Сыпалов

Номер патента: 1245875

Опубликовано: 23.07.1986

Авторы: Новиков, Сыпалов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...эти пучки интерферируют между собой, образуяэталоны системы оптических меток.Затем отраженную от поверхности изделия 8 систему эталонных меток фиксируют в плоскости регистрации изоб Оражения на экране камеры 10 для Фотосъемок через полупрозрачное зеркало 7. Одновременно проецируют вплоскость регистрации изображенияизделия систему эталонных меток, отраженных от поверхности эталонногоизделия через полупрозрачное зеркало 7.Совмещают отраженные от поверхностей исследуемого и эталонного изделия системы оптических меток путем перемещения эталонного изделиядо полного исчезновения образующихся в процессе совмещения интерференционных полос. Исследуемое изделие снагружают, регистрируют образующуюсяв процессе нагружения интерференционную...