Самопроверяемый тестер для кода “1 из 8

(50 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ л,В.СапожниВл,В. е самотестиАвтоматика и с. 44,О ние относится к автом ельной технике и пре проверки правильност 617 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СС. ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫ(71) Ленинградский институт инженерожелезнодорожного транспорта им. акадВ.Н.Образцова(56) Сапожников В.В., СапожниковПрокофьев А.А. Контрольные схемы длясистем железнодорожной автоматики ителемеханики. Деп. в ЦНИИТЭИ МПС,В 2954, 1984, рис. 13.Мазнев В.И. О синтезруемых 1/р-тестеров.телемеханика. 1978, В 9рис. 3.(54) САМОПРОВЕРЯЕМЫЙ ТЕСТЕР ДЛЯ К ДАп 1 ИЗ 8"(57) Изобретеатике, вычислит дназначено для и функционирования устройств, на выходах которых в исправном состоянии формируются слова, содержащие одну логическую единицу иэ восьми, т.е. код "1 из 8". Цель изобретения заключается в упрощении тестера. При по" ступлении на входы 16;.23 исправного тестера наборов кода "1 из 8" на его выходах 24, 25 формируются парафазные сигналы "01" или "10". Если число в коде будет меньше одного, то на выходах тестера появится слово "00". Если число "1" в коде будет больше одного, то на выходах тестера появится слово "11". Тестер обладает свойством самопроверки так как одиночУЖ ная неисправность его схемы на одном или нескольких наборах кода "1 из 8" приведет к формированию одинаковых сигналов:.на его выходах "00" или "11", Тестер содержит элементы ИЛИ 1-8, 14, 15, элементы И 9-13, входы 16-23 и выходы 24, 25. 1 ил., 1 табл.132411Изобретение относится к автоматике, вычислительной технике и предназначено для проверки правильностифункционирования устройств, на выходах которых в исправном состоянииформируются кодовые слова, содержащие одну логическую единицу из восьми, т,е, код и 1 из 8 и.Целью изобретения является упрощение тестера. 10На чертеже представлена функциональная схема тестера.Тестер содержит первый 1, пятый 2,седьмой 3, второй 4, четвертый 5,шестой 6, восьмой 7 и девятый 8 эле"менты ИЛЙ, первый-пятый элементы И 9-13, третий 14 десятый 15 элементы ИЛИ, шестой-восьмой 16-18, второй 19, четвертый 20, третий 21 и пятый 22 и первый 23 входы и первый 24, 20второй 25 выходы.Тестер работает следующим образом.При поступлении на входы 16 - 23иисправного тестера наборов кода 1из 8 и на его выходах 24 и 25 формиру 11 ИИ Иются парафазные сигналы 10 или 01В том случае, если число сигналов и 1 ив коде меньше одного, на выходах 24,25 формируется слово иООи. Если число сигналов и 1 и в контролируемом ко- .6де больше одного, на выходах 24, 25и итестера формируются слова 11Работа тестера иллюстрируется таблицей, в которой наборы 2 - 9 соответствуют правильному, а наборы 1и 10 - неправильному формированиюкода и 1 из 8 и,Тестер обладает свойством самопроверки, т.е, любая одиночная неисправ-ность, а также однонаправленные крат ные неисправности в его схеме могутбыть обнаружены. Например, неисправность иКонстанта 0" входа 16 тестера фиксируется на наборе 2 (см. таблицу ), так как на выходах 24, 25 тестера присутствует слово и 00 и. Неисправность иКонстанта 1 и того же входа обнаруживается на любом из наборов 3 - 9, так как на 50 выходах 24 и 25 тестера в этом случае формируется слово и 11 и. Неисправность "Константа Ои выхода элемента 1 ИЛИ обнаруживается на любом из наборов 2, 3, 4 (см. таблицу ) по равенству нулю 55 сигналов на выходах 24 и 25. Неисправность "Константа 1 и того же "выхода фиксируется по равенству единице 7Фсигналов на обоих выходах 24 и 25 нанаборах 5 - 9 кода и 1 из 8 и,Можно показать, что сказанноесправедливо и для остальных неисправностей указанного класса, так как наборы кода и 1 из 8 и составляют длятестера полный проверяющий тест.Предлагаемый тестер является болеепростым, чем известные самопроверяемые тестеры для кода 1 из 8 (он сои и (держит 15 логических элементов, тогда как известные - 20 элементов),поэтому его надежность в среднем на257, выше, чем надежность известноготестера.Уменьшение числа элементов позволяет также упростить и удешевить изготовление тестера.Формула изобретенияСамопроверяемый тестер для кода и 1 из 8", содержащий первый элемент ИЛИ, выход которого соединен с первым входом второго элемента ИЛИ; второй вход которого является первым входом тестера, выход второго элемента ИЛИ соединен с первым входом первого элемента И, выход которого соединен с первым входом третьего элемента ИЛИ, выход которого является первым выходом тестера, четвертый элемент ИЛИ, выход которого соединен с первым входом второго элемента И, выход которого соединен с вторым входом третьего элемента ИЛИ, пятый элемент ИЛИ, первый, второй входы которого являются соответственно вторым, третьим входами тестера, выход пятого элемента ИЛИ соединен с первым входом шестого элемента ИЛИ, выход которого. соединен с первым входом третьего элемента И, седьмой элемент ИЛИ, первый вход которого является четвертым входом тестера, выход седьмого элемента ИЛИ соединен с первым входом четвертого элемента И, восьмой элемент ИЛИ, первый вход которого является пятым входом тестера, выход восьмого элемента ИЛИ соединен с вторым входом второго элемента И, девятый элемент ИЛИ, выход которого соединен с вторым входом первого элемента И, десятый элемент ИЛИ и пятый элемент И, о т л и ч а ю - щ и й с я тем, что, с целью упрощения тестера, третий вход второго элемента ИЛИ подключен к третьему входу17 Сигналы навыходах Сигналы на входах У п/п20 .2122 23 24 25 18 17 1 б 0 0 1 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 1 0 1 О О 0 0 0 0 10 Составитель И.НикуленковРедактор Л.Веселовская Техред Л.Олейник Корректор И.Муска Тирах 901 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035,. Москва, Ж, Раушская наб, д. 4/5Заказ 2973/57 Произвоцственно-полиграфическое предпоиятие, г. Ултород, ул. Проектная, 4 3 13241 тестера, первый, второй, третий входы первого элемента ИЛИ объединены соответственно с вторым входом восьмого 1 элемента ИПИ, вторым входом шестого элемента ИЛИ, первым входом девятого 5 элемента ИЛИ и являются пестым, седьмым, восьмым входами тестера, первый, второй, третий входы четвертого элемента ИЛИ подключены соответственно к выходу первого элемента ИЛИ, второму, четвертому входам тестера, третий вход восьмого элемента ИЛИ подключен к выходУ пятого элемента ИПИ, второй и третий входы седьмого элемента ИПИ подключены соответственно к пятому 15 и первому входам тестера, второйвход девятого элемента ИЛИ подключенк выходу седьмого элемента КПИ, вторые входы третьего и четвертого элементов И подключены к выходам соответственно второго и четвертого элементов ИПИ, первый и второй входы пятого элемента И подключены к выходамсоответственно восьмого и девятогоэлементов ИЛИ, выходы третьегочет- .вертого, пятого элементов И соединены соответственно с первым, вторым,третьим входами десятого элемента ИЛИ,выхоц которого является вторым выходом тестера. 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0