Способ установления хронологической последовательности накопления донных отложений
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1539659
Автор: Ярных
Текст
)5 С 01 И 33/24, 1/ ИОАН ТЕНИЯ А ВТОРСНОМУ ЛЬСТВУ с и И нженер- пределе етение относится разом. тик иловых т быть исколонку с образцома, поднимают ня л Отбирают дна водо сть, измех при опредеимости водоых озер)а также морн одо ряют мощности стру ально наблюдаемыми и бесструктурной дсчитывают число звизу оями т,е. выми част етных Рделени на прир колон визуа и, поьно г но яется повыше чности снов Зате всей вы фик зяв от высо гря сти я це со пло еже приведена кри ки иля по высоте ти кол ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР(56) Патент США Ф 3534605,кл. С 01 Р 23/14, 1971,Перфильев Б.В. К методике изучения иловых отложений. - Труды Пресноводной Бородинской станции. т. Ч,1972.(54) СПОСОБ УСТАНОВЛЕН 1 И ХРОНОЛОГИЧЕСКОЙ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ НАКО 1 ШЕНИЯДОННЫХ ОТЛОЖЕНВ(57) Изобретение относится к обла тиинженерного грунтоведения и можетиспользоваться для определения интенсивности заносимости водоемов, оценки их возраста. Цель изобретения -повышение информативности и точностиспособа, После отбора пробы отлоному грунтованию, касает ния физических хяряктери отложений в озерах и мож пользовяно, в частности, ленни интенсивности зано хранилищ, стариц (поймен при оценке их возрастов, жет быть применено для о антропогенных воздействи ную среду,Целью изобретения явл ние информативности и тоб жений со дна водоема в виде колонки ила измеряют мощности структурной и бесструктурной частей колонки и определяют плотность ила по всей высоте с последующим построением зависимости плотности от высоты. По полученным данным определяют время накопления бесструктурного слоя отложений(и) по вормуле п=И Р /Р , где Р и Р - площади эпюр плотности соответственно бесструктурной и структурной частей колонки отложений, см. Используя кривую плотности ила по высоте колонки, толщины годовых слоев ЬЬ приводят к единой шкале по Формуле ЬЬ =Й 1, )/)ц, где 5 Ь 1 - измерен- р ная толщина годового слоя отложений,принятого за эталонный, см; 1 и соответственно плотности отложений, в рассматриваемой точке и слоя, пр - ( нятого за эталонный, г/смз, 1 ил. особ осуществляют следующим обдовых слоев в структу ) и измеряют их толщи определяют плотность ил оте колонки (1) и строят симости измеренной плотн ы колонки Р=Г(Н)ЬЬо В бесструктурной части колонкивремя накопления ила (и) определяютпо формулеи= - -. 5Г,где И - число заметных визуально годовых слоев в структурной части колонки отложений;Г,Г - площади эпюр плотности соответственно бесструктурной иструктурной частей колонкиотложений, определяемые пографику, см,В структурной части колонки хронологический ряд восстанавливается погодовым слоям. Используя кривую плотности иля по всей высоте колонки,толщины годовых слоев на рассматриваемой высоте Ь приводятся к единойшкале по плотности:Ь 1 Р 6ЬЬ = -огде ЬЬ - приведенная к единой шкалеотолщина годового слоя отло- р 5жений на рассматриваемойвысоте колонки, см;ЬЬ - измеренная толщина годового слоя отложений, принятого за эталонный, см;ЗО- плотность нижней части колонки отложений в рассматриваемой точке, г/см;и - плотность отложений слоя,принятого эа эталонный,г/см, 35 На чертеже приведена кривая плотности колонкиила, полученной со дна . озера Красавица (Карельский перешеек), для которой был применен ранний способ установления хронологической последовательности накопления донных отложений. 45Изобретение позволяет получать достоверные данные по Формированию или на дне озер, водохранилищ, стариц в естественных условиях и при антропогенном влиянии на водоем, а также приводить толщины слоев к единой (по плотности образца) шкале, что дает возможность оценить интенсивность отложений ила как в далекомпрошлом, так и в настоящее время..Формула изобретения Способ установления хронологической последовательности накопления донных отложений преимущественно в зонах водоема с ограниченными глубинами, включающий отбор проб отложений в виде колонки, выделение годичных слоев в структурной части колонки, определение их толщины и последующую .обработку полученных данных, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения информативности и точности способа, после отбора пробы измеряют мощности структурной и , бесструктурной частей колонки, дополнительноо определяют плотность отложений по всей высоте колонки с последующим построением графической зависимости измеренной плотности от высоты, после чего по полученным данным определяют время накопления бесструктурного осадка колонки и приведенную к единой шкале мощность годового слоя отложений структурной части колонки по формуламИГ с, Ьпб Р 6и иЬфГагде и - время накопления бесструктурного слоя отложений, год;М - число заметных визуально годовых слоев в структурнойчасти колонки отложений, год; площади эпюр плотности соответственно бесструктурной и структурной частей колонки отложений, см 2 (определяют по графической зависимости); приведенная к единой шкале толщина годового слоя отложений на рассматриваемой высоте колонки, см;измеренная толщина годового слоя отложений, принятого за эталонный, см;плотность отложений в рассматриваемой точке, г/см; плотность отложений слоя, принятого за эталонный, г/смз.1539659 Составитель 1.Мартыноваедактор М.Циткина Техред М.Ходанич Коррект Цемар суда о одственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 1 Про ЗаказВНИИПИ Тираж 503венного комитета по113035, Москва, ЖПодписноетениям и откр ская наб., д,иям при ГКНТ СССР
СмотретьЗаявка
4272993, 13.05.1987
БЛ. Ярных и Н. А. Ярных
ЯРНЫХ БЕРТА ЛЕЙБЕРОВНА, ЯРНЫХ НИКОЛАЙ АЛЕКСЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 1/00, G01N 33/24
Метки: донных, накопления, отложений, последовательности, установления, хронологической
Опубликовано: 30.01.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1539659-sposob-ustanovleniya-khronologicheskojj-posledovatelnosti-nakopleniya-donnykh-otlozhenijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ установления хронологической последовательности накопления донных отложений</a>
Предыдущий патент: Способ испытания образца грунта и устройство для его осуществления
Следующий патент: Способ определения липкости грунтов
Случайный патент: Устройство для приема многопозиционных сигналов