Устройство для измерения добротности резонансных контуров
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 519650
Автор: Свирид
Текст
Изд. М 1457 ПИ Государственного коми по делам изобрете 113035, Москва, Ж, РТираж 1029тета Совета Министров Сий и открытийаушская наб., д. 4/5 ПодписноеР Типография, пр. Сапунова,перестраиваемой частоты, позключенный к входу частотного модулятора, к другому входу,которого черсз усилитель подключен генератор ступенчатого напряжения, о т л и ч а ющ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерений, в него введен блок измерения второй производной по частоте от амплитудно- частотной характеристики контура, состоящий из трех синхронных демодуляторов, входы которых объединены и подключены к выходу генератора ступенчатого напряжения, двух вычитающих устройств, суммирующего устройства, двух аттенюаторов и отсчетного устройства, причем выход первого демодулятора соединен с одним из входов первого вы итающего устройства, другой вход которого :оединен с выходом второго демодулятора, который соединен с одним из входов суммирующего устройства, другой вход которого сое динен с выходом третьего демодулятора и входом третьего вычитающего устройства, выход которого через систему поиска соединен с генератором перестраиваемой частоты, а выход суммирующего устройства через аттенюатор 10 соединен с другим входом первого вычитающего устройства, выход которого соединен с отсчетным устройством, а выход второго вычитающего устройства через переключатель соединен с усилителем.15
СмотретьЗаявка
2054384, 16.08.1974
МИНСКИЙ РАДИОТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
СВИРИД ВЛАДИМИР ЛУКИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 27/26
Метки: добротности, контуров, резонансных
Опубликовано: 30.06.1976
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-519650-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-dobrotnosti-rezonansnykh-konturov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения добротности резонансных контуров</a>
Предыдущий патент: Способ измерения сопротивления изоляции сетей постоянного тока
Следующий патент: Устройство для измерения диэлектрической постоянной материалов
Случайный патент: Способ химической обработки печатной платы