Устройство для исследования температурных характеристик моментных датчиков
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С А Н И Е528467ИЗОБРЕТЕНИЯ Соиз Советских Соииалистических Республик(б 1) Дополнительное к авт, свид 51) .1. Кл." 6 011. 3 2) Заявлено 03.04.75 (21) 2120736 соедин снись 25 ВК 1 Государственный Совета Мииистро по делам нзобр комитет в СССР етений 23) Приоритетпубликовано 15.09.7(53) УДК 531.781(088.8) Ъ 34 юллетень откры Дата опубликовани исания 22.0) Авторы изобретен Я. Шенфельд, Н, А. Ьезрядин и А, Н, Нечае Ленинградский завод Госметр(71) Заявител ВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ТЕМПЕРАТУРНЫХЕРИСТИК МОМЕНТНЫХ ДАТЧИКОВ УСТР Х2 Изобретение относит я к области силоизмерительной техники,Известны устроиства для измерения моментов, содержащие корпус, подвижнуо часть, установленную в подвесе, нуль-индикатор положения подвижнои части и компенсатор 12).Известные устройства не обеспечивают трсОуемои тОчнОсти при исследов 2 ниях х 2 рак 1 еристик моментных датчиков.Кроме того, известны устройства для исследования температурных характеристик моментных датчиков, содержащие корпус, подвижную часть, установленную в подвесе и снабженную посадочным местом для испытуемого моментного датчика, нуль-индикатор углового положения подвижнои части и магнитоэлектрический компенсатор момента 111.Они также не Ооеспечива 10 т требуе:ОЙ точности,С целью повышения точности предлагаемое устройство снабжено моментным датчиком, установленным на подвижной части и включенным встречно с испытуемым датчиком, и термостатом с системами регулирования температуры в рабочей камере, внутри которой установлен испытуемый датчик и теплоэкранирования, а также тем, что система теплоэкранирования выполнена в виде управляемого охладителя и теплового экрана, которые установлены между термостатом и подвижнойчастью. 1-а чертеже представлена схема устройства.Подвижная чсть чу ствтс,ьного э.1 еъснта,содсрж,ща 5 ста,анмагнты 2 и зерк;1;о ;5, подвешена на растяжках 4, ооразующих ось у вствительност О, - Ов.Ь н:жней части чувствительного элементаустановлены осовное госадо Нос у строистьо 0 для ротора исследуемого мпкропреооразоВате 51 О - 1, его статор и Основнои координат но-измерительный стол 8 с конусом Э, с помощью которого задаются линейные и угловыс координаты микропреооразователя б - .Ь верхней части чувствительного элсмеггасимметрично с посадочным у строиством 5 у с тановлены дополнительное посадочное устройство 10 для ротора съемного эталонного 1 опорного) микропреобразователя 11 - 12, его статор и дополнительный коордшатно-измерительный стол 13 с конусом 14, с помощью по следнего задаются линейные и угловые координаты микропреобразоватсля1 - 12, который выбирается аналогичным по типу иссле.дуемому мпкропреобразователю б - 7.Основное посадочное устройство 5 снабже но тепловым экраном 15 с воздушным лабиринтом 16, а также термокамерой 17 с системой регулирования температуры, содержащей датчик 18 температуры, усилитель 19, нагреватель 20, и блоком 21 охлаждения, например, 30 термоэлектрического типа, установленныммежду экраном 15 и термокамерой 17, 528467Влок 21 охлаждения снаояеп терморегулягором 22 и гермочвствигельными элементами 23 - 24, установленными волизи основного и дополнительного посадочного устроиства о и О.1-1 а корп се 2 д закреплены лампочка 26, оптическая система 27, диафрагма 28 и фотопреооразователя 29, оОразующие совместно с зеркалом 3, прибором дО и регулировочным резистором 31, датчик некомпенсации.геподвижные катушки 32, отсчетньш приоор 33, резистор 34 и источник питания 35 ооразуют совместно с разнополярными магнит- мисистему уравновешивания.Источники питания 36 и 37 служат для подачи электрических сигналов в исследуемый и эталонный микропреобразователи 6 в и 11 - 12 соответственно,11 рибор для измерения малых моментов работает следующим образом,На посадочные устройства 5 и 10 и на конусы 9 и 14 координатно-измерительных столов 8 и 13 устанавливаются соответственно исследуемый и эталонный микропреобразователи 6 - 7 и 11 - 12, причем полярности крутящих моментов М 1 и Иг, создаваемых ими, относительно оси 01 - О выбираются встречными.