Способ испытаний качества изоляции протяженных конструкций, покрытых полупроводниковым слоем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(9) 1 г С 01 К 31/1 Е ИЭОБРЕТЕСВИДЕТЕЛЬСТВУ ПИС АВТОРСКОМ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ(56) Авторское свидетельство СССРВ 368558, кл. С О 1 К 31/02, 1970.Разработка средств автоматическогоконтроля, защиты и повышение надежности гидрогенераторов. Отчет по научно-исследовательской .теме Т 02. 1125,Гос. рег. В 73053941, 1974,(54) СПОСОБ ИС 1 ВТАНЯЙ КАЧЕСТВА ИЗОЛЯЦИИ ПРОТЯЖЕННЫХ КОНСТРУКЦИЙ, ПОМЯТЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫМ И 1 ОЕМ(57) Изобретение относится к измерительной технике и макет быть использовано при испытании изоляции протяменных конструкций, покрытых.попупроводящим слоем, например стермией роторных обмоток мощных электрическихмашин. Цель изобретения - повьвпеииедостоверности результатов испытаний,достигается путем увеличения точности определения величии параметровчастичных разрядов. Способ предусматривает измерение суммарных значенийвеличин параметров частичных разрядови подачу радиоимпульсов между токопроводящей шиной и полупроводниковымслоем испитуемрго образца (ИО) до подачи испытательного напряжения. Устройство, реализук 1 щее способ, содержит токопроводящую шину 1 ИО, ,лопизоляции ИО, полулроводящее покрытие ИО, испытательные электролы 4,блок 5 регистрации частичных разря 758дов р н эмеритальный элемент 6 реГ истратор 7, конденсатор 8, источник 9высокого напряжения, ограничительнь;й резистор 10, генератор 11 прямоугольных импульсов, градуировочныйконденсатор 12. Величины параметровчастичных разрядов определяются поматематической формуле, приведеннойв описании изобретения. 1 ил.Изобретение относится к электро- измерительной технике и может быть использовано при испытаниях изоляции протяженных конструкций, покрытых полупроводящим слоем, например стержней 5 роторных обмоток мощных электрических машин,Целью изобретения является повышени достоверности результатов испытаний путем увеличения точности опреде- О ления величин параметров частичныхразрядов.На чертеже представлена блок-схемаустройства, реализующего предложенныйспособ.На схеме обозначены: токопроводящая шина 1 испытуемого образца,слой 2 изоляции испытуемого образца,полупроводящее покрытие 3 испытуемо 20го образца, испытательные электроды 4, блок 5 регистрации частичныхразрядов, измерительный элемент 6,регистратор 7, соединительный конденсатор 8, источник 9 высокого напряжения, ограничительный резистор 10 генератор 11 прямоугольных импульсовградуировочный конденсатор 12,. причем первые выводы блока 5 регистрации частичных разрядов, источника 9ЗОвысокого напряжения и генератора 11прямоугольных импульсов соединеныс общей шиной, второй вывод блока 5регистрации частичных разрядов соединен с одним иэ измерительных электродов 4 непосредственно, а второй З 5вывод генератора 11 прямоугольныхимпульсов через градуировочний конденс.атор 12, второй вывод источника 9 высокого напряжения соединенс вторим выводом сграничительного4 Орезистора 10, первый вывод которого соединен с третьим выводом блока 5регистрации частичных разрядов и тс" копроводящей шиной 1 испытуемого образца, которая соединена с общей шиной, Вторые выводы регистратора 7 и измерительного элемента 6 соединены с вторым выводом блока 5 регистрации частичных разрядов, первый вывод которого соединен с первыми выводами измерительного элемента 6, регистратора 7 и соединительного конденсатора 8, второй вывод которого соединен с третьим выводом блока 5 регистрации частичных разрядов.Устройство работает жчедующим образом.