Образец для ультразвуковой дефектоскопии многослойных конструкций

Изобретение относится к акустическим методам неразрушающего контроля и может быть использовано при изготовлении контрольных образцов для настройки ультразвуковых УЗ) дефектоскопов при контроле многослойных конструкций, особенно 5 получаемых под воздействием температуры и давления, например УЗ теневым методом. Известен образец для УЗ дефектоскопии многослойных конструкций, выполненный в виде нескольких слоев с расположенными между ними имитаторами дефектов, включающими пакет из легкоплавкого материала, заполненный кристаллическим фенолом.Недостатком известного образца является недостаточно высокая точность получения заданного размера дефекта в процессе изготовления образца, поскольку фенол пе 20 реходит в газообразное состояние Наиболее близким по технической.сущности является образец для УЗ дефектоскопии многослойных конструкций, получаемых под воздействием теМпературы имитаторами дефектов, включающими пластинчатый ячеистый вкладыш и окружающую его оболочку, причем вкладыш выполнен из слоев стеклосетки, а оболочка выполнена из фторопластовой или полиэтиленовой пленки.Недостатком данного образца является недостаточно высокая точность получения заданного раскрытия дефекта в процессе изготовления образца, поскольку раскрытие искусственного дефекта меняется в зависимости от величины приложенныхтемпературы и давления. Целью изобретения является повышение точности получения заданного раскрытия дефекта в процессе изготовленвя образца за счет исключения возможности деформации вкладыша и оболочки под действием температуры и давления. 45На чертеже схематично представлен образец для УЗ-дефектоскопии многослойных конструкций, получаемых под воздействием температуры и давления,Образец для УЗ-дефектоскопии многослойных конструкций, получаемых под воздействием температуры и давлений, выполнен в виде нескольких слоев 1 с расположенными между ними имитаторами.дефектов. включающими пластинчатый ячеистый вкладыш 2 и окружающую его оболочку 3, Стенки ячеек вкладыша 2 выполнены сплошными из материала, температура плавления которого превышает температуру процесса производства конструкции,и давления, выполненный в виде нескольких слоев с расположеннымй между ними Оболочка 3 выполнена из материала, толщина Ь и модуль Е упругости которого удовлетворяют условию Ь = - ГЗ Р Б 2 Е-;р-где - максимальный размер ячейки в плоскости вкладыша 2;Р - максимальное рабочее давлениепроцесса изготовления конструкции;Я - площадь ячейки вкладыша 2;- максимально допустимый прогибоболочки 3 над ячейкой вкладыша 2;Ь - размер ячейки в плоскости вкладыша 2 в направлении, перпендикулярном направлению размера 1,Ячейки вкладыша 2 имеют, например,форму многоугольников.Образец для УЗ-дефектоскопии многослойных конструкций изготавливается, например следующим образом. Вофторопластовой пленке толщиной 0,4 мм заданного размера. например 25 х 25 м с помощью пуансона и матрицы пробиваютпрямоугольные отверстия, например квадратные 2,1 х 2;1 мм с расстоянием между ними 0,4 мм, Полученный таким образомвкладыш 2 заворачивают в один слой алюминиевой фольги толщиной 0,3 мм и заклеивают ее по периметру, формируя оболочку3. Имитатор закрепляешься в установленномместе образца между слоями 1, Затем образец подвергается процессу полимеризациипо технологии изготовления соответствующего изделия под давлением 10 кгс/см притемпературе 140-160 С, Толщина и модульупругости оболочки 3 выбраны удовлетворяющими максимально допустимому прогибу1 О,ООЗ мм.При теневом методе УЗ контроля дефектаскоп настраивают таким образом, чтобына бездефектном участке образца получиьсигнал на экране дефектоскопа определяеыой амплитуды, а в месте закладки имитатора сигнал отсутствовал или был значительноменьше,Используемый в образце имитатор может быть использован и в качестве накладного дефекта.Формула изобретения1, Образец для ультразвуковой дефектоскопии многослойных конструкций, получаемых под воздействием температуры идавления, выполненный в виде несколькихслоев с расположенными между ними имитаторами дефектов, включающими пластинчатый ячеистый вкладыш и окружающую егооболочку, о т д и ч а а щ и й с я том, что, сцелью повышения точности получения за1772732 Составитель В.Гондаревский Техред М,Моргентал Корректор Н,Ревская Редактор . Заказ 3843 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5.Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 данного раскрытия дефекта в процессе изготовления образца, стенки ячеек вкладыша имитатора дефектов выполнены сплошными из материала. температура плавления которого превышает температуру процесса производства конструкции, а оболочка имитатора дефектов выполнена из материала, толщина й и модуль Е упругости которого удовлетворяют условиюЬ= - ЛР Б2где - максимальный размер ячейки в плоскости вкладыша; Р - максимальное рабочее давлениепроцесса изготовления конструкции;Я - площадь ячейки;1 - максимально допустимый прогиб 5 оболочки над ячейкой;Ь - размер ячейки в плоскости вкладыша в направлении, перпендикулярном направлению размера 1. 10 2, Образец по п.1. о т л и ч а ю щ и й с ятем, что ячейки вкладыша имеют форму многоугольников.