Установка для проверки параметров транзисторов

Номер патента: 311317

Авторы: Бабурин, Терентьев

ZIP архив

Текст

10 дают на нижний рычаг отсекателя, т. е. на позицию испытания. При движении каретки 7 в крайнее левое положение рассекатель б заходит между выводами транзистора и, находя на упор 8 и копир 9, распрямляет и разводит их. В разведенном состоянии выводы удерживаются в течение всего времени испытания. В это время толкатель 14 под действием кулачка 1 б начинает двигаться в крайнее правое положение, контакты 13, двигаясь по копиру 15, подходят к верхнему и нижнему выводам транзистора, сводятся и прижимаются к ним, подключение среднего вывода осуществляется через корпус транзистора на питатель 2,В момент остановки контактов переключатель 19 включает измерительную схему, Если отклонений измеряемых величин не обнаружено, электромагнит 21 не включается и, следовательно, разгрузочный лоток 20 находится в исходном положении. При отклонении измеряемых величин от нормы измерительная схема включает электромагнит, который поворачивает лоток 20 и удерживает его в таком положении до окончания цикла, в результате чего транзисторы падают в другую тару,После окончания измерения кулачковый переключатель 19 выключает измерительную схему, толкатель 14 с контактами И отходят в крайнее левое положение, а каретка 7 с рассекателем б - в крайнее правое положение. Кулачок 4, действуя на отсекатель 3, отводит его, освобождая путь транзистору, который по разгрузочному лотку 20 падает в соответствующую тару.Затем цикл повторяется. Предмет изобретения Установка для проверки параметров транзисторов, содержащая блок питания, измерительный блок, индикаторное устройство, механизм для ориентации и загрузки транзисторов, устройство для подключения транзисторов, отличающаяся тем, что, с целью повыше. ния производительности и надежности подключения транзисторов к измерительному блоку, устройство для подключения транзп. сторов выполнено в виде двух шарнирно соединенных рычагов, снабженных копиром и упором, осуществляющим разведение рычагов во взаимно перпендикулярных плоскостях, и двух подвижных контактов, перемещаемых копиром для прижима к выводам транзистора.Заказ 2678/12 Изд.1100 Тираж 473 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2

Смотреть

Заявка

1128885

А. Ф. Бабурин, Н. Н. Терентьев

МПК / Метки

МПК: H01L 21/66

Метки: параметров, проверки, транзисторов

Опубликовано: 01.01.1971

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-311317-ustanovka-dlya-proverki-parametrov-tranzistorov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Установка для проверки параметров транзисторов</a>

Похожие патенты