Способ определения ошибок одноразрядных

Номер патента: 211809

Автор: Проферансова

ZIP архив

Текст

ОПИСАН И ЕизовеИТЯНияК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 2 ИЗО 9 Союз Советских Социалистических Республикт Еоеоо:,оэ; а:; Зависимое от авт. свидетельства-л. 42 с 1, 2/О 967 ( 1148348/26-10) Заявлено 13.Ю с присоединени явки М МПК 6 01 Комитет по делам обретений и открытий ри Совете Министров СССРнори т -К 53.085.42(088.8 Опубликовано 968, Бюллетень8 та опубликования описания 19.1 Ч,1968 Авторизобретен. Проферансова-Ковалевска Заявител СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОШИБОК ОДНОРАЗРЯДНЫХМНОГОРАЗРЯДНЫХ ШКАЛ, ПОСТРОЕННЫХ ПО ПРИНЦИПЕРЕДОВАНИЯ ПРОЗРАЧНЫХ И НЕПРОЗРАЧНЫХ УЧАСТКОВ овая величино участка или угловаярозрачного 2, 4, 8, , 2 оказано устр ваемого спо ная или угл непрозрачног1 - линейнаяного или неп шкалы; г 1,На фиг, 1 пвления опись прозрачного или алон ной шкалы; еличина прозрачастка испытуемой йство дл ооа; на сущестиг.2 и Известные способы определения сшибок одноразрядных и многоразрядных шкал, построенных по принципу чередования прозрачных и непрозрачных участков, заключающиеся в сравнснии испытуемой шкалы с эталонной, пе обеспечивают универсальность контроля.Г 1 о предложенному способу положение границ участков испытуемых шкал сравнивают с положением границ участков одной эталонной дорожки путем совместного использования трех считывающих щелей, одну из которых располагают над проверяемой дорожкой испытуемой шкалы, а две другие - над эталонной, причем световые затворы периодически перекрывают эти две щели по программе, которую задают испытуемой шкалой.При осуществлении описываемого способа в качестве эталона применяется только одна дорожка, состоящая из чередующихся прозрачных и непрозрачных участков с одинаковым интервалом, причем 5 -- , где Я - линей 3 - расположение щелей и распределение световых потоков при проверке разряда, для которого г 2 (фиг, 2) и г=4 (фиг. 3).1-1 а перемещаемом столе 1 устанавливают 5 эталонную 2 и испытуемую 3 шкалы. Надэталонной дорожкой жестко крепят считывающую оптическую систему 4 со щелями а и в и затворами А и В. Над испытуемой шкалой на каретке суппорта б располагают оптиче скую считывающую систему б со щелями с, с 1и е.Перед началом проверки шкалу 3 юстируют и ориентируют относительно шкалы 2. При перемещении стола 1 сигналы от щелей д и е, 15 полученные с фотоприемников 7 и 8, поступают в устройства 9 и 10 управления световыми затворами А и В, Затворы периодически перекрывают световые потоки от щелей а и в, осуществляя изменение суммарного эталонно го светового потока с требуемой частотой.Эталонный световой поток от щелей а и в и световой поток от проверяемых границ, полученный со щели с, поступают на соответствующие фотоприемники 11 и 12 н возбуждают 25 на их выходе токи, пропорциональные этимпотокам. Определение ошибок границ испытуемой шкалы осуществляют сравнением этих токов в устройстве 13 сравнения, регистрируя результат с помощью индикатора 14. Подсвет ка осуществляется осветительными системами1 б и 1 б. При проверке многоразрядных шкал считывающую систему б перемещают для последовательной проверки разрядов перпендикулярно образующей шкалы.При контроле разрядов, у которых п=2, 4, 82, частота изменения потока с эталонной дорожки должна быть равна частоте изменения потока с проверяемой дорожки. Поэтому необходимо, чтобы изменение потока, получаемого с эталонной дорожки, происходило по такому же закону, что и изменение потока с каждой из проверяемых дорожек. С этой целью для съема сигналов с эталонной дорожки, вместо одной введены две щели аи в (фиг.2).Расстояние между осями щелей равно величине окна эталонной дорожки. Щели работают вместе или попеременно в зависимости от перекрывания потока, проходящего через них, от окон эталонной дорожки двумя световыми затворами по определенной программе.Программа должна быть составлена так, чтобы в периоды, когда мимо щели С проходят прозрачные участки проверяемой дорожки, обе щели а и в должны быть открыты световыми затворами. В этот период щели работают так, что их суммарный поток (Ра+ в) по длительности и амплитуде равен потоку Р, с проверяемой дорожки, а разница потоков 1(1 а+1 в) - Р 1 равна нулю, Разница потоков будет равна нулю до тех пор, пока границы участков проверяемойдорожки не будутиметь ошибок положения.Открывание и закрывание щелей а и в производится световыми затворами в моменты, когда они находятся на серединах прозрачных участков эталонной дорожки, Это является наиболее благоприятным с точки зрения надежности работы устройства.В качестве носителя программы для открывания и закрывания световых затворов используется сама испытуемая шкала. При этом световые затворы управляются сигналами, поступающими с каждой проверяемой дорожки, например от двух дополнительных щелей д и е. Последние расположены симметрично относительно щели с. Угловое расстояние между ними равно величине окна эталонной дорожки и, следовательно, одна из щелей работает с опережением, а другая с отставанием35 40 45 Способ определения ошибок одноразрядных и многоразрядных шкал, построенных по принципу чередования прозрачных и непрозрачных участков, заключающийся в сравнении испытуемой шкалы с эталонной. отличающийся тем, что, с целью универсальности контроля, упрощения и повышения точности изготовления эталонов, положение границ участков испытуемых шкал сравнивают с положением границ участков одной эталонной дорожки путем совместного использования трех считывающих щелей, одну из которых располагают над проверяемой дорожкой испытуемой шкалы, а две другие - над эталонной, причем световые затворы периодически перекрывают эти две щели по программе, которую задают испытуемой шкалой. относительно щели с на величину, равную половине ширины окна эталонной дорожки. При наличии сигнала на щели д или е, соответствующий световой затвор открыт и, таким об разом, открыта и соответствующая щельа илив. При отсутствии сигнала на щели д или е, соответствующие световые затворы закрыты и, таким образом, закрыты щели а.или в. Следовательно, частота перекрывания светового потока 10 каждым затвором определяется разрядностьюпроверяемой дорожки, а относительный сдвиг по фазе пропорционален расстоянию между щелями д и е, т. е, величине окна эталонной шкалы.15 При проверке разряда, у которого п=2,щель д управляет световым затвором щели в, а щель е - световым затвором щели д. При контроле последующих старших разрядов, для которых п=4, 82" (фиг. 3), при ука занной ориентировке эталонной шкалы относительно проверяемой щель д должна управлять световым затвором щели а, а щель е - световым затвором щели в. Щели практически достаточно узки, и поэтому фронты сигна лов можно считать прямоугольными, Как видно на фиг. 2 и 3 через щели а и в световой поток пройдет лишь в том случае, когда щель находится на прозрачном участке при откры том световом затворе.30Предмет изобретенияаказ 894/4 Тираж 530 ПодписноеЦИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр. Серова, д, 4 п=г

Смотреть

Заявка

1148348

М. В. Проферансова Ковалевска

МПК / Метки

МПК: G01D 13/16

Метки: одноразрядных, ошибок

Опубликовано: 01.01.1968

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-211809-sposob-opredeleniya-oshibok-odnorazryadnykh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения ошибок одноразрядных</a>

Похожие патенты