Смазочная композиция

Номер патента: 1569659

Опубликовано: 07.06.1990

Авторы: Венслов, Вишневецкий, Гешелин, Жучков, Наливайко, Петляков, Погорелов, Полтавец

МПК: G01N 3/08

Метки: механических, образцов, профиля, свойств, фасонного, характеристик

...4 ил От металлопродукции фасонного про- ВаЮ филя отбирают пробы и отрезают от С них равные по длине участки, которые используют в качестве образцов 1 для цр испытаний. Одновременно испытанию подвергают несколько образцов, Для их установки в захватах 2 испытательной машины используют вкладьппи 3 сплошного. сечения, наружная поверхность которых эквидистантна внутренней поверхности испытуемых образцов 1. Образцы 1 устанавливают по периметру вкладьппей 3 и закрепляют путем сов- ффффф местного зажима этих вкладышей 3 и охватывающих их захватных частей образцов 1.Нагружение образцов 1 осуществляют до их разрушения, а характеристи569659 ки механических свойств металла образцов определяют как частное от деления усилия нагружения на...

Номер патента: 1775648

Опубликовано: 15.11.1992

Авторы: Василечко, Гута, Завалий, Мидяный, Мыцук, Панасюк, Яртысь

МПК: G01N 21/64

Метки: деформированных, исследования, коррозионных, образцов, свойств, сталей, трещиной

...разрушения образца"незначительного времени подачи коррозионной среды в проточную камеру, использования хемилюминесцентной индикаторной реакции, протекающей с большой скоростью и практически безинерционного отклика фотодетектора на излучение. Время измерения содеркания железа в коррозионной среде трещины не превышает 0,5 мин. Расширение ассортимента испытуемых сталей достигается за счет высокой чувствительности определения железа, которое составляет 2 кг и широкого интервала определяемых содержаний железа - 2 кг - 10,0 мкг, Известные способы не могут обеспечить такой высокой чувствительности, которая в предлагаемом способе обусловлена грименением высокочувствительной хемилюминесцентной системы, позволяющей к тому ке...

Номер патента: 1594466

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Мома, Предриховский

МПК: G01R 33/12

Метки: листовых, магнитных, образцов, свойств

...образца 8. В устройстве обеспечивается, также равномерный зазор между поверхностью намагничивающей обмотки и поверхностью образца 8.Устройство используют следующим образом.Карк ас 5 с о бмотк ой 7 о свобождают от зажима, снимают с цилиндра 1. Сместив встречно в радиальном направлении плоский канал для введения в измерительную обмдтку контролируемого образца 8, стыкующиеся концы которогозамкнуты прокладкой 9 зажима, содержащего также штифт 11, винт 12 нструбцину 1 О. Измерительную обмоткувключают в измерительную цепь. Выполнение намагничивающей обмотки полойпозволяет приблизить ее токоведущиеэлементы к поверхности образца 8,что способствует уменьшению потоковрассеяния и, следовательно, уменьшению погрешности измерения. 2 ил. торцы каркаса...

Номер патента: 1259136

Опубликовано: 23.09.1986

Авторы: Бровко, Каварма, Козырев, Мохнач

МПК: G01N 3/08

Метки: исследования, неметаллических, образцов, свойств, стенд, физико-механических

...21,Между рамой 1 и балкой 3 установлены замерные балочки 22-24, черезсередину которых проходят соответствующие им винты 25 - 27, соединенные с эамерными балочками 22 - 24 спомощью упорной резьбы. Между опорной площадкой 11 и винтом 27 можетбыть установлен дополнительный упругий элемент 28 и пластина 29 (в зависимости от поставленной задачи)Замерный палец 20 (Фиг. 3), соединяющий серьгу 19 со сменной пластиной 9, фиксируется от осевого смешения с помощью шайбы 30 и шплинта 31,а от поворота - стопором 32. На промежуточных не сопрягаемых поверхностях пальца 20 соосно закреплены тензометрические датчики 33, которыечерез канал 34 связи соединены с усилйвающей и регистрирующей аппаратурой (не показаны). С целью предотвращения повреждений...

Номер патента: 1384218

Опубликовано: 23.03.1988

Автор: Ханну

МПК: G01N 21/55

Метки: двух, образцов, оптических, свойств, сравнения

...2. Элемент 8 управления работает таким образом, что каждый исследуемый участок освещается одним СИД пер пендикулярно и одним СИД наклонно, так, что, когда один СИД освещает один исследуемый участок перпендикулярно, другой исследуемый участок освещается СИДом наклонно. Сигнал переменного тока с фототранзистора 7 поступает на усилитель 9, выпрямляется выпрямителем 10 и измеряется измерителем 11.Коэффициенты отражения исследуе мых участков при перпендикулярных световых лучах обозначены 0и П а при наклонных Я 1 и БСигнал к переменного тока приемника светового излучения пропорционален равенству В(О + 3 )-(Р + 8 ) или 1 2 2 1(0 - Б ) (П - Я ) . 2 2 50Используя обозначенияН=11Н= 0 Я55получаем Величины Н, и Н 2 определяют схемы направлений...