Способ исследования трения и изнашивания

Номер патента: 1244560

Авторы: Барзов, Вдовин

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК И 35 ЗСВ.Р И,ВИЬД ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ 8 ИДЕТ СТВУ ВТОРСК ГОСУДАРСТ 8 ЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(71) Научно-исследовательский инсти тут проблем машиностроения при МВТУ, имН.Э.Баумана(72) А.А.Барзов и А.А.Вдовин (53) 620.178.162 (088.8) (56) ВасК 1 еу Р.Н. Бпгйасе еЫесСз пайЬезюп, Егдсгдоп, чеаг апй 1 пЬ- гсайюп. Е 1 зчхег ЗсепгНс РпЬ 1 хз" Ьдпд Сошрапу. Ашзегйаш-Охйогй-Беч.1 ог 1 с, 1981.Евдокимов В,Д., Семов Ю,И, Экзоэлектронная эмиссия при трении. М.: Наука, 1973, с.182.(54) СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ТРЕНИЯ И ИЗ" ЯО 1244560(57) Изобретение относится к испытательной технике. Целью изобретенияявляется повышение точности исследования процесса трения при использовании в качестве характерного параметра экзоэлектронной эмиссии с поверхности трения, которая достигается за счет того, что с рабочей парытрения регистрируют параметры тренияи изнашивания и экзоэлектронную эмиссию, регистрируют параметры электромагнитного излучения в двух точкахповерхности трения, расположенных наодинаковом расстоянии от инденторапо траектории его движения, а об экзозлектронной эмиссии судят по разности значений электромагнитного излучения 3 ил.1244560 30 верхность исследуемого образца с ин 35, дентором, нагружают пару сжимающей 40 45,индентора по траектории его движения, а об экэоэлектронной эмиссии судят по разности значений электромагнитного излучения. 50 Изобретение относится к испытательной технике, точнее к способам исследования процессов трения и изнашивания, и может быть использовано при изучении работоспособности узлов трения.Цель изобретения - повышение точности исследования процесса трения при использовании в качестве характерного параметра экзоэлектронной эмиссии с поверхности трения.Способ заключается в том, что образуют пару трения, сопрягая поверхность исследуемого образца с индентором, нагружают пару сжимающей нагрузкой, задают относительное перемещение, регистрируют параметры трения и изнашивания и экзоэлектронную эмиссию с поверхности трения исследуемого образца, строяТ тарировочные зависимости между этими величинами, по которым судят о характере процесса трения, причем об экзоэлектронной эмиссии судят по разности значений электромагнитного излучения, замеренного в двух точках поверхности тревния, расположенных на одинаковом расстоянии от индентора по траектории его движения,На фиг. схематически представлено устройство для реализации способа исследования трения и изнашивания; на фиг. 2 и 3 - схемы замеров злект" ромагнитного излучения в разных точках поверхности трения исследуемого образца (после прохода индентора и перед индентором соответственно). Схема реализации способа включает датчик 1 электромагнитного иэлуче" ния, индентор 2. Позициями 3 и 4 обозначены траектории движения инден тора по поверхности исследуемого образца 5, причем поз.З - траектория движения по поверхности образца 5 после прохода индентора, поз. 4 - траектория движения по поверхности ,образца до того, как по нему проходит индентор; 8 и 8 направление движения индентора. 5 О 15 20 25 Способ реализуется следующим образом,Образец 5 из исследуемого материала устанавливают в образцедержатель и приводят во взаимодействие с индентором 2 с закрепленным на нем датчиком 1 электромагнитного излучения, выполненным, например, в виде катушки индуктивности. Прикладывают к индентору нормальную нагрузку и перемещают его по поверхности образца 5. При перемещении индентора в направлении 8, датчик 1 измеряет электромагнитное излучение сзади индентора, т.е. с поверхности, деформированной трением (траектория 3). При изменении направления перемещения индентора (направление 8 ) датчик 1 измеряет электромагнитное излучение перед индентором, т,е. с не- деформированной поверхности образца 5 (траектория 4). Определяют разность значений электромагнитных излучений, по которой. судят о величине экзоэлектронной эмиссии.1 Формула изобретений Способ исследования трения и изнашивания, заключающийся в том,что образуют пару трения, сопрягая понагрузкой, задают относительное перемещение, регистрируют параметры трения и изнашивания и экзоэлектронную эмиссию, .строят тарировочные зависимости между этими величинами,покоторым судят о характере процессатрения, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью повышения точности иследования, регистрируют параметрыэлектромагнитного излучения в двухточках поверхности трения, расположенных на одинаковом расстоянии отСоставитель З.Игнатьева Техред М.Ходанич Редактор Н.Петрова Корректор И Муска Заказ 3909/47 Тираж 778ВНЫИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий13035, Москва, Ж, Раушская наб., д.4/5 Подписное Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная, 4

Смотреть

Заявка

3581126, 18.04.1983

НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ПРОБЛЕМ МАШИНОСТРОЕНИЯ ПРИ МВТУИМ. Н. Э. БАУМАНА

БАРЗОВ АЛЕКСАНДР АЛЕКСАНДРОВИЧ, ВДОВИН АНАТОЛИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 3/56

Метки: изнашивания, исследования, трения

Опубликовано: 15.07.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1244560-sposob-issledovaniya-treniya-i-iznashivaniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ исследования трения и изнашивания</a>

Похожие патенты