Устройство для статистического контроля логических блоков

обработки результатов измерений, выход которого соединен со входом блока индикации,На чертеже приведена блок-схемапредлагаемого устройства.Устройство для контроля логических1, е5бпоков содержит генератор 1 случайных чисел, преобразователь 2 случайныхчисел, проверяемый логический блок 3,амплитудный дискриминатор 4, коммутатор 5 выходных сигналов, блок 6 статистических анализаторов, емкостной шуп 7,10матрицу 8,термодатчиков, коммутатор 9термодатчиков, измерительный прибор10, блок 11 обработки, результатов измерений, блок 12 индикации, блок 13управления, блок 14 ввода данных, пульт1515 управления,Выходы генератора 1 случайных чиселчерез преобразователь 2, случайных чисел связаны со входами проверяемого логического блока 3, выходы которого сое 20динены с амплитудным дискриминатором 4и через коммутатор 5 выходных сигналовсо входами блока 6 статистических анализаторов, Входы, блока 6 статистичес 25ких анализаторов соединены также с . емкостным цупом 7, имеющим емкостнуюсвязь с проверяемым логическим блоком3, Матрица 8 термодатчиков, имеющаягепловую связь с проверяемым логическимЗОблоком 3, через коммутатор 9 термодеччиков соединена с входом измерительного прибора 10, Выходы блока 6 статистических анализаторов и измерительно.го прибора 10 соединены с входом блока3511 обработки результатов измерений,выходы которого соединены с блоком 12индикации. Блох 13 управления связан.с генератором 1 случайных чисел, амплитудным дискриминатором 4, коммутатором405 выходных сигнапов,коммутатором 9термодатчиков, блоком 11 обработки результатов измерений, блоком 6 статистических анализаторов и с блоком 14ввода данных, выходы которого соединенытакже с преобразователем 2 случайныхчисел. Пульт 15 управления связан с блоком 14 ввода данных и блоком 12 индикации,Устройство для контроля логическихблоков работает следующим образом.Последовательность сигналов, вырабатываемая генератором 1 случайных чисел и преобразованная в соответствии снеобходимым законом распределения впреобразователе 2 случайных чисел, поступает на входы логического блока 3.Оценки математических ожиданий сигНй ПЙВ НД НЬ 1 Ъ ЙЛ Йъф ПГОИОПЯФъ хЯ(ъГчъ Гыт т" я 5 выходных сигналов, подсчитываются в блоке 6 статистических анализаторов и сравниваются с заданными значениями в блоке 1 1 обработки результатов наблюдений, При отклонениях подсчитываемых оценок в сторону превышения заданных величин или при несоответствии заданных уровней выходных сигналов, контролируемых амплитудным дискриминатором 4, в блок 12 индикации поступает сигнал о наличии неисправности в проверяемом логическом блоке 3. Кроме того, танк как тепдо С, выделяемое кажцой микросхемой, определяется вероятностями единичного Р и переходного Р состояний ее выходных каскадов6 с с сааргде С 1 С, С - некоторые постоянные для данного типа микросхем,- рабочая частота проверки, то для каждого конкретного распределения вероятностей входных сигналов, определяющего устано вившийся термодинамический режим в проверяемом логическом блоке Зрнесоответ: ствие наблюдаемых и этапонныхтемператур свидетельствует, о наличии неисправности в проверяемом логическом блоке 3.В данном устройстве контроля значения температуры микросхем, снимаемые матрицей 8 термодатчиков последователь но с помощью коммутатора 9 термодатчиков, измеряются измерительным прибором 10 и после. корректирования,в блоке 11 обработки результатов измерений с учетом индивидуальных характеристик каждого термодатчика и температуры несущей платы сравниваются с эталонными значениями, попученными ранее физическим моделированием на исправном логическом блоке.При локализации неисправностей с точ- ностью до корпусов микросхем физическое моделирование всех неисправностей зат- руднено ввиду одновременного измерения тепловых, режимов. как исправных, так и неисправных микросхем из-за наличия тепловых электронных связей между ними, В этом случае величины вероятностей Р и Р подсчитываются в блоке 6 статистических анализаторов на основании сигналов, снимаемых с выходов микросхем при помощи емкостного щупа 7, и передаются в блок 11 обработски результатов измерений для опредепения по формуле ( 1) эталонных значений температур. песовпадение эталонной и снимаемой термодатчиком температур гооставитель В. Максимов хред М. Левицкая Корректо тор Н. Каменская,Т Гарасин Подписноемитета Советазобретений иРаушская наб аж 826 твенного Министров Соткрытий , д. 4/5 по делам ква, Ж3035 Болыцая рабочая частоа проверки(около 1 МГц), необходимая для эффективной работы емкостного щупа и моделирования на основании выражения ( 1) в предлагаемом устройстве контроля обеспечивается высокоскоростным генератором 1 случайных чисел.Технико-экономическая эЫективность предлагаемого устройствазаключается е следующем: измерение тепловых параметроа микросхем. в динамическом режиме позволяет обнаружить не только неисправности, изменяющие характер функционирования проверяемого логического блока, но и скрытый брак микросхем- неисправности, проявляющиеся посде их непродолжительной вксплуатацииф исполь ф зование тепловых измерений, а также емкостного щупа в динамическом режиме позволяет осушествлять контроль и поиск неисправностей в.схемах без создания гальваннЗаказ 3910/38 Т1 ЦНИИПИ Госуда веских связей- между внутренними узлами.проверяемого догического блока и прфдлагаемым устройством контроля. 5 Формула изобретение Устройство ддя с гатистического контрощ логических блоков по авт. св, 527707, о т д и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения достоверности онтроля и расширения функциональных воэможностей, в него введены последовательно соединенные матрица термодатчиков, коммутатор, измерительный прибор и бди обработки результатов измерений и емкостной щуп, соединенный с блоком статистических анализаторов, выход которо го соединен со входом блока обработки результатов измерений, выход которого соединен со входом,блока индикации.