Устройство для измерения угловой погрешности положения штрихов лимба

Номер патента: 587324

Авторы: Адамонис, Гиниотис, Якубчионис

ZIP архив

Текст

Союз Советских Социапистицеских республикОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДНИЛЬСТВУ51) л, В 11/2 с присоединением заявкиГооудорстоенный комктет 6 ооото Мкнкотрао СССР оо демам нзвбретвнно н открмтнйння 19.0 ия о 2) Авторы иаобрете иниотис И. Адамонис н Ю. -кубчнони Вильнюсский филиалЭкспериментального на института металлорежуших станков) Заявител исследовательског 4) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ УГЛОВОЙ 11 ОГРЕШНОС, ПОЛОЖЕНИЯ ШТРИХОВ ЛИМБА На фнг. 1 схематично вемое устройство, вид с идА фиг, 1,На основании 1 устрой ые направляющие 2 уста платформа 3 с "выступом ота с торцовым зубчаты оящим иэ нижней части рукоятки 6. На верхне еплен измеряемый лимбства через кругоновлена поворотив и механиз м эацепле 4, верхней й части пр В, а на пмом новоием, сосчасти 5бора звкворотной Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения угловой погрешности положения штрихов прецизионных лимбов.Известны устройства для измерения угло вой погрешности положения штрихов лимбов с применением, двух пар, микроскопов, распопов же нных над диаметрально противоположными штрихами лимба. Измерение проиэводйтся путем отсчета показаний микроскопов после 1 О периодических поворотов лимба на шаг измерения, изменением угла между парами микроскопов и повторением этих операций 1Однако процесс измерения является трудоемким, длительным, связан со сложными 15 расчетами погрешностей.Наиболее близкимк описываемому устройству по технической сущности и достигаемому результату является устройство, содержащее основание, установленные на нем поворотную 20 платформу, механизм поворота и два микроскопа, расположенные над диаметрально противоположными штрихами лимба 121 .Недостаток измерения таким устройством связан с отсчетом погрешностей в,линейных 25 величинах, при переводе которыхугловые вносятся дополнительные погрешности, а процесс измерения является продолжительнымВель изобретения - повышение производительности измерения путем выполнения от счета погрешностей одним углоизмерительным прибором,Для этого, устройство снабжено индикаторным элементом в виде зеркала, установленного на поворотной платформе напротив коллиматора, приводом микроподвчи поворотной платформы. и блоком сравнения, подключенным между выходами микроскопов и приводом микроподачи, а микроскопы выполнены фотоэлектрическими.изображено предлвг переди; нв фиг. 2платформе 3 - зеркало 8. 11 вд диаметрально противоположнь 1 ми штрихами лимба 7 установлены двв фотоэлектрических микроскопа 9 и 10. Устройство снабжена приводом 11 микро- подачи, вращающим винт 12, который через выступ перемешает платформу 3. С другой стороны выступа установлена пружина 13 возврата, Нв платформе 3 расположено зеркало 8, в которое нвпрвьпен ввтокоплиматор 14. Выходы из фотоэлектрических микроске10 пав 9 и 10 подсоединены в блок 15 сравнвчия, выход из которого подключен к приводу 11 микроподвчи.Устройство работает следующим образом,В исходном положении фотоэлектрические19 микроскопы 9 и 10 установлены на середины диаметрально противоположных штрихов измеряемого лимба 7, а автоколлиматор 14 наводится нв нудь. При помощи рукоятки 6 верхняя часть 5 механизма поворота выводится иэ зацепления с нижней частью 4 и опять вводится в зацепление через требуемый швг измерения. Фотоэлектрические микроскопы 9 и 10 выдают сигналы, пропорциональные погрешностям угла расположения штрихов лимба 7, Из-за разности амплитуды и фазы выходных сигналов блок 15 сравне. ния не срабатывает. Блок 15 сравнения настроен нв срабатывание при одинаковойамплй- туде и противоположной фазе выходных сигналов зз микроскопов 9 и 10.11 ривод 1 1 микроподвчи поворачивает плат форму 3 до тех пор, пока амплитуда выходных сигналов из микроскопов 9 и 10 не станет одинвковой, а их фаза противоположной, яблок,б 15 сравнения выключает привод, В. таком случае диаметрально противоположные штрихи лимба 7 располагыотся параллельно оптическим осям микроскопов 9 и 10, в такое распо= ложение штрихов относительно оптической оси микроскопов соответствует погрешности угла линии, соедищпощей диаметрально противоположные штрихи лимба, что является погрешнос тью диаметров лимба, которая определяется для прецизионных лимбов, Эта погрешность измеряер,ся ввтоколлиматором 14.Формула изобретенияУстройство для измерейия угловой погрешности попожения штрихов лимба, содержащее основание, установленные на нем автокоплиматор, поворотную платформу, механизм поворота и два микроскопа, располагаемые над диаметрально противоположными штрихами лимба, отличающееся тем,что, с целью повышения производительности измерения, устройство снабжено индикаторным элементом в виде зеркала, установленного на поворотной платформе напротив коллиматора, приводом микроподачи поворотной платформы и блоком сравнения, подключенным между виком дами микроскопов и приводом микроподачи, а микроскопы выполнены фотоэлектрическими.Источники информации., принятые во внимание нри экспертизе:.1. Авторское свидетельство СССР587324 оставитель В. ТелеТехред 3, фанта адя едактор ектор Н и Ьта Совета Мии открытий ударстве о ком изобретений осква, Ж,б., д. 4 аушская филиал ППН "Патен город ул Проектная 4 Закав 1: васОНИИПИ Г по делам13035, М Подписноестров СССР

Смотреть

Заявка

2191645, 24.11.1975

ВИЛЬНЮССКИЙ ФИЛИАЛ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОГО НАУЧНО ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКОГО ИНСТИТУТА МЕТАЛЛОРЕЖУЩИХ СТАНКОВ

ГИНИОТИС ВИТАУТАС ПОВИЛО, АДАМОНИС ИОНАС ЮОЗОВИЧ, ЯКУБЧИОНИС ЮРИС-ГЕДИМИНАС ВИТАУТО

МПК / Метки

МПК: G01B 11/26

Метки: лимба, погрешности, положения, угловой, штрихов

Опубликовано: 05.01.1978

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-587324-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-uglovojj-pogreshnosti-polozheniya-shtrikhov-limba.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения угловой погрешности положения штрихов лимба</a>

Похожие патенты