Радиотелескоп с автоматической регулировкой поверхности отражателя
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 142702
Автор: Соколов
Текст
Ло 142702 Класс 21 а", 46 в 2 Н А 870 РСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Подписна.ч гоуппа Л 89 А. Г, Соколов РАДИОТЕЛЕСКОП С АВТОМАТИЧЕСКОЙ РЕГУЛИРОВКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ОТРАЖАТЕЛЯЗаявлено 27 июня 1960 г за М 67627/26 в Комитет по делам изобретений н открытий при .ове е д.иннеив Х;оОпуб.чиковано в Бюллетене изобретений Ъе 22 за 1961 г. Радиотелескопы с автоматически регулируемой поверхностью отражателя, состоящие из перемешаюшихся щитов, расположенных на несущих конструкциях радиотелескопа известны. Основной трудностью, возникавшей при сооружении современных радиотелескопов. является необходимость обеспечения требуемой точности поверхности отражателя и корректировки положения перемещающихся щитов.Предлагаемый радиотелескоп отличается от известны тем, что позволяет производить автоматическую корректировку положения подвижных щитов и обеспечивает высокую точность поверхности отражателя. Это достигается применением источника световых лучей, постоянно направленных с помощью линз на фиксированные точки теоретической поверхности радиотелескопа. При искажении поверхности отражателя фотоэлементы, закрепленные на фиксированных точках, включают механизм перемещения.На фиг. 1 показана (в плане) схема расположения шитов; на фиг. 2 - схема направления лучей на фиксированные точки.Отражатель радиотелескопа выполнен из отдельных, независимых, автоматически регулируемых во время эксплуатации шитов 1. В каждом щите установлена группа из двух фотоэлементов, места установки фотоэлементов обозначены цифрой 2. Эта группа фотоэлементов дает сигнал для выверки узла пересечения всех щитов данной точки, укрепленных на опорной плите, регулируемой специальныд 1 механизмом перед 1 ещения, включа 1 ошимся в зависимости от сигнала фотоэлемента. Сигнальный центр, управляющий механизмом перемещения, расположен в точке 3.Автоматическая корректировка положения подвижных щитов, от которого зависит точность поверхности отражателя, производится следуюшим образом. Световые пучки из специальной камеры 4 через длиннофокусные линзы 5 направляются в заданные точки б поверхности ра142702диотелескоп 4 а Ца равном расстоянии от каждой из этих фиксированныхточек теоретРЙской поверхности радиотелескопа в направлении нормалик поверхности,;уатайвйивадтся два фотоэлемента: верхний 7 и ниж,с,ний 8. Расстояниед 4 кМду фотоэлементами Л = -- , Все пучки направ 20ленного; через; И"нзЬ 1 ййта всегда имеют определенное направление,следовательно,. нри деформации несущих конструкций телескопа каждый пучок света будет пересекать один из фотоэлементов, сигнал которого будет приводить в движение механизм перемещения, который восстановит подвижной щит в необходимое теоретическое положение.Спектр светового пучка должен быть выбран так, чтобы внешниесигналы солнечного и других излучений, отраженные от поверхности,были отличны от излучаемого из камеры 4, и механизм перемещениясрабатывал бы лишь от него.Предмет изобретенияРадиотелескоп с автоматической регулировкой поверхности отражателя, состоящий из перемещающихся щитов, расположенных на несущих конструкциях радиотелескопа, отл ича ющи йс я тем, что, с целью корректировки положения подвижных щитов и обеспечения высокой точности отражения, используют источник световых лучей, постоянно направленных с помощью линз на фиксированные точки теоретической поверхности радиотелескопа, на которых закреплены фотоэлементы, включаюШие при искажении поверхности механизм перемещения.сдормат ом. 0 л,106,6 Тираж 760 ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Центр, М. Черкасский пер., д. 216 ьТипокрафия ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий ири Совете Министров СССР, Москва. Пстровка,
СмотретьЗаявка
671627, 27.06.1960
Соколов А. Г
МПК / Метки
МПК: H01Q 15/14
Метки: автоматической, отражателя, поверхности, радиотелескоп, регулировкой
Опубликовано: 01.01.1961
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-142702-radioteleskop-s-avtomaticheskojj-regulirovkojj-poverkhnosti-otrazhatelya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Радиотелескоп с автоматической регулировкой поверхности отражателя</a>
Способ контроля поверхности параболического отражателя
Номер патента: 1545269
Опубликовано: 23.02.1990
Авторы: Бутаков, Бутакова, Лесников
МПК: H01Q 15/16
Метки: отражателя, параболического, поверхности
...затемзонд 2 дискретно перемещают от поверх ности вдоль фокальной оси 00, на рас-;стояние, равное глубине параболического отражателя 1, посредством направляющей линейки 3. После каждого перемещения меняют угол наклона электрической оси зонда 2 путем его поворо.та и находят максимальную величинукоэффициента отражения, Определяютточки дефектов поверхности параболического отражателя по отклонению величины коэффициента отражения от зависимости1Р(х) ро 1+2 х/р40 где Р - коэффициент отражения приполокении зонда 2 точечногоисточника и точечного приемника на расстоянии р от вершиныФ45Р(х) - коэффициент отражения при.полокении зонда 2 точечногоисточника и точечного приемника на расстоянии р+х отвершины параболического отра жателя 1;р - параметр...
