Способ измерения характеристики rq объемных резонаторов с бессеточным зазором путем внесения диэлектрика

Номер патента: 132276

Автор: Хаби

ZIP архив

Текст

Класс 21 а 4, 7121 Я, 131 т СССР ПИСАНИЕ ИЗОБРЕ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛ НИЯ У/ОГ)ГиСНаЯ гРЦПНа Л. с 1 С С. Хаби СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИКИ Я/ ОБЪЕМНЫХ РЕЗОНАТОРОВ С БЕССЕТОЧНЫМ ЗАЗОРОМ ПУТЕМ ВНЕСЕНИЯ ДИЗЛЕКТРИКАзаявлено 3 инннрн 960 г. за .сто 64937126 и Комитет по де.нсн сснобретсний н открытий прн Сонете Министров СССР.1 н пс 1 кснснни Ьюопетесн нноорс тени 1 М . са 96 О г е в двух проекцизазором, в зазоре ОДНОс НЗ ОСНОВНЫХ ХЯРЯКТЕРИСТИК ОбЬЕМНЫХ рЕЗОНЯТОРОВ яндяЕТСяОтношение сопротивления резонатора Й к его добротности Я. Известньсспособы измерения характеристики О. объемных резонаторов с бессеточным зазором, Основанные ня внссени 1 диэлектрика между торцами труб, образующих зазор резонатора, и Определении значения РЯпо извесным араметрям диэлектрика и величине ухода резонансной111 стоты Ооъемпого резонатора с внесенным в него диэлектриком.Недостатки подобных способов состоят в малой точности измеренийвследствие цесимметрии поля в зазоре, влиянии толщины торцов трубна результаты измерений и малого ухода резоцансцой частоты при внесении диэлектрика, который трудно измерить с достаточно высокойточностью,В описываемом способе указанные недостатки устранены использованием в качестве диэлектрика, вносимого в резонатор, упругой диэлектрической пленки, прижимающейся к внутренним стенкам труб,образу;Ощим зазор.Для пояснения описьваемого способа на чертежях изображен объемный резонатор с бессеточнымкоторого размещена упругая пленка.В зазоре /, образованном трубами 2 резонатора 3, помещена упругая диэлектрическая пленка 4, например цз тефлона, которая, выпрямляясь, цриж;гмястся к внутренц 11 м стенкам труб 2. Высота пленки выбирается больше высоты зазора, а ее длина - примерно равнойдлине окруж;ости внутренней стенки трубы. Введение диэлектрическойпленки Вызывает изменение резонансной 1 ястоты Зезоцятор 11, по мото -рой и судят 11 величине отношения /т/,1.Ло 132276Характеристика ЮЯ рассчитывается по формуле.1.МЙ/О;= ., ( 1МУСд)где: / - высота зазора;- резонансная частота рес зонатора; водиэлектрическая понинасмость з вакууме, к =- - ,о где в - диэлектрическая проницаемость материала пленки; 1площадь поперечного сечения пленки, которая равна 6. У., где толщина пленки, Х, - ширина пленки, Л - уход резонансной частоты обьемного резонатора, вызванный помещением в зазор диэлектрической пленкиПомещение диэлектрической пленки цо всей периферии зазора исключает погрешность, создаваемук цесиммстрией поля и зазо 1 е. Ис пользование пленки, перекрывающей весь зазор, приводит к значитель, ному уходу резонансной частоты резонатора, точцос зчереццс кото рого нс вызывает особых затруднении.1 1е д м е, 3 О бесяСпособ измерения характеристики ЖЯ обьемных резона горов г бессеточным зазором путем внесения диэлектрика, о т л и ч а н щ и и с я тем, то, с целью увели 1 еия точности измерений, в зазор резонатора помещают упругуо диэлектрическую пленку, прижимаопуося к цутренним стенкам труб, образукщих з;вор

Смотреть

Заявка

649371, 03.01.1960

Хаби В. С

МПК / Метки

МПК: G01R 27/26

Метки: бессеточным, внесения, диэлектрика, зазором, объемных, путем, резонаторов, характеристики

Опубликовано: 01.01.1960

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-132276-sposob-izmereniya-kharakteristiki-rq-obemnykh-rezonatorov-s-bessetochnym-zazorom-putem-vneseniya-diehlektrika.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения характеристики rq объемных резонаторов с бессеточным зазором путем внесения диэлектрика</a>

Похожие патенты