С помощью столов 8 и 13 и источников 36 и 37 задаются требуемые координаты микропреобразователеи 6, 7 и 11, 12, а также необходимые режимы питания,Путем настройки резистора 31 корректируется исходное нулевое положение прибора 30.Затем включается термокамера 17 и система регулирования температуры, и внутри термокамеры 17 создается требуемая температура, воздействующая на исследуемый микро- преобразователь 6 - 7.Вследствие нестабильности моментных характеристик микропреобразователя 6 - 7 возникает разбалансирующий момент, уводящий стакан 1 вместе с зеркалом 3 и изменяюгций показания прибора 30.В катушки 32 через резистор 34 подается уравновешивающий ток от источника 35, отсчет которго производится по прибору 33.Термочувствительные элементы 23 - 24 регистрируют разность температуры в нижней и верхней частях чувствительного элемента и управляют работой терморегулятора 22 и блока 21 охлаждения, поглощающего избыточное тепло, идущее от нагревателя 20.Дополнительно тепловой экран 15 и воздушный лабиринт 16 создают преграду поступлению остаточной части тепла в корпус 25, где помещен и чувствительный элемент, увеличивая температурную стабильность последнего,Введение эталонного встречно включенногос испытуемым датчиком микропреобразователя11 - 12 позволяет существенно повысить точность измерения нестабильности моментных; характеристик микропреобразователя 6 - 7благодаря снижению влияния систематическихпогрешностей мнкродатчиков на результатыисследований,1-1 аличие непосредственно па столе 8 термокамеры 17, внутри которой помещен исследуемыи микропреобразователь 6 - 7, установленный соответственно на посадочном устройстве 5 и столе 8, позволяет исключить операцию съема и переустановки элементов 6 - 7после нагрева во внешнем термостате, чтотакже повышает точность измерения,Наличие теплового экрана 15, воздушноголабиринта 16, термочувствительных элементов23 - 4, терморегулятора 22 и блока охлаждения позволяет значительно снизить перепадтемпературы между верхней и нижней частямичувствительность элемента, автоматическискомпенсировать указанный перепад и тем самым повысить точность измерения нестабиль 25 ности моментных характеристик микропреобразователя 6 - 7,Формула изобретения1. Устройство для исследования температурных характеристик моментных датчиков, содержащее корпус, подвижную часть, установз 5 ленную в подвесе и снабженную посадочнымместом для испытуемого моментного датчика, нуль-индикатор углового положения подвижной части и магнитоэлектрический компенсатор момента, отличающееся тем, что, с 40 целью повышения точности, оно снабжено моментным датчиком, установленным на подвижной части и включенным встречно с испьпемым датчиком и термостатом с системамн регулирования температуры в рабочей ка мере, внутри которой установлен испытуемыйдатчик и теплоэкранирования.2. Устройство по п. 1, отл и ч ающеесятем, что система теплоэкранирования выполнена в виде управляемого охладителя и тепло вого экрана, которые установлены между термостатом и подвижной частью.Источники информации, принятые во вни 55 мание при экспертизе. 1. Лвт. св.449259, кл. й 011. 3/14, 1973 г, (прототип) . 2, Лвт. св.356494, кл. 6 011. 300, 1971 г,528467 гв Ре ор Т. Яно мелев Коррскт Лакая 2009,9 Изд. Ло 1604 Ц 111111 Государственного копит по делам изойретсп 1 13035, Л 1 осква/К.З). РПо и:си,иг -Составитель В, МоргуновТехред А. Овчинникова ста Сонета Минноров ССС о" кгиии 1 писка я н а о., д5 Типография, пр. Сапиона,
СмотретьЗаявка
2120736, 03.04.1975
ЛЕНИНГРАДСКИЙ ЗАВОД "ГОСМЕТР"
ШЕНФЕЛЬД АНАТОЛИЙ ЯКОВЛЕВИЧ, БЕЗРЯДИН НИКОЛАЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, НЕЧАЕВ АНАТОЛИЙ НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01L 3/00
Метки: датчиков, исследования, моментных, температурных, характеристик
Опубликовано: 15.09.1976
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-528467-ustrojjstvo-dlya-issledovaniya-temperaturnykh-kharakteristik-momentnykh-datchikov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для исследования температурных характеристик моментных датчиков</a>
Предыдущий патент: Способ линеаризации характеристики магнитоупругих датчиков квадратного вида
Следующий патент: Способ определения электромеханических резонансных напряжений на валу электродвигателей
Случайный патент: Способ получения -(аминотио)фталимидов