Способ измерения деформаций изделий

(51 АНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ЛЬСТВ У 27А,С.Сыпалов,8(088.8)уаровые полосымаций. М.: Мир ДЕФО относится к област ций твердых тел.является расширеих возможностей сп ния деформаций изд формы. На поверхзобретение ния деформ изобретени хнологичес изм Цел ние тсоба тем измер извольной 1 ил и п ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИИ ВТОРСКОМУ СВИ(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯИЗДЕЛИЙ ность исследуемого изделия до нагружения проецируют эталонную системуметок; Одновременно проецируют эталонную систему меток на эталонное иэделие. Отраженные от поверхностейэталонного и исследуемого иэделийсистемы эталонных меток фиксируют вплоскости регистрации изображенияисследуемого иэделия. Совмещают обесистемы путем смещения эталонногоизделия до полного исчезновения образующихся в процессе совмещения интерференционных полос, Затем изделиенагружают, регистрируют образующуюсяинтерференционную картину и.по нейизмеряют деформацииИзобретение относится к областиизмерения деформаций твердых тел.Цель изобретения - расширение технологических возможностей способа путем измерения деформаций изделий произвольной формы,На чертеже показана схема оптической установки для осуществления способа измерения деформаций изделий.Установка состоит из лазера 1, 1 Облока 2 зеркал, непрозрачных зеркал3 и 4, полупрозрачных зеркал 5-7,исследуемого 8 и эталонного 9 изделий, камеры 10 для Фотосъемки.Способ осуществляют следующим образом,На поверхность исследуемого изделия 8 до нагружения проецируют эталонную систему оптических меток. Одновременно с проецированием эталон Оной системы меток на исследуемое изделие 8 проецируют эталонную системуоптических меток на эталонное изделие 9, поверхность которого являетсязеркальным отражением поверхностиизделия 8, Эталонную систему оптических меток получают при направлениилуча лазера 1 на блок 2 зеркал. Све -товой луч делят на два пучка полупрозрачным зеркалом 5 и направляют ЗОих на непрозрачные зеркала 4 и 3,Отраженные от этих зеркал пучки полупрозрачным зеркалом 6 направляютна исследуемое 8 и эталонное 9 изделия. На поверхностях эти пучки интерферируют между собой, образуяэталоны системы оптических меток.Затем отраженную от поверхности изделия 8 систему эталонных меток фиксируют в плоскости регистрации изоб Оражения на экране камеры 10 для Фотосъемок через полупрозрачное зеркало 7. Одновременно проецируют вплоскость регистрации изображенияизделия систему эталонных меток, отраженных от поверхности эталонногоизделия через полупрозрачное зеркало 7.Совмещают отраженные от поверхностей исследуемого и эталонного изделия системы оптических меток путем перемещения эталонного изделиядо полного исчезновения образующихся в процессе совмещения интерференционных полос. Исследуемое изделие снагружают, регистрируют образующуюсяв процессе нагружения интерференционную картину и по ней измеряют деФормации.В процессе деформации исследуемого изделия, поверхность которого может быть произвольной формы, между системами оптических меток от исследуемого 8 и эталонного 9 изделий возникает разность хода, которая вызывает смещение этих меток относительно друг друга в плоскости регистрации изображения изделия, и на равномерно освещенном поле появляется картина из интерференционных полос, по которым определяют величину деформации.В плоскости регистрации появляются только полосы, соответствующие величине деформации. Других полос, усложняющих определение величины деФормации в процессе нагружения исследуемого изделия, не возникает,Формула изобретения"Способ измерения деформаций изделий, заключающийся в том, что на поверхность.исследуемого изделия до нагружения проецируют эталонную систему меток, затем отраженную от поверхности изделия эталонную систему меток Фиксируют в плоскости регистрации изображения изделия, одновременно проецируют в плоскость регистрации изображения изделия эталонную систему меток и совмещают ее с отраженной от поверхности иэделия эталонной системой меток до полного исчезновения образующихся в процессе сов- мещения интерференционных полос, нагружают изделие, регистрируют образующуюся интерференционную картину и па ней измеряют деформацию, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения технологических возможностей способа путем измерения деформаций изделий произвольной Формы, до нагружения одновременно с проецированием эталонной системы меток на исследуемое изделие проецируют эталонную систему меток на эталонное изделие, поверхность которого является зеркальным отражением исследуемой поверхности, а в плоскость регистрации изображения проецируют эталонные системы меток, отраженные от поверхности исследуемого и эталонного изделий.1245875 Составитель Л.Пучковтор А.Козориз Техред М.Ходанич ректор Г.Решетни Заказ 3985/31 6 писное та СС 4/ ушс Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужго ектная,ВНИИПИ по д 113035сударственноам изобретенииМосква, Жкоми и от ытии ая наб