Подают радиоимпульс от генератора 11 прямоугольных импульсов через градуировочный конденсатор 12 поочередно на все измерительные электроды 4 и измеряют величину кажущегося заряда Цпри помощи блока 5 регистрации3частичных разрядов, Далее находят коэффициенты затухания по формуле(1) Где О - величина кажущегося зарядачастичного разряда в зоне его возникновения,Величинаопределяется, когда градуировочный конденсатор и второй вывод блока 5 регистрации частичных разрядов подключены к противолежащим измерительным электродам 4. Затем отключают генератор 11 Грямоугольных чмпульсов н токопрсводящую шину 1 ис пытуемого образца от общей шины и подают на токопроводящую шину 1 испытуемого образца испытательное апряжение ат источника 9 высокого напряже157584 дачей и пытзт.чьного нлпряжения подают радис импульсы между токопроводящей шиной и попупроподниковым слоем испытуемого образца, измеряют коэффициен - ты затухания амплитуд огибающих радиоимпульсов в зависимости от расстояния да места их приложения, определяют уточненные величины параметров частичных разрядов и по этим уточнен нЫМ величинам судят о качестве изоляции испытуемого образца, при этом уточненные величины параметров частичных разрядов определяют по форф 4 р ач 4 ра Врм 20 Формула изобретения Способ испытаний качества изоляции протяженных конструкций, покрытых полупроводниковым слоем, состоящий в том, что на испытуемый образец 25 подают испытательное напряжение и измеряют суммарные значения величин параметров частичных разрядов, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения достоверности результатов испытаний путем увеличения очности определения величин параметров частичных разрядов, перед поСоставитель А.ПржебельскийТехред А.Кравчук Корректор В,СиницкаЯ Редактор М. Келемеш Заказ 4915/45 Тираж 728 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 13035, Москва, ЖРаушская наб., д, 4/5Производственно-полиграфичс око предприятие, г,ужгород, ул.Проектная, 4 ния и измеряют суммарные величины токов частичных разрядов1 , 1 , фиксируемые блоком 5 регистрации частичных разрядов при подключении второго вывода блока 5 реги:трации частичных разрядов по очереди соответственно к каждому иэ измерительных электродов 4.Далее опредечяют .уточненные значения токов 14 р , характеризующих интЕнсивность частичных разрядов, возникающих в зоне 1, 2.ш-го электродов, соответственно решая следующую систему уравнений:Еэ =14 р +Ьь 1 р + фЬъ 14 р мулам+Ь 14 р + +Ь 1414 +Ь 14 + +1эъ т 4 р, и 4 р4 рщ ф где а - число точек, в которыхпроизводились измерениякоэффициентов затуханияамплитуд радиоимпульсов;11 - сУммарные значения велиэ эечин параметров частичныхразрядов, полученные приприложениИ испытательного напря:кения;Ь; - коэффициенты затуханиярадиоимпульсов от точкидо точки 3;1 - уточненные значения вели 4 речин параметров частичныхразрядов.
СмотретьЗаявка
3737539, 07.05.1984
СИБИРСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ЭНЕРГЕТИКИ, НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ "СИБЭЛЕКТРОТЯЖМАШ"
ВДОВИКО ВАСИЛИЙ ПАВЛОВИЧ, ОВЧИНКИН СЕРГЕЙ МИХАЙЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 31/02, G01R 31/12
Метки: изоляции, испытаний, качества, конструкций, покрытых, полупроводниковым, протяженных, слоем
Опубликовано: 15.09.1986
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1257584-sposob-ispytanijj-kachestva-izolyacii-protyazhennykh-konstrukcijj-pokrytykh-poluprovodnikovym-sloem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ испытаний качества изоляции протяженных конструкций, покрытых полупроводниковым слоем</a>
Предыдущий патент: Устройство для определения поврежденной фазы в сети с изолированной нейтралью
Следующий патент: Устройство для контроля критической скорости нарастания напряжения тиристоров в закрытом состоянии
Случайный патент: Экстремальный цифровой фильтр