светового пучка уменьшается.Светоприемник 9 регистриРует.прошедший через стекло 20 переменный световой поток и выдает переменный сигнал 21 на фильтр 10, выделяющий оги бающую сигнала 21 (сигнал в Ъ) . Сигнал 22 поступает на вход детектора 11, который при достижении установленного схемой 13 порога срабатывания 23 выдает сигнал 24 на входной триггер 15 устройства 12 измерения временного интервала, Триггер 15 выдает разрешающий сигнал 25 на один иэ входов схемы 17 совпадения., ко второму входу которой подключен выход генератора 16, Разрешающий сигнал 25. выдается триггером только в интервале времени между сигналами 24 детектора 11 и квантующие импульсы 25 со входа генератора 16 поступают в счетчик 18 только в этом временном интервале .При этом длительнбсть измеряемого временного интервала обратно пропорциональна степени однородности стекла и, следовательно, качеству отжига: чем выше качество отжига, тем меньше регистрируемый временной интервал. Индикатор 19, шкала которого может быть отградуирована в единицах разрешающей способности стекла или непосредственно в категориях оптической однородности, осуществляет индикацию результатов измерения.Механизм 14 перемещения стекла непрерывно или ступенчато по заданной программе перемещает стекло перпендикулярно подающему на него световому потоку. При этом устройство осуществляет последовательное определение качества отжига всех участков контролируемого образца стекла. При контроле движущейся ленты стекла предложенное устройство может работать без механизма перемещения стекла.формула изобретенияСистема для контроля качества отжига стекла, содержащая мирру, установленную между осветителем и коллиматором, объектив и светоприемник, о т л и ч а ю щ а я с я тем, что, с целью повышения качества контроля, она снабжена устройством измерения временного интервала, пороговым блоком, детектором, фильтром и электродвигателем, причем светоприемник подключен ко входу фильтра, выход которого соединен с одним из входов детектора, другой вход которого соединен с пороговым блоком, выходы детектора подключены к соответствующим входам устройства измерения временного интервала, а мирра выполнена с радиально расположенными штрихами и эксцен64263 6 1. Авторское свидетельство СССРМ 403634, кл. С 03 В 27/00, 1971,Справочник по производствустекла,т.1, М Госстройиздат, 1963,с.289. Составитель Л.ШаТехред Э.Чужик орректорТ. Вашкови ух дакто Заказ 7684/2 Тираж 555 11 ПИИПИ Государственного по делам изобретений 13035 Москва ЖРаушсФилиал П 1 П Патент, г. Ужгород, ул. Проектная трично установлена на валу злектродвигателя,Источники инФормации, принятыйво внимание при экспертизе Годписноемитета СССРоткрытияя наб. д, 4

Смотреть

Заявка

2410485, 14.10.1976

КИЕВСКИЙ ФИЛИАЛ ВСЕСОЮЗНОГО НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКОГО И ПРОЕКТНОКОНСТРУКТОРСКОГО ИНСТИТУТА ПО АВТОМАТИЗАЦИИ ПРЕДПРИЯТИЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ СТРОИТЕЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ

БЯЛИК АНАТОЛИЙ АВРАМОВИЧ, КАДЛЕЦ СЕРГЕЙ ИОСИФОВИЧ

МПК / Метки

МПК: C03B 25/00

Метки: качества, отжига, стекла

Опубликовано: 15.01.1979

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-642263-sistema-dlya-kontrolya-kachestva-otzhiga-stekla.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Система для контроля качества отжига стекла</a>

Похожие патенты