Способ диагностики и контроля качества изготовления электронных блоков

Номер патента: 1596290

Авторы: Моисеев, Померанцева

ZIP архив

Текст

А 1 СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН 119) 01)1)У С 01 К 31/28 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИПРИ ГННТ СССР Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(56) Авторское свидетельство СССР В 859974 кл. С 01 К 31/28, 979.Некрасов М.М. Неразрушающие метотоды обеспечения надежности РЭА, Киев,: Техника, 1980, с, 19-181.(54) СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ И КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОННЫХБЛОКОВ(57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контролекачества изготовления сложных электронных блоков, преимущественно с пе чатным монтажом. С целью повыщениядостоверности контроля качества изготовления и информативности диагностики электронных блоков с помощьютепловизионной системы 4 снимают температурные рельефы контролируемогоэлектронного блока 1 в переходномрежиме при наличии и отсутствии вибрационного воздействия, обеспечиваемого системой 5 задания случайнойвибрации и вибродинамическим стендом,затем производят их сравнение и поразности скоростей изменения температуры отдельных элементов (участков)определяют дефектные места контролируемого электронного блокас помощью блока 6 обработки информации,1 илИзобретение относится к контрольно-измерительной технике и можетбыть использовано для контроля качества изготовления сложных электрон 5ных блоков, преимущественно с печатным монтажем,. Целью изобретения является повьппение достоверности контроля качестваизготовления и информативности диагностики электронных блоков,Сущность способа заключается втом, что снимают картину изменениятемпературнаго поля блока в переходном режим,е (от момента включения додостижения установивщегося темпера". руного режима) без воздействия вибрации,. затем снимают картину изменениятемпературного поля блока в переход-.ном режиме при воздействии вибрации; 2 Опроизводят сравнение скоростей изменения температуры отдельных элементов(участков) блока и по.их разности судят о скрытых и потенциальных дефектах. 25При воздействии вибрации в случаеналичия непостоянства контактов периодически меняются режимы работыэлементов и величип 1 токов, протекающих по проводникам, что ведет кизменению термоэмиссии участков, работающих в периодическом режиме, посравнению с термоэмиссией этих жеучастков при нх работе в постоянномрежиме35 Способ диагностики и контроля качества изготовления электронных блоков, заключающийся в том, что воздействуют на контролируемый электронный блок механической вибрацией, регистрируют р аспределенне поток а элек" тромагнитного излучения по поверхнос" ти контролируемого электронного блока, о т л н ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повьппения достоверности контроля качества и информативности диагностики, электромагнитное измерейие контролируемого электронного блоВ случае отслаивания проводникаот основания печатной платы, из-заувеличения при вибрационном воздействии среднего зазора между ними,изменяются условия теплоотвода междуэтими И исправными участками провод)ников. При наличии внутренних дефек-.тов в проводниках и соединениях при. вибрационном воздействии в местах ихрасположения возрастает термоэлектроиная эммисия за счет отличия вэтих участках внутренних напряженийно сравнению с исправвюми участками.Использование в способе в качестве образцового . (эталонного) температурного поля исследуемого блока, снятого беэ воздействия вибрации, позволяет исключить методические погрешньсти обусловленные иеидентичностью55в установке элементов в образцовомиконтролируемом блоквх, отлйчием коэфФициентов бтражения элементов и токо-,проводящих дорожек в блоках,Сравнение скоростей изменения температуры в переходном режиме позволяет исключить влияние различия температуры окружающей среды и выявить наиболее ""тонкие".дефекты обусловленные тем,что в стационарном режиме по сравнению с переходным происходит относительное усреднение температуры различных участков исследуемого блока.На чертеже изображена блок-схемаустройства для реализации способа,Устройство содержи)г исследуемыйблок 1, электродинамический вибростенд 2, источник 3 питания, тепловизионную систему 4, систему 5 задания случайной вибрации, блок 6 обработки измерений,Устройство работает следующим об -разом,Исследуемый электронный блок 1 ус-танавливается на платформе электродинамического вибростенда 2 и подаетсяпитание от источника 3 питания. Одновременно с подачей питания на исследуеый блок проводится термографкрование его изображения с помощью тепловизионной системы 4 с регистрациейи запомкнанем изображения на видеомагнитофоне.Затем исследуемый электронный блок1 отключают от источника 3 питания,создают механическое воздействие Йаблок с помощью системы 5 задания случайной вибрации и вибродинамическогостенда 2 и, повторно подав питание наэлектронный блок 1, проводят термографирование его изображения.Далее с помощью блока 6 обработкиинформации определяют скорость изменения температуры отдельных участковблока при наличии и отсутствии вибрационного воздействия и по ее разности определяют дефектные участки,Формула изобретенияСоставитель В.Степанкин Техред М,Дндык Корректор М. Пожо Редактор М.Бандура Заказ 2908 Тираж 562 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раущская наб., д, 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина 101 5159 ка регистрируют в инфракрасной области спектра, перед воздействием меха"нической вибрации подают на контролируемый электронный, блок;напряже" ния питания и за время, меньшее тепловой постоянной электронного блока, регистрируют и запоминают первое распределение потока электромагнитного излучения по поверхности ИЬнтоолируемого электронного блока, регистра" цию второго распределителя потока электромагнитного излучения при воэ 6290 6действии механической вибрации осуществляют после повторной подачи напряжения питания, за время, меньшее тепповой постоянной электронного блока, сравнивают первое и второе распределения потока электромагнитного излучения по поверхности контролиру" емого электронного блока и по точкам различия. первого и второго распределений контролируют качество и диаг- .ностируют неисправности контролируемого электронного блока.

Смотреть

Заявка

4444089, 18.04.1988

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2942

МОИСЕЕВ ЛЕОНИД ФЕДОРОВИЧ, ПОМЕРАНЦЕВА ИРИНА ИННОКЕНТЬЕВНА

МПК / Метки

МПК: G01R 31/308

Метки: блоков, диагностики, качества, электронных

Опубликовано: 30.09.1990

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1596290-sposob-diagnostiki-i-kontrolya-kachestva-izgotovleniya-ehlektronnykh-blokov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ диагностики и контроля качества изготовления электронных блоков</a>

Похожие патенты