Прибор для количественного определения качества отражателей в светооптическом отношении

ф ласс 2 Ь, 3 1 РЮИ ГВУ 1 сВГР 3 0130 ПП йвтпчь 1 фЪ ЮМЛФВЫЪЪ ОПИСЯНИ рибора для количественн отражателей в свето-о вторскому свидетельству В,1935 года (спр. оого определен тическо 11 отн . Новикова, заяв еов.168717 я качествашении,енному 5 мая тября 1935 года. бликоваио 3 даче авторского свидетельства 177) Свето оптическое совершенство про. жекторных отражателей, как известно, определяется по совокупности его аберрационной дефективностью и степенью отражательной способности,В силу этого в технических условиях предусматриваются те или иные допуски на вышеуказанные признаки, а также упоминаются и те методы, помощью которых следует производить их исследование. 3 о настоящего времени не имеется таких поиемов и приборов, при помощи которых возможно было бы непосредственно выявлять общее свето-оптическое совершенство отражателей, а по-тому техническими условиями преду-сматриваются методы, позволяющиелишь раздельно выявлять вышеуказан-, ные признаки и давать количественнуюих оценку, Однако, имеется возможность ) по данным раздельного испытания при помощи формул вычислять значение некоторого коэфициента, условно выражающего общее свето-оптическое совершенство отражателя. Этот путь, хотя и имеет ряд преимуществ, страдает тем недостатком, что он достаточно кропот-лив и потому не может быть рекомендован для испытания отражателей в складах, частях и тому подобных случаях.Аберрационные качества отражателя с течением времени не меняются, и раз снятая аберограмма остается справедливой навсегда и потому изменение свето- оптического совершенства с течением времени зависит только от ухудшения отражательной способности зеркального слоя. Это явление может быть определено сравнительно просто при помощи рефлексометра Гуревича. Однако, этот прибор дает значение коэфициента зер. кального отражения лишь для некоторого весьма малого участка поверхности. отражателя, тогда как существенным является знать некоторое среднее значение коэфициента отражения. Вычисление среднего коэфициента отражения,. как средне-арифметического из ряда отдельных значений, не может дать верных показаний потому, что порочность зеркального слоя проявляется в виде крапин и пятен весьма причудливой формы, Все это заставляет разработать такой метод и прибор, при помощи которого являлось бы возможным производить следующие действия:1. Определять значения интеграль. ного коэфициента отражателя.2, Определять значения этого коэфициента для отдельных зон отражателя.3, Давать возможность получать значения некоторого условного коэфициента, характеризующего общее совершенство отражателя в оптическом отношении.4, Иметь возможность давать общуюоценку отражателя в свето-оптическомотношении.Ко всему этому следует добавитьтребование, что прибор должен позво.лять производить испытание отражателянепосредственно в кожухе прожектор.ного фонаря и быть сам по себе достаточно портативным,Всем этим условиям, по мнению изобретателя, удовлетворяет прибор, изображенный в схематическом виде на при-ложенном чертеже.Главной частью прибора являются.два интегрирующих полушара 1 и 2, изкоторых первый полушар 1 сравнениявоспринимает световой поток непо-,средственно от источника света 3, дру-гой в индикаторн полушар 2 перехва-тывает световой поток после отраженияего от зеркала. Освещенность, а следовательно и яркость визирных мест настенках интеграторов будет пропорциональна вышеуказанным световым потокам. Яркость визирных мест усматривается при помощи фотометрическогокубика 4, как два поля сравнения ви-зирной трубки 5.Источник света 3 помещается в особой коробке (барабане) 6, торцы которой представляют собойодинаковыедиафрагмы 7, благодаря чему достигается равенство световых потоков, излучаемых источником света 3 в сторонуотражателя и в сторону полушарасравнения. В силу этого обстоятельстваи наличия потерь в отражателе яркостьполей сравнения не будет одинакова, именьшей яркостью будет обладать яркость поля индикаторного полушара 2.Для того, чтобы получить фотометрическое равновесие со стороны полушарасравнения 1 вставляется фотометрический клин 8, отсчет по шкале которогоможет непосредственно давать значениеискомого коэфициента отражения.