Способ измерения высокого напряжения
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1386918
Авторы: Боярин, Журавлев, Куземченко, Ярославский
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК а) 401 К 1507, 9/00 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЙцН А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУл(71) Всесоюзный научно-исследовательский институт метрологической службы(56) Патент США3621390, кл. 324 - 96, 1973.Шваб А. Изменения на высоком напряжении. М.: Энергоиздат, 1968.(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВЫСОКОГО НАПРЯЖЕНИЯ(57) Изобретение может быть использовано при создании средств измерения высокого напряжения (ВН), Цель изобретения - повышение точности измерений за счет сведения к минимуму влияния искажений в рас. пределении электрического поля, вызван.ЯО 1386918 А 1 ных наличием объемных зарядов в электро- оптических средствах измерений ВН. Поставленная цель достигается многократным пропусканием линейно поляризованного светового луча через оптически прозрачную зону (ОПЗ) так, чтобы эффект изменения состояния поляризации луча под действием измеряемого ВН был суммарным. Причем путь луча организован так, чтобы в ОПЗ он представлял собой множество отрезков прямой линии, равномерно распределенных в плоскости, пересекающей ОПЗ вдоль направления поля, создаваемого измеряемым ВН. При такой организации пути луча состояние его поляризации на выходе из ОПЗ зависит от интеграла напряженности поля, т.е. от измеряемого ВН, благодаря чему устраняется погрешность измерения ВН, вызванная искажениями в распределении напряженности поля. 1 ил.Изобретение относится к способам измерений высокого напряжения и может быть использовано при создании средств измерений высокого напряжения.Цель изобретения - повышение точнос ти измерений за счет устранения влияния искажений в распределении электрического поля, вызванных наличием объемных зарядов.На чертеже изображено устройство, реализующее предложенный способ.Устройство содержит источник 1 излучения, поляризатор и анализатор 2, электрооптическую ячейку 3, заполненную электрооптической средой, пространство между электродами которой заполнено веществом, обладающим поперечным электрооптическим эффектом, отражательные элементы 4, разворачивающие луч и изменяющие состояние поляризации луча на фиксированную величину, не зависящую от состояния падающего луча, фазовую пластину 5, фотоприемник 6 и регистрирующее устройство 7.Способ осуществляется следующим образом.Луч от источника 1, приобретая необходимую ориентацию плоскости поляризации в поляризаторе 2, поступает на вход электро- оптической ячейки 3. Отражаясь элементами 4, луч многократно проходит через оптически активную зону ячейки, при этом фазовый сдвиг, приобретаемый лучом в электрическом поле, увеличивается от прохождения к прохождению. Пройдя через фазовую пластину 5, которая компенсирует фазовые сдвиги, возникшие в элементах 4, луч попадает на анализатор 2, где фазовую модуляцию луча преобразуют в амплитудную 35 модуляцию. Интенсивность вышедшего из анализатора 2 света преобразуют фотоприемником 6 в электрический сигнал и регистрируют и измеряют устройством 7.Фазовый сдвиг между обыкновенной и 4 О необыкновенной составляющими оптического луча в идеально однородной ячейке под действием приложенного напряжения может быть определен в случае линейного электрооптического эффекта по формуле1= К 1 Р, (1) 45 где К - коэффициент пропорциональности,зависящий от свойств рабочего вещества преобразователя;- расстояние, пройденное лучом в рабочей зоне ячейки; зЕ - напряженность электрического поля в ячейке.Если в рабочей зоне ячейки имеет место неоднородность поля, тоир=К 21 (Е+ дЕ,), (2) где Е - средняя напряженность поля, равная 0/д (д - расстояние между электродами ячейки; 0 - приложенное напряжение);- длина 1-го отрезка пути луча;дЕ; - отклонение напряженности поля на1-м отрезке от среднего значения;й - число отрезков.Очевидно, что при ЬЕ,(- Е (соотношение, которое в большинстве случаев выполняется достаточно хорошо) при увеличении ММ,ЕдЕ, -+ОСтПри этом (2) приобретает виду=КЕ Х 1;,т,е. влияние неоднородности устраняется.Формула изобретенияСпособ измерения высокого напряжения, заключающийся в том, что световой луч поляризуют, пропускают сквозь электрооптическую среду, обладающую поперечным электрооптическим эффектом, к которой прикладывают измеряемое напряжение, анализируют выходное излучение и измеряют его интенсивность, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений за счет устранения влияния искажений в распределении электрического поля, вызванных наличием объемных зарядов, световой луч пропускают сквозь жидкую и электрооптическую среду по траектории, представляющей собой множество отрезков прямой линии, равномерно отстоящих друг от друга в поперечном сечении, ортогональном направлению электрического поля, создаваемого измеряемым напряжением в жидкой электрооптической среде, при этом в каждом отрезке поляризуют световой луч так, чтобы действие электрического поля измеряемого напряжения на поляризацию луча было суммарным.Составитель В. СтепТехред И, ВересТираж 772о комитета СССР по делаква, Ж - 35, Раушскаяфическое предприятие, г. У Редактор В. ДанкоЗаказ 1220/44ВНИИПИ Государственно113035,МосПроизводственно полигра нкинКорректор И. ЭрдейиПодписноем изобретений и открытийаб., д. 4/5жгород, ул. Проектная, 4
СмотретьЗаявка
4030114, 27.02.1986
ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ СЛУЖБЫ
БОЯРИН НИКОЛАЙ АРКАДЬЕВИЧ, ЖУРАВЛЕВ ЭРНЕСТ НИКОЛАЕВИЧ, КУЗЕМЧЕНКО ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ, ЯРОСЛАВСКИЙ ВИТАЛИЙ НАТАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 15/24, G01R 19/00
Метки: высокого
Опубликовано: 07.04.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1386918-sposob-izmereniya-vysokogo-napryazheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения высокого напряжения</a>
Предыдущий патент: Индуктивный делитель напряжения
Следующий патент: Бесконтактный датчик тока
Случайный патент: Способ массовой кристаллизации