Система технической диагностики объектов с самонастройкой параметров

Номер патента: 1310780

Авторы: Кочетков, Лопарев

ZIP архив

Текст

(51)4 С 05 В 23 ИОАН ИЕ РЕТЕНИЯ ЕЛЬСТВУ АВТОРСН хническои диагмонастройкойпользования Н,Лопаре метрам диагно ехнической ди Сечкин В.А. тика методами н вания. Л.: Энер н но тель ровая обработк электромаш, егро2 попол ря де ни яются независим араме и по отношению др к средствам диа руется поступл взаимовлияния пазавших каналов ди 1 ил,т перекрестног етров и от отк гностирования. Уи Ум 00 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(21 ) 40251 90/24-2 (22) 08,01,86 (46) 15.05,87. Бю (72) С.В.Кочетков (53) 62.50(088.8) (56) Киселев Н,В. Техническая диагн линейного преобра гия, 1980, с16,Управление и циф а информации. Л.: ВНИИ1984, с;54-59.Авторское свидетельство СССР У 1182493, кл. 6 05 В 23/02, 1984, (54) СИСТЕМА ТЕХНИЧЕСКОЙ ДИАГНОСТИКИ ОБЪЕКТОВ С САМОНАСТРОЙКОЙ ПАРАМЕТРОВ (57) Изобретение относится к области технической диагностики динамических объектов и может использоваться в промышленности средств связи для диагностирования объектов с самонастройкой параметров, Целью изобретения является повьюение достоверности диагностики системой т ностики объектов с с параметров за счет исамонастройки по парстирования, Система агностики объекта диагностиров 1, включающего основной рабочи тур 2, эталонную модель рабоче контура 3, сумматор 4 и вычисл ный блок 5, содержит и суммато и нелинейных элементов 7, и ин сумматоров 9, и компараторов и квадраторов, За счет введения нительных каналов обработки нап жений самонастройки, которые с жат полную информацию об измен г к другу, а такженостирования, блокиие ложной информаци1 13Изобретение относится к технической диагностике и может использоваться в промышленности средств связидля диагностирования объектов ссамонастройкой параметров методомнелинейного преобразования.Цель изобретения - повышение достоверности диагностики системой технической диагностики объектов с самонастройкой параметров за счет использования самонастройки по параметрамдиагностирования, т.е. использования выходных сигналов контура самонастройки объекта для исключениявзаимовлияния параметров за счетблокирования соответствующих каналовдиагностирования. При этом такжезакрывается доступ в выходные цепиложных сигналов при отказе средствдиагностики,Напряжение настройки параметровформируются в контуре самонастройкиобъекта чаще всего с использованиемэталонной модели в виде компенсационных сигналов (преобразованных сигналов ошибки) или в виде компонентградиента критерия самонастройки,по которым определяются текущие значения настраиваемых параметров, Приэтом параметры объекта, используемые для самонастройки, являютсятеми же, что и при диагностированииего методом нелинейного преобразования: коэффициенты усиления и демпфирования, постоянные времени и т,д,На чертеже изображена функциональная схема системы с объектомдиагностирования, Объект 1 диагностирования содержит основной рабочийконтур 2, эталонную модель рабочегоконтура 3, сумматор 4 и вычислительный блок 5, Система техническойдиагностики объектов с самонастройкой параметров содержит и сумматоров6, (1 = 1 - и), и нелинейных элементов 71, 2 и квадратов 8;, и интегросумматоров 9 и и компараторов 101,где и - число диагностируемых параметров объекта,Система работает следующим образом,Классификация реакции объектау(й) по классам работоспособности,задаваемыми эталонами у (е), 1э 11 - и, производится по величинемеры близости 5;:10780 2где . - оператор нелинейного преоб 1разования в (-м каналедиагностирования;Т - время анализа (накопления).Нелинейное преобразование (. индивидуально рассчитывается для каждого из и параметров объекта,Пусть для определенности (, имеетследующий вид:Ч,Р;(с) = А;Р;(с) + А Р;(с)где А , - постоянные коэффициенты(1:= 1,2);Р)= у(") уз 1Сигналы Р; поступают с выходов сумматоров 6; на выходы соответствующих нелинейных элементов 7;, выходные сигналы которыхР; = А(Р; + А 2;Р 1(с). 20 Преобразованные разностные напрягжения Р, и напряжения настройки параметров Ы , вырабатываемые в контуре самонастройки объекта 1, возводятся в квадрат в элементах 8;= 1 - 2 и), а затем попарно в соответствии с одноименными параметрами, в соответствии с индексамипоступают на входы соответствующихинтегросумматоров 9; .Выходные напряжения элементов9;, являющихся в данном случае меройблизости т т1 1 о,(с)ас: Й."(с) + 35 о к=+ Ы; (Цс 1 а где О - составляющие, поступающиена вход элемента 91, числокоторых равно (и.40В данном случае ) = 2, а 5; далеепоступает на входы компараторов 10.,"1", если 5,. 7, 5, 50 при этом "0" соответствует состояниюобъекта 1, когда 1-й параметр в допуске, а "1" - )-й параметр вьппелиз поля допуска.Совокупность логических уровней(;)можно использовать далее для различных целей в зависимости отконкретного применения объекта 1 вкомплексе,Составитель Е,ВласовРедактор Е.Копча Техред Л.Сердюкова Корректор Г.Решетник Заказ 1889/43 Тираж 864 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д.4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г,ужгород,ул,Проектная,4 3 131В результате указанных особенностей в предлагаемой системе происходитповышение эффективности диагностики,связанное с использованием дополнительных сигналов об изменении диагностируемых параметров, вырабатываемых в контуре самонастройки объекта,Это позволяет исключить ложное диагностирование, связанное с перекрестным влиянием параметров и сотказами в каналах средств диагностики, причем с малыми аппаратурнымизатратами,Формула изобретения Система технической диагностики объектов с самонастройкой параметров, содержащая по числу диагностируемых параметров и источников эталонного напряжения, и сумматоров, и нелинейных элементов, и квадраторов и и компараторов, первый вход каждого 1-го сумматора подключен к основному О 78 Овыходу диагностируемого объекта, второй вход 1-го сумматора подключен к выходу 1"го источника эталонного напряжения, а выход 1-го сумматора 5через 1-й нелинейный элемент соединен с входом 1"го квадратора, выходы и компараторов являются выходами системы, о т л и ч а ю щ а я с я тем, что, с целью повышения доствер ности диагностики, в систему введены и интегросумматоров, и+1, и+2,2 пи 2 п-й квадраторы, входыкоторых соединены с соответствующими выходами контура самонастройки диаг ностируемого объекта, причем выход(и+1)-го квадратора соединен с первым входом 1-го интегросумматора, второй вход которого подключен к входу 1-го квадратора, третий вход 20 1-го интегросумматора подключен кисточнику задающих импульсов, а выход 1-го интегросумматора подключен к входу 1-го компаратора.

Смотреть

Заявка

4025190, 08.01.1986

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1772

КОЧЕТКОВ СЕРГЕЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, ЛОПАРЕВ РОБЕРТ НИКОЛАЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G05B 23/02

Метки: диагностики, объектов, параметров, самонастройкой, технической

Опубликовано: 15.05.1987

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1310780-sistema-tekhnicheskojj-diagnostiki-obektov-s-samonastrojjkojj-parametrov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Система технической диагностики объектов с самонастройкой параметров</a>

Похожие патенты