Из этой принципиальной схемы прибораясно видно, что его следует устанавливать- в районе двухфокусного расстояния ототражателя, причем оба полушара должны располагаться симметрично относительно оптической оси отражателя. Приэтом условии каустика отраженных лучей будет полностью перехватываться;индикаторным полушаром, Необходимо отметить, что если бы источник находился на оптической оси на двухфокусном расстоянии от отражателя, то отраженные лучи дали бы симметричную каустику, Так как в данном случае источник света смещен, то каустик а, вследствие явления комы будет дефор мирована, Чем ближе источник света будет к оптической оси, тем меньше будет эта деформация. Это следует учесть при детальной разработке конструкции прибора,Установка прибора для различных случаев производится следующим образом.1. Для определения значения интегрального коэфициента отражения прибор располагают примерно на двухфокусном расстоянии, причем особенно точной установки не требуется. Следует лишь соблюдать следующие условия:а) световой пучок (первичный), падающий на отражатель, должен полностью им перехватываться, что дости. гается подбором надлежащей диафрагмы; б) световое пятно от первичного светового потока должно располагаться на поверхности отражателя достаточно симметрично относительно его кромки, что достигается соответственным взаимным расположением прибора и отражателя; в) отраженный световой пучок (вторичный) должен полностью перехватываться индикаторным полушаром, причем совершенно не важно, где именно располагается каустика вторичного светового потока, перед полушаром или внутри него, так как результат светового интегрирования от этого не изменится.Если все эти условия соблюдены, то установка всей схемы является правильной,2. Для определения значения коэфициента отражения для отдельных зон установка выполняется в основном подобно изложенному, но только повышаются требования к симметричному расположению пятна, что поверяется по кромке отражателя. Затем при опытах устанавливают специальные кольцевые диафрагмы, В остальном это испытание не отличается от предыдущего.3, Для изучения отражателя в свето- оптическом отношении установка делается более тщательно. Для этогосперва располагают прибор так, чтобы световая ось конуса первичного светового потока совмещалась с оптической осью отражателя. Это выверяется тем условием, чтобы кружок наименьшего рассеивания отраженного пучка, т. е, вторичного, располагался на наружной диафрагме симметрично ее вырезу. Затем вставляют диафрагму, бросающую све. товой пучок только на кромку, и перемещают прибор вдоль оптической оси с тем, чтобы собрать отраженные лучи на центр диафрагмы, После этого открывают всю диафрагму и перекрывают ее весьма слабо матированным стеклом, при помощи которого можно отсчитать диаметр кружка наименьшего расстояния. Отношение этого диаметра к тео. ретическому и явится мерой совершенства отражателя в оптическом отношении,4, Для получения общей оценки отражателя в свето-оптическом отношении поступают следующим образом. Сперва юстируют прибор так же, как это было указано выше в п. 3. Затем смещают прибор в сторону настолько, чтобы центр каустики отраженного светового .потока пришелся на середину отверстия индикаторного полушара, которое перекрывается диафрагмой с заранее вычисленным круговым отверстием, Само собой понятно, что чем больше аберрационная дефективность отражателя, тем больше будет пятно каустики, и тем меньше световых лучей войдет в индикаторный полушар, следовательно и меньший отсчет получится в результате уравнения полей сравнения,На основании полученных данных можно уже по специальным формулам рассчитать значение искомого коэфициента,Предмет изобретения.1. Прибор для количественного определения качества отражателей в свето- оптическом отношении, отличакнцийся применением двух интегрирующих полушарий 1 и 2 и расположенного между ними фотометрического кубика 4 с визирной трубкой 5, служащего для сравнения яркости визирного места полушара 1 с яркостью визирного места измерительного полушара 2,2. В приборе по п. 1 применение, для получения фотометрического равновесия, фотометрического клина 8, шкала которого может быть проградуирована в значениях коэфициента отражения.