Прибор для измерения локального коэффициента отражения громоздких образцов

Номер патента: 654853

Опубликовано: 30.03.1979

Авторы: Мазуренко, Скрелин, Топорец

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактный, высоты, непрозрачных, образцов, поверхности, фотометрический, шероховатости

...тем, что с целью повышения точности и упрощения процесса измерения последовательно измеряют сигналы от полного и диффузного отражения от поверхности изделия потоков и среднеквадратическую высоту шероховатости определяют по формуле где Л - длина волны облучающего пучка света;1 дифф, Гало/дн - СООТВЕТСТВЕННО СИГнаЛЫ ОТ диффузного и полного отраженных потоков;а=3,1416 - известная постоянная.На чертеже изображена принципиальная схема установки для реализации и предлагаемого способа.Установка содержит источник света 1(лазер), зеркало 2, экран 3, ловушку света 4, фотометрический шар 5 с отверстиями б - 9 и фотоприемник 10.Осуществляется предлагаемый способ следующим образом. Световой пучок, имеющий малое угловое расхокдение, от источника 1 с...

Номер патента: 299801

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Государственный, Грибко, Научно, Холодный

МПК: G01N 21/01

Метки: бетонного, образца, поверхности, прицельной, реплики

...это тем, что последний перед маркировкой раскалывают, выбирают участок, поверхность излома которого находится к поверхности шлифа под углом )90, и наносят прицельную реплику на этот участок и на граничащую с ним поверхность излома.Сущность способа заключается в следующем,Из исследуемого образца портландцементного клинкера готовят шлиф, полируют его, протр авливают.Затем шлиф раскалывают под любым углом к его полированной поверхности и для исследований выбирают ту часть образца, угол между поверхностью излома и поверхностью шлифа которого равен или больше 90. Под световым микроскопом на участке шлифа, граничащем с поверхностью излома, отмечают анализируемый участок с помощью твердоме ра ПМТ-З, в котором алмазная пирамидка...

Номер патента: 872959

Опубликовано: 15.10.1981

Автор: Скрелин

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактный, высоты, образцов, поверхности, прозрачных, фотометрический, шероховатости

...о определяемые, напр формулами Френеля, воначальном положе разца;Т 1 - коэффициент пропускания4измеряемой поверхности итолщи образца в первоначальном его положении;Т " сигналы от диффузного и1полного потоков, отраженных от поверхностей в первоначальном его положении, , г - коэффициенты зеркальногоотражения измеряемой и противоположной изповерхностей образределяемые, напримформулами френеля,перевернутом положеобразца;У - коэффициент пропуспротивоположной измой поверхности и ний за счет искажений, вносимых слоем при воспроизведении микрорельефа, и в ряде случаев делает непригодными образцы для эксплуатации.Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса измерения.Поставленная цель достигается тем, что после...

Номер патента: 1539523

Опубликовано: 30.01.1990

Автор: Чукалин

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, образцов, отливок, оценки, поверхности, шероховатости

...для образцов шероховатости, одну из которЫх обрабатывают дробью в режимах, соответствующих режимам, указанным на1539523 документов и на возможность их применения для оценки качества поверхности отливок после их обработкидробью. Составитель М.МининТехред Л,Олийнык Корректор М,Шароши Редактор А.Огар Заказ 207 Тираж 480 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 временно судят о достоверности режима, примененного для получения контролируемого образца шероховатости. Для уменьшения количесТва эталонных образцов в комплекте и упрощения способа в качестве первого эталонного образца...

Номер патента: 1523987

Опубликовано: 23.11.1989

Автор: Титов

МПК: G01N 29/00

Метки: волны, зависимости, коэффициента, образца, отражения, падения, поверхность, угла, ультразвуковой

...например, узкополосная фильтрация на высокой частоте либо синхронное детектирование и демодуляция с последующей низкочастотной фильтрацией, Далее регистрируют амплитуду и Фазу выделенных сигналов в зависимости от величины допплеровского сдвига, измеряя тем самым Функцию В(8)Р 11(8)Отсюда вычисляют коэффициент отражения Ч(9), плам апертурную Функцию Р О) иэначзль:и определяют либо путем калибровки, т.е. путем исследования материала с известным коэЬициентом отражения, либо другим известным способом,Формула изобретения пг,об измерения коэффициента отражения ультразвуковой волны в зависимости от угла падения на поверхность образца, заключающийся в том, гто направляют на исследуемый участок поверхности образца сфокусированную ;.родольную...