Устройство для испытания тензорезисторов при низких температурах в магнитном поле

Номер патента: 1375947

Авторы: Бондарева, Денега, Дубровин

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН 801375 ц 4 Ст 01 В 7/1 ЕНИЯ ВТОВСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ вышени чност тения является пизмерений, увелигих деформаций пего неизменныхвышения однороднго состояния. Дл.И.Денега апазо езоэлемента пр 8.8 Сг а счет поапряженноьезоэле-. азмера сти ег уооегш тог ИСПЫТАНИЯ ТЕНЗОХ ТЕМПЕРАТУРАХ виде кольца с пе ластины, установ ярно оси тяг 6 и мент 8 выполненмычкой 9 в виделенной перпендик11 с возможность угетф-лы поворота Перемычка нной. 1 з относ ся к измери деформаций оси ее симметрии.быть выполнена см1 ил. азначенных дл змере 3 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ ОПИСАНИЕ ИЗО(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯРЕЗИСТОРОВ ПРИ НИЗКИВ МАГНИТНОМ ПОЛЕ(57) Изобретениетельной технике кони применяется длзисторов, предн я испытании тензореия деформаций при низких температуах в магнитном поле. Целью изобре 1375947Изобретение относится к измерительной технике, а именно к техникеконтроля деформаций, и применяетсядля испытаний тензорезисторов,предназначенных для измерения деформаций при низких температурах в магнитном поле.Целью изобретения является повыше ние точности измерений, увеличение 10диапазона упругих деформаций тензоэлемента при его неизменных размерахза счет повышения однородности егонапряженного состояния,На чертеже представлено предлагаемое устройство, разрез.Устройство для испытания тензорезисторов содержит криостат 1,в котором размещен соленоид 2,установленный коаксиально последнему, корпус 3, кожух 4, нагружающий механизм5, соединенный через активную силовую тягу 6 и шарик 7 с нижней упорной площадкой тензоэлемента 8 дляразмещения тензорезисторов. Тензоэлемент 8 представляет собой кольцос перемычкой 9, выполненной в видепластины, на поверхность которойнаклеены тензорезисторы 10, установленной с возможностью поворота вокруг оси ее симметрии. Плоскость наклона перемычки в приведенном примереконкретного исполнения выполнена,перпендикулярной продольной осисоленоида 2, т.е. на тензорезисторы воздействует поперечное магнитное поле.С изменением угла наклона перемычки меняется и уголвоздействия магнитного поля на тензорезисторы. 40 Верхней упорной площадкой тензоэлемент 8 опирается через шарик 7 на пассивчую силовую тягу 11, выполненную в виде трубы, соединенной с 45 корпусом 3, Тензоэлемент 8 соединен штоками 12 и 13, которые в верхней части выполнены в виде труб,с измерителем деформации - индуктивным датчиком 14, причем шток 12 - с сердеч- " 50 ником датчика, а шток 13 - с катушкой датчика 14, Внутренние полости корпуса 3 и кожуха 4 герметизированы с помощью сильфона 15 и прокладки 16. Нагружающий механизм выполнен в виде рычага и гирь. Перемычка 9 установлена перпендикулярно оси тяг 6 и 11 и может быть выполнена сменной с элементами крепления на концах. Устройство работает следующимобразом.При подаче усилия от нагружающего механизма 5 через тягу 6 к тензоэлементу 8 последний деформируется, сжимаясь по вертикальной оси и одновременно увеличиваясь в размере по горизонтальной оси. При этом внутренняя перемычка 9 тензоэлемента 8 растягивается и деформирует накленные на перемычку тензорезисторы, находящиеся под воздействием магнитного поля, образуемого соленоидом 2. Причем магнитные силовые линии расположены перпендикулярно плоскости тензорезисторов,Тензоэлемент 8 может быть рассчитан таким образом, что на перемычку 9 передается половина сжимающего усилия, воспринимаемого тензоэлементом,что удобно для учета усилий. Деформация тензоэлемента измеряется датчиком 14 посредством штоков 12 и 13. Деформация перемычки 9 рассчитываются по деформации тензоэлемента по вертикальной оси. Для замены тензоэлемента корпус 3 с кожухом 4 и всем содержимым извлекают из криостата 1, снимают кожух 4 и извлекают тензоэлемент.Сборка происходит в обратном порядке. При этом для удобства сборки тяга 6 на время сборки может быть подпружинена (пружина не показана.формула изобретения1. Устройство для испытания тензорезисторов при низких температурах в магнитном поле, содержащее криостат с соленоидом, установленнымкоаксиально последнему,нагружающиймеханизм, тензоэлемент для установки тензорезисторов, пассивную и активную силовые тяги для передачиусилия от нагружающего механизма ктензоэлементу и измеритель деформации тензоэлемента, о т л и ч а ющ е е с я тем,что,с целью повыше ния точности измерений, увеличения диапазона упругих деформаций тенэоэлемента при его неизменных размерах, тензоэлемент выполнен в виде кольца с перемычкой в видепластины,установленной перпендикулярно оси тяг по диаметру кольца с возможностью поворота вокруг оси ее симметрии,1375947 2. Устройство по п. 1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что перемычка выполнена сменной с элементами крепления на концах. Составитель Е.ЩелинаТехредМ. Ходанич Редактор В.Бугренкова Корректор С.Шекмар Заказ 769/41 Тираж 680ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Подписное Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Смотреть

Заявка

4052768, 09.04.1986

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4126

ДУБРОВИН ЛЕОНИД ЛЕОНИДОВИЧ, ДЕНЕГА МИХАИЛ ИВАНОВИЧ, БОНДАРЕВА ВАЛЕНТИНА ФЕДОРОВНА

МПК / Метки

МПК: G01B 7/16

Метки: испытания, магнитном, низких, поле, температурах, тензорезисторов

Опубликовано: 23.02.1988

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1375947-ustrojjstvo-dlya-ispytaniya-tenzorezistorov-pri-nizkikh-temperaturakh-v-magnitnom-pole.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для испытания тензорезисторов при низких температурах в магнитном поле</a>

Похожие патенты