Способ сортировки образцов руды по содержанию в них определяемого элемента

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН 01 3 23/2 АНИЕ ИЗОБРЕТЕН АТЕН фоновой радиации при опредеинтенсивности вторичного излу образцов, подвергающихся сор Цель - повышение точности и. ости измерения содержания цен нералов в поверхностном слое а, Интенсивность фона и втори злучения (характеристического новского излучения элемента, го в определяемый минерал, атнорассеянного образцом перизлучения) определяют из ых интенсивностей пика втори лучения и фона, измеренныхи той же области спектра ого излучения двумя каналами ширины. Отношение этих велижит параметром, по которому яют содержание ценного мине- поверхностном слое образца.ф - лы. 2 ил. учет ле чения ровке надеж ных м образ т я иКай ного и рентге входящ и У 2033618 А,или обрвичногосуммарнного изв однойв 7 оричнразнойчин слуопределрала в ультаты се нтгеноради ветнь 9-101 АРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ(72) Хейкки Йоханнес СиЮхани Лааманен (Е 1)(56) Патент Великобритакл. С 01 М 23/223, 1981Балдин С.А, а др. Репарации оловянных руд рметрическим способом.металлы, 1981, Р 12, с,(54) СПОСОБ СОРТИРОВКИ ОБРАЗЦОВ РУДЫПО СОДЕРЖАНИЮ В НИХ ОПРЕДЕЛЯЕМОГОЭЛЕМЕНТА(6) 1 1417Изобретение относится к способаманализа состава вещества с помощьюрентгеновского или гамма-излучения,особенно к способам сортировки русды рентгенорадиометрическим или гамма-гамма-методом.Цель изобретения - повышение точ"ности и надежности измерения содержания определяемого элемента в по 1 Оверхностном слое образца.На фиг. 1 изображена схема устройства, на котором может быть осуществлено изобретение; на фиг, 2схема выбора положений и ширин каналов регистрирующего устройства.Источник 1 гамма-излучения облучает образец 2 руды, свободно падающий мимо детектора 3, регистрирующего вторичные излучения от образца, 20Детектором 3, помещенным в защитныйэкран 4, может быть, в частности,сцинтилляционный счетчик в спектрометрическом режиме, соединенный сдвухканальной регистрирующей схемой(не показана). Спектр вторичногоизлучения при рентгенорадиометрической сортировке содержит пик характеристического рентгеновского излучения определяемого элемента, входящего в. ценный минерал, и непрерывнораспределенное в этой же областиспектра фоновое излучение, образованное в основном комптоновским рассеянием первичного излучения. При сортировке образцов гамма-гамма-методомспектр вторичного излучения содержит пики обратно рассеянных образцов в первичных излучений и Фоновоеизлучение,На изображенной на Фиг. 2 частиспектра вторичного излучения показан выбор. положений и ширин каналовдвухканальной регистрирующей схемы.Центры каналов совпадают между собою и с центром пика вторичного излу чения, лежащего на "подкладке" Фона.Согласно изобретению первый (1) канал региструющей схемы выделяет суммарную интенсивность (1) пика вторичного излучения (пик выделяют целиком), например, характеристического рентгеновского излучения определяемого элемента и фон под ним. Второй канал (11) значительно большейширины выделяют тот же пик вторичного излучения целиком и Фоновоеизлучение большей интенсивности (1).Обозначим интенсивность характеристического рентгеновского излучения 802 2как Р, Фонового излучения, регистрируемого первым каналом, как Т и регистрируемого вторым каналом как КТ, где К ) 1Тогда 1, = Р+ Т (1)1 р = Р + КТ . (2)Вычитая выражение (2) из выражения (1), получаем 11 = Т(К)Интенсивность фойовой радиации Т описывается выражением Из выражений (1) и (2) получаем следующее выражение для интенсивности рентгеновской Флуоресценции Р Отношениеинтенсивностей Р и Т служит параметром, по которому определяют содержание определяемого элемента на поверхности анализируемогообразца 2, По значению параметраР/Т анализируемый образец сортируется как руда или как пустая порода взависимости от того, превысил ли онзаданный критерий сортировки илинет Формула изобретения 1. Способ сортировки образцов руды по содержанию в них определяемого элемента, заключающийся в облучении образцов руды излучением с энергией, достаточной для возбуждения характеристического рентгеновского излучения определяемого элемента по крайней мере от одного источника излучения, регистрации спектрометрическим детектором с двухканальной схемой регистрации суммарной интенсивности 1 пика вторичного излучения от образца и фона, о т - л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности и надежности определения содержания определяе. - . мого элемента в поверхностном слое образца, дополнительно регистрируют суммарную интенсивность 1 ц пика вторичного излучения и Фона более широким, чем первый, каналом регистрирующей схемы, центр которого совпадает с центром первого канала,.используют измеренные интенсивности1417802 Г 1и Т - для вычисления интенсивностей вторичного излучения Г.и фона Т, а о содержании определяемого эле. мента судят по значению отношения Г/Т.2. Способ по п. 1; о т л и ч аю щ и й с я гем, что в качестве детектора вторичного излучения от образца руды используют сцинтилляционный детектор.3, Способ по п. 1,ипи 2, о т - л и ч а ю щ и й с я тем, что выбирают энергию гамма-излучения источника в диапазоне от 300 до 660 кэв.