Микроскоп

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИК СССРНРИТИИ ОБРЕТЕНИЯ ОПИСА ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(46) 15.07.87. Бюл, У 26 (71) Объедкненный институт ядерных исследований(56) Авторское свидетельство СССР Н 1273861, кл. С 01 В 2/00, 985.Авторское свидетельство СССР Ф 1183934, кл. С 02 В 21/00, 1984. (54) МИКРОСКОП(57) Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть использовано при исследовании свойств элемента я - уменьмикрОскопа амет енты объек в виде разую- являеттрезок к с фокусо и оси микроала 3 совГОСУДАРСТ 8 ЕННЫЙ НОМИТ ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И 4 С 02 В 2/00 // Г 01 т 5 О ных частиц, Цель изобретенщенке продольных размеровпрн заданных апертуре и диобъективов, Оптические элтквов выполнены зеркальныпараболокдов 2 вращения.щая мезооптических зеркался ломаной линией, каждыйторой касателен к параболерасположенным на оптическскопа. Мезооптические зер местно с оптическими зеркалами в вид параболоидов 2 форпируют протяженное изображение точечного источника света 1 в области расположения трехмерного объекта.ил.Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц иможет быть использовано в методикетрековых детекторов при исследованиисвойств элементарных, в частнос;и короткоживущих,.частиц.Цель изобретения - уменьшение продольных габаритных размеров микроскопа при заданном фокусном расстоянии,т.е, при заданных апертуре и диаметре объективов микроскопа,На чертеже представлен микроскоп,общий вид, в разрезе.Микроскоп преимущественно для наблюдения трехмерных объектов содержит 15точечный источник 1 света два зеркала 2 в виде параболоидов вращения,два мезооптических зеркала. 3 с образующей в виде ломаной линии, образующие первый и второй объективы, две 20центральные непрозрачные круглые шторки 4, предметный столик 5 датчик 6положения предметного столика и точечный фотоприемник 7.Микроскоп работает следующимобразом,Лучи света от точечного источника1 света частично задерживаются центральной непрозрачнои круглой шторкой4, а частично попадают на зеркало 2в форме параболоида вращения, Послеотражения от. зеркала 2, в фокусе которого находится точечный источник1 света, лучи света превращаются впараллельный пучок света, который, 35отразившись от мезооптического зеркала 3, формирует протяженное изображение точечного источника света вобласти расположения трехмерногообъекта, Прошедшие сквозь трехмерный 40объект лучи света попадают на второемезооптическое зеркало 3, превращаются в параллельный пучок света, который второе зеркало 2 фокусирует вточку, совпадающую с точечным фотоприемником 7. Характеристики трехмерного объекта фиксируются по изменению интенсивности света, прошедшего через данный элемент проекционного иэображения трехмерного50объектаИсследуемьп трехмерный объект, например толстослойную ядерную фотоэмульсию, устанавливают на предметный столик 5 так, чтобы отрезок протяженного изображения точечного источника света, который формируется зеркалами 2 и 3 первого объектива,полностью перекрывал трехмерный объект по глубине, Включив точечный источник 1 света, датчик 6 положения предметного столика и точечный фотоприемпик 7, перемещают вдоль координатных осей предметный столик 5 вместе с исследуемым трехмерным объектом, Фиксируют показания датчика 6 положения предметного столика и точечного фотоприемника 7. При необходимости операцию сканирования повторяют при других взаимных положениях протяженного изображения точечного источника света и трехмерного объекта.Сущность изобретения состоит в том, что предлагаемыймикроскоп содержит два мезооптических зеркала, которые вместе с оптическими зеркалами,имеющими зеркальные поверхностивторого порядка, формируют протяженное изображение точечного источника света, при этом в микроскопе точечный источник света расположен существенно ближе к области расположения объекта, что обеспечивает уменьшение продольных габаритных размеров микроскопа при заданном фокусном расстоянии оптических и мезоонти .еских элементовичп при заданных апертуре и диаметре объективов микроскопа, форма зеркальной поверхности мезооптического зеркала, являющейся фигурой вращения, определяется образующей этой поверхности, имеющей вид ломаной линии, отрезки которой касаются параболы, при этом фокус параболы расположен на оптической оси в центральной плоскости микроскопа.Продольный размер в предлагаемом микроскопе равен 2(Г+Ь)+2, где конструктивная толщина оптических зеркал микроскопа. Обычно С=С ИУ, например Ф.д 0,11, поэтому продольный размер микроскопа равен 2,4 й,в то время как в прототипе он составляет 4 й.Ф о р и у л а изобретенияМикроскоп преимущественно для наб людения трехмерных объектов, содержащий последовательно расположенные вдоль оптической оси микроскопа точечный источник света, первый объектив, предметный столик для размещения трехмерного объекта, установленный с воэможностью перемещения, второй объектив и точечный фотоприем13239 Составитель И, ОсташенкоТехред Л.Сердюкова Корректор С, Щекмар Редактор А, Огар Заказ 2963/51 Тираж 521 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 ник, при этом каждый из объективоввыполнен в виде двух элементов,одного - оптического, в фокусе которого расположен точечный источниксвета или точечный фотоприемник соответственно, и второго - мезооптического с непрозрачной центральнойкруглой шторкой, образующая рабочейповерхности которого выполнена в виде ломаной линии, о т л и ч а ю - 10щ и й с я тем, что, с целью уменьшения продольных габаритных размеров при заданном фокусном расстояниикаждого из объективов микроскопа,оптические элементы обоих объективов выполнены зеркальными в виде.параболоидов вращения, ось. которых совпадает с оптической осью микроскопа,рабочие поверхности мезооптическихэлементов каждого из объективов также 20выполнены зеркальными, а каждый отре 95 4зок ломаной линии ее образующей касателен к параболе, фокус которой расположен на бптической оси к области расположения трехмерного объекта, приэтом зеркальные поверхности первого и второго элементов каждого из объективов обращены одно к другой, а длина 1(д) д-го отрезка указанной ломаной линии выбрана из условия1(д)=Ьвдп 6(д)/сов вВд 2 где Ь - требуемая глубина резкостимикроскопа;6(д)=астдК(д)/Й;й - фокусное расстояние мезооптического зеркального элемента;К(д) - расстояние от точки касанияд-и отрезком укаэанной параболы до оптической оси микроскопа.