Способ контроля дефектов поверхности

СОЮЗ СОВЕТСКИХиюалФзяесиижРЕСПУБЛИН 80127527 Н 21 88 50 4 ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕ жения дефектов различ не микронеровностей к детали сообщают движе освещают поверхность чением, регистрируют чение, производят пор ку сигнала фотоприемн его в импульсную фор лами число импульсов. чение каждого цикла с изменяют углы падения кретно, а импульсы, и импульсного преобразо зируют с изменениями лучения. 1 ил. анин У 1263968 ство СССР1/86, 1979 тся к контхнике. Срности обнарусто Ю ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРГ 1 О ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕР НОСТИ57) Изобретение отноольно-измерительнойелью повышения до ных типов на фооитролируемой ние развертки,. импульсным излуотраженное излуоговую обработика, преобразуют му и считают цикПри этом в течета импульсов излучения дисспользуемые для вания, синхрони-. угла падения из 1 12752Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может бытьиспользовано для контроля наличия дефектов поверхности деталей типа телвращения. 5Цель изобретения - повьппение достоверности обнаружения дефектов различных типов на Фоне микронеровностейСпособ осуществляется следующим Ообразом,Контролируемой детали сообщаютдвижения развертки, например вращение и осевое перемещение в случае еецилиндрической формы, и направляют 15на ее поверхность светодиодное им пульсное излучение, причем каждыйэлементарный участок поверхности ос -вещают поочередно под различными уг,лами. Отраженное излучение регистрируют фотоприемником. Электрическийсигнал фотоприемника подвергают пороговой обработке, выделяя тем самымуровень засветки, превьппающий некоторую величину. Полученный сигнал в 25двоичной Форме преобразуют затем впоследовательность импульсов с частотой изменения углов падения светодиодного излучения. Количество импульсов за время контроля каждого 30элементарного участка подсчитывают исравнивают с результатами счета насоседнем (по ходу развертки поверх 1ности участке. Если разность ре -зультатов счета превысит некотороечисло, задаваемое на основании предварительного излучения образцов дефектных деталей, то направляют контролируемую деталь в бракНа чертеже приведена схема дляосуществления предлагаемого способа,Схема содержит генератор 1 импульсов, распределитель 2 импульсов, подключенный к выходч. генератора 1 ипредставляющий собой, например, счетчик с дешифратором, светодиодную матрицу 3; подклйченную к вьгходам распределителя 2, выполненную в видечасти сферической поверхности и установленную так, что светодиоды обращены к контролируемой детали 4, а ихоси пересекаются в одной точке контролируемой поверхности, В схеме имеется объектив 5, ось которого проходит также через указанную точку и че 55рез центр матрицы 3. В плоскостиизображений объектива 5 установленаполевая диафрагма б а за ней - фото изобретения Фо рмул аСпособ контроля дефектов поверхности, заключающнйся в том, что контролируемой детали сообщают движения развертки, освещают поверхность импульсным излучением, регистрируют отраженное излучение фотоприемником, преобразуют его в импульсную Форму, считают циклами число импульсов от каждого участка поверхности и сравнивают с другими участками поверхности, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения достоверности обнаружения дефектов различных типов на фоне микроне- ровностей в течение каждого цикла счета импульсов угол падения излучения дискретно изменяют, а частоту импульсовиспользуемых дляимпульсного преобразования, задают равной частоте изменения угла падения излучения,7 732приемник 7. К выходу фотоприемника 7 подключены последовательно пороговый элемент 8, элемент И 9 (одним иэ входов), и счетчик 10 импульсов. Второй выход элемента И 9 соединен с выходом генератора 1, а вход установки1 11в 0 счетчика 10 подключен к одному из выходов распределителя 2 импульсов,Импульсы от генератора 1 поочередно включают светодиоды матрицы 3. Светодиодное излучение освещает контролируемую поверхность 4 под различными углами, Отраженное излучение проходит Через объектив 5 и полевую диафрагму б, выделяющую элементарный участок 4 поверхности, и попадает на фотоприемник 7. Аналоговый сигнал фотоприемника 7 преобразуется в двоичную форму пороговым элементом 8. Затем осуществляется преобразование сигнала с выхода порогового элемен-. та 8 в импульсную форму элементом И 9 путем подачи на его второй вход импульсов от генератора 1Количество импульсов подсчитывается счетчиком 1 О. контроль поверхности осуществляется циклами. В начале цикла стирается прежняя информация в счетчике 10 импульсом с одного из выходов распределителя 2. Количество светодиодов в матрице 3 определяет требуе мую емкость счетчика 1 О, Путем сравнения результатов счета с различных, например соседних, элементарных участков контролируемой поверхности делается вывод о годности детали.1275273 Составитель Ю.ГриневаТехред Л.Олейник Редактор А.Козориз Корректор М. Шароши Тираж 778 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий13035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Заказ 6552/32 Производственно-полиграфическое. предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4