Устройство для измерения логарифмического декремента колебаний материалов

Номер патента: 484412

Авторы: Суханов, Цобкалло, Шмагоревская

ZIP архив

Текст

" В, с гз 3О П И С АН И Е 412 Сс 1 вз Советских Социалистических Республик(22) Заявлено с присоединением заявкиГосударственный комитет Совета Министров СССР 23) ПриоритетОпубликовано 75. Бюллетень34 53) УДК 621.3.083:(72) Авторы изобретеш С, О, Цобкалло, Н. Л, Суханов и А, В. Шмагоревска Ленинградский институт текстильной и легко промышленности им. С, М. Кирова(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯЛОГАРИФМИЧЕСКОГО ДЕКРЕМЕНТА КОЛЕБАМАТЕРИАЛОВ бразць изотро ство позволяет применят в изготовлении, и изучать Изобретние относится к области изучения рассеяния энергии механических колебаний в материалах и может быть использовано для определения логарифмического декремента колебаний в тонких листовых материалах при лабораторных испытаниях образцов этих материалов.Известны устройства для измерения логарифмического декремента колебаний материалов, состоящие из колебательной систеъы, станины, цакрь 1 тои Ваку 1 ыным колпаком, и регистратора. При испытаниях образцы материала нужно скреплять перемычкой, которая влияет на распределецие деформаций в испытываемом образце, что, в свою очередь, снижает точность измерений.Для повышения точности измерений в предлагаемом устройстве основания выполнены в виде усеченных клиньев, при этом на подвижном основании установлен противовес, образующий вместе с ним инерционную систему, центр тяжести которой расположен на лиции пересечения плотскостей испытываемых образцов.На фиг. 1 показано предложенное устроиство, общий вид; ца фиг. 2 - его сечение.Образцы исследуемого материала 1 крепят посредством болтов 2 и прокладок 3 к неподвижному 4 и колеблющемуся 5 основаниям. Неподвижное основанне установлено на кронштейне 6, который крепится на стойке 7, укрепленной на станине 8.На колеблющемся основании 5 установленпротивовес, выполненный в виде груза 9, пе ремещающегося по стержню 10, на которомустановлено ограничительное кольцо 11, На Верхнем конце стержня 10 закреплен визир 12, а на станине 8 установлен микроскоп 13.Устройство обеспечивает проведение изме репий в магнитном поле прц включении магнитной катушки 14, В этом случае все детали прибора изготавливают из парамагнитцых материалов.Образцы, подвергаемые исследованиям, ус та 11 авливают под вакуумным колпаком 15.Устройство работает следующим образом.Колебательной системе задается возмущение. При помощи микроскопа фиксируют текущие значения амплитуды затухающих коле баний, а секундомером фиксируют время, закоторое амплитуда колебаний уменьшается до определенного значения. Логарифмический декремент колебаний определяют как произведение величины, обратной произведению 25 частоты колебаний на время измерения, налогарифм дроби, в числителе которой значецие начальной амплитуды, а в знаменателе - текущей.Устрой ь о 30 простые анпню декремента на узких и широких лентахматериала. Предмет изобретенияУстройство для измерения логарифмического декремента колебаний материалов, содержащее подвижное и неподвижное основания с зажимами для крепления образцов, станину, вакуумный колпак и систему регистрации, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, основания выполнены в виде усеченных клиньев, при этом на подвижном основании установлен противовес, образующий вместе с ним инерционную систему, центр тяжести которой расположен на линии пересечения плоскостей испытываемых образцов.аказ 98/9ЦНИИ исное в СС Типография, пр. Сапунова,Изд. М 806 Тираж 740 Государственного комитета Совета Минис по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д 4/5

Смотреть

Заявка

1976766, 14.12.1973

ЛЕНИНГРАДСКИЙ ИНСТИТУТ ТЕКСТИЛЬНОЙ И ЛЕГКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ ИМ. С. М. КИРОВА

ЦОБКАЛЛО СЕРГЕЙ ОСИПОВИЧ, СУХАНОВ НИКОЛАЙ ЛИВЕРЬЕВИЧ, ШМАГОРЕВСКАЯ АЛЛА ВЛАДИМИРОВНА

МПК / Метки

МПК: G01H 1/04

Метки: декремента, колебаний, логарифмического

Опубликовано: 15.09.1975

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-484412-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-logarifmicheskogo-dekrementa-kolebanijj-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения логарифмического декремента колебаний материалов</a>

Похожие патенты