Микроскоп падающего света
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Оп ИСА Фст:,с к 1;, н.яМЭ з. 939 Союз Соеетсимв Социапмсти чески я Респубпми(22) ЗаЯвлЕно 22.05.74 21) 2028464/18) М. Кл. 6 02 В 27/28 рисоединеиием заявки ааквмк каматвтССР асуд 23) Приорит втекайЙ адам УПК 535.8335:535.8241088,8) ублнковано 15,06,79. Бюллете тк ата опубликован исаии 72) Авторы изобретения ферс М, Брумберг и П.(71) Заявитель 4) МИКРОСКОП ПАДАЮЩНО СВЕГА 2 естного устройства являет.обеспечения поворота плос.адающего света на любой Недостатком и ся невозможностькости поляризацииугол.Целью изобретен ия является повышение то сти измерении азимутальных характеристикблюдаемых объектов.Это достигается тем, что в предлагаемом икроскопе падающего света между опа минатором и объективом в плоскости, перпендикулярной оптической оси микроскопа, установлена анизотропная пластинка, вносящая раз.ность хода в полдлины волны для двух взаим. но перпендикулярных на нее света. При этом ность поворота в пло оптическои оси микроОписываемый микро изображен на чертеже.Микроскоп содержи лектор 2, поляризатор анизотропную пластинк па 6, сигнапизатор 7 и Изучаемый объект 9 и скоп падающего света а 1, кол.инатор 4,кроскосточник свет 3, опак.иллю5, объектив мокуляр микображен схем оскопа 8 атически Изобретение относится к области приборо.строения и измерительной техники и применяется, в частности, при поляризационных исследованиях биологических или минералогическихобъектов,Известны микроскопы падающего света, ко. 3торые наряду с объективом и окуляром содер.жат систему, состоящую из опак-иллюминатора,поляризатора и анализатора, обеспечивающихвозможность исследования структуры наблюдаемого объекта в поляризованном свете. Для ис.10следования аэимутальных характеристик наблюдаемых объектов данные микроскопы снабженыпредметными поворотными столиками 11,Недостаток известных микроскопов падающего света заключается в сложности точной цент.ровки оси вращения поворотного столика относительно оптической оси микроскопа, что за.трудняет проведение исследований.Известны также устройства, которые, с цельюкомпенсации поворотаполяризации падающего.света, содержат поляризатор и фазовую пласти.нку,через которую свет проходит дважды (какйри прямом, так и при обратном ходе лучей.123. поляризаций падающегопластинка имеет возмож-кости, перпендикулярнойскопа.р у ь ф(14 ьФф6 9фФ 1 ьФМикроскоп падаюп 1 ег 6 ф света работает следующим образом. 7 4 Составитель А. ФомичевТехред 3. Фанта Корректор Н. Ст Редактор С. Хейриц аказ 3463/42 Подл испоого комитета СССРий и открытийРаушская наб., д. 4/5. 587осударствем изобретеква, Ж - 35 Тираж НИИПИ Г по дела 13035, Мосилиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная Свет от источника 1 проходит через коллек. тор 2, поляризатор 3 и опак.иллюминатор 4, попадает на анизотропную . пластинку 5. При. повороте пластинки 5 на угол а плоскость по. ляризации прошедшего света повернется на угол 2 а. При обратном ходе лучей, отраженных от объекта, плоскость поляризации света восстанавливается независимо от угла поворота пластинки. Благодаря введению поворотной анизотропнойпластинки обеспечена воэможность плавногоизменения направления плоскости поляризациина исследуемом объекте. на любой заданныйугол без изменения положения объекта и ана.лизатора относительно друг друга. 67934Формула изобретенияМикроскоп падающего света, содержащий обьек.тив, поляризатор, опак-иллюминатор, анализа.тор и окуляр, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью повьппения точности измере.ний азимутальных характеристик наблюдаемыхобъектов, устройство содержит полуволновуюфазовую пластинку, установленную между опакиллюминатором и объективом перпендикуляр.1 О но оптической оси микроскопа с возможностьюповорота вокруг этой оси;Источники информации, принятые во внимание при экспертизе1. Скворцов и др. Микроскопы. Л., "Ма.15 шиностроение"1969,2.Мрр 1,РИць Ьейй 1971, т. 18, М 1, с. 3 - 4.5 соЕСХ.С. де Ж 1. М В 1 ей 1 зделсе соерепьобоп оос 1 ТЕМоо щастие оггЬлгтсегоеттФ. 1 ис Мд: ЧАЙ Йдьег,
СмотретьЗаявка
2028464, 22.05.1974
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6681
БРУМБЕРГ ЕВГЕНИЙ МИХАЙЛОВИЧ, ШИФФЕРС ЛЮДМИЛА АЛЕКСАНДРОВНА
МПК / Метки
МПК: G02B 27/28
Метки: микроскоп, падающего, света
Опубликовано: 15.06.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-667939-mikroskop-padayushhego-sveta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Микроскоп падающего света</a>
Предыдущий патент: Механический модулятор потока излучения
Следующий патент: Акустооптический фильтр
Случайный патент: Способ определения координат точек надира