Устройство для контроля неполированных поверхностей антенных отражателей
Номер патента: 1388712
Опубликовано: 15.04.1988
Авторы: Бархударов, Лорецян, Петросян
МПК: G01B 11/24, G02B 27/54
Метки: антенных, неполированных, отражателей, поверхностей
...чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого устройства.Устройство содержит осветительный блок в виде двух параллельно установ ленных лазеров 1 и 2 соответственно видимого и инфракрасного диапазонов волн, проекционную систему в виде последовательно установленных вогнутого сферического зеркала 3 с цент ральным отверстием, выпуклого сферического зеркала 4, ориентированного так, что его выпуклая поверхность обращена к вогнутой поверхности вогнутого сферического зеркала 3, плоско го зеркала 5, установленного в фокальной плоскости вогнутого сферического зеркала 3, набора диафрагм 6, установленньм в плоскости промежуточного изображения осветительного бло ка, и прямолинейного ножа 7 Фуко,установленного в той же плоскости, и...
Способ контроля формы отражающей поверхности зеркальных отражателей
Номер патента: 1551989
Опубликовано: 23.03.1990
Автор: Гусев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/021
Метки: зеркальных, отражателей, отражающей, поверхности, формы
...и парлельной плоскости фотопластинки 8, 1551989М СМ.1 ЛС Г1-56 ва величПу а. Перед третьей экспозицией зеркальный отражатель .6 смещается на величину а симметрично относительно своего первоначального по 5 ложения и так далее, причем перед каждой последующей экспозицией величина перемещения кратна величине а.При восстановлении записи проявленную фотопластинку освещают плоской когерентной волной от источника, используемого при записи, и в фокаль" ной плоскости линзы, установленной за Фотопластинкой, получают картину периодически чередующихся узких интерференционных полос, По результатам измерения периода повторения аХ опре-. деляется радиус кривизны сферического зеркала К = 2 аХ 1/Ю ), где 1 - расстояние от плоскости, проходящей...
Устройство для регулировки положения щитов отражающей поверхности радиотелескопа
Номер патента: 1716583
Опубликовано: 28.02.1992
Авторы: Ашукин, Кармазин, Поляк, Синкевич
МПК: H01Q 1/00
Метки: отражающей, поверхности, положения, радиотелескопа, регулировки, щитов
...на внешней части шпильки и связан с ее внутренней частью, предназначенной для опирания щита отражающей поверхности,2, Устройство по п.1, о т л и ч а ю щ е ес я тем, что фиксатор взаимного положения внутренней и внешней частей шпильки выполнен фрикционным. 50 Составитель Е. СамохинаТехред М.Моргентал Корректор С, Шевкун Редактор Н. Шитев Заказ 617 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 Изобретение относится к антенным сооружениям, преимущественно с блочнымпостроением зеркала.Цель изобретения - повышение точности регулировки,На чертеже показано устройство,...
Способ контроля коэффициента зеркального отражения локализированных участков поверхности крупногабаритных отражателей
Номер патента: 1167481
Опубликовано: 15.07.1985
Автор: Дубиновский
МПК: G01N 21/55
Метки: зеркального, коэффициента, крупногабаритных, локализированных, отражателей, отражения, поверхности, участков
..., 4,жение точки 11 анализа, а ось 12анализа направлена параллельно осиотражателя,Относительное движение точки ана лиза и следа отраженного пучка наповерхности анализа возможно вдвух режимах: синфазный режимч,=ч х (ц=к, с);у И)у, ц,либо асинхронный режим .аь с отрЧ 7 Чгде Ч - линейная скорость перемеинщения точки анализа;Ч - линейная скорость перемещения следа отраженногопучка;нотр И 1(Ц - текущие координаты следа отротраженного пучка в плоскости анализа;Х (1)у (ц- текущие координаты точки ан ананализа.В синфазном режиме необходимо обеспечить синфазность текущих положений следа отраженного пучка в плоскости анализа и точки анализа. В том режиме выдается инфор-мация о КЗО по всей поверхности отраже.шя без пропусков.В асинхронном...
Предыдущий патент: Способ приема двухполосного am сигнала с подавленной несущей
Следующий патент: Свч генераторное устройство качающейся частоты
Случайный патент: Тампонажный раствор