Способ контроля качества прочеса
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1164327
Авторы: Аристархов, Гусев, Кульбицкая, Потапова, Шумарина
Текст
СОаЕТСКИХЦИАЛИСТИЧЕСКИХ БЛИК ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ 3 ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИ(71) Ивановский ордена ТрудовогоКрасного Знамени текстильный институт им. М.В. Фрунзе(54) (57) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВАПРОЧЕСА, заключающийся в том, что на пробу накладывают контрольнуюпластину с отверстиями, подсчитываютчисло отверстий, в которых наблюдаются пороки, и оценивают качество п 1 очеса, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью повышения информативности контроля, дбполнительно в отверстиях, свободных от пороков, подсчитывают число пересечений волокнами осейотверстий пластины, располозенныхпараллельно и перпендикулярно направлению выпуска прочеса, а качествопрочеса оценивают по количеству поро"ков и среднему значению отношенийчисла пересечений волокнами осей отверстий, параллельных и перпендикулярных направлению выпуска прочеса.Изобретение относится к текстиль -ной промышленности и предназначено для контроля качества прочеса, формируемого на чесальных машинах. 5Целью изобретения является повышение информативности контроля качества прочеса.На фиг. 1 показана конструкция верхней контрольной пластины для осу ществления способа контроля качества прочеса; на фиг. 2 - схема расположения волокон в отверстии пластины, в котором наблюдаются пороки; на фиг.3 - схема расположения волокон в отверс тии пластины, свободном от пороков,Верхняя и нижняя контрольные пластины выполнены, например, прямоугольными из органического стекла толщиной 2-3 мм размерами 175 85 мм. На 20 верхней контрольной пластине 1 (фиг.1) ,выполнены сплошной линией 34 окружности 2 диаметром по 10 мм и их осевые линии 3. При этом оси отверстий расположены параллельно сторонам контрольной пластины. Пространство пластины между окружностями (отверстиями) закрашено краской по цвету, контрастной цвету прочеса, Таким же цветом окрашена нижняя контрольная плас.- 30тина.Способ с помощью контрольных плас- тин реализуется следующим образом.Нижнюю контрольную пластину широкой стороной располагают под прочесом З 5 вплотную к образующей нижнего давильного вала чесальной машины, т.е. перпендикулярно направлению выпуска прочеса. На пробу на площади нижней контрольной пластины накладывают 40 верхнюю контрольную пластину 1 и фик" сируют пластины относительно друг друга зажимами, Лишние участки пробы, выступающие за границы контрольных пластин, обрезают, В полученной про бе подсчитывают число отверстий 2, в которых наблюдаются пороки 4 (фиг.2) и по измерительно-расчетной таблице, .приведенной в справочниках, находят общее количество пороков в пробе на 50 площади 100 см . Затем выявляют отверстия 2, в которых не оказалосьгде Р, = 5 и, (Р 1 р " Кд 1 количество пороков в пробе на площади 100 смбазовый показатель количества пороков в пробе на площади 100 смкоэффициент, характеризующий ориентацию волокон в пробе; базовый показатель коэффициента ориентации в пробе;число отверстий верхней контрольной пластины;число отверстий, в которых наблюдаются пороки;число отверстий, свободных от пороков;количество пороков в пробе, определяемое по измеритель- но-расчетной таблице в соответствии с числом отверстий и , в которых наблюдаются пороки;число пересечений волокнами оси АА отверстия контрольной пластины, расположенной параллельно направлению выпуска прочеса;число пересечений волокнами оси ВВ отверстия контрольной пластины, расположенной перпендикулярно направлению пуска прочеса;коэффициенты весомости показателей качества.(Р )1 К ад 1 ВВ пороков, В отверстиях, свободных от пороков, с помощью микроскопа марки МПБподсчитывают число пересечений волокнами 5 осей 3 отверстий 2 контрольной пластины 1. Комплексный показатель качества прочеса оценивают по формулеР, , Р,Тираж 439Государственноголам изобретений иМосква, Ж, Ра омитета ССС открытийушская наб.
СмотретьЗаявка
3654680, 28.07.1983
ИВАНОВСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ТЕКСТИЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. М. В. ФРУНЗЕ
ГУСЕВ БОРИС НИКОЛАЕВИЧ, АРИСТАРХОВ ВИКТОР ВЛАДИМИРОВИЧ, ПОТАПОВА СВЕТЛАНА МИХАЙЛОВНА, ШУМАРИНА ВАЛЕНТИНА СЕМЕНОВНА, КУЛЬБИЦКАЯ ТАТЬЯНА ГЕННАДЬЕВНА
МПК / Метки
МПК: D01G 15/00
Опубликовано: 30.06.1985
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1164327-sposob-kontrolya-kachestva-prochesa.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля качества прочеса</a>
Способ определения степени параллелизации волокон в прочесе
Номер патента: 1603293
Опубликовано: 30.10.1990
Авторы: Воронина, Гусев, Иванов, Минц
МПК: G01N 33/36
Метки: волокон, параллелизации, прочесе, степени
...параллельных их осевым линиям.Затем подсчитывают коэффициент от- ЗО носительной параллелизации волокон пробы прочеса по формуле прочеса;К- число пересечений. волокФ уунами касательных к -йокружности;и, - число отверстий, свободных от пороков.По значению полученного коэффициента судят о степени параллелизации волокон в прочесе. В совокупности с другими этот показатель может быть испйльзован для получения комплексного показателя качеств прочсса.Использование предлагаемого способа. позволяет повысить информативность контроля качества прочеса, что, в свою очередь, дает возможность принять действенные меры по повышению качества выпускаемой продукции и нормализации работы технологического оборудованим. Формула изобретения Способ...
Устройство для проверки качества металлизации отверстий печатных плат
Номер патента: 1413557
Опубликовано: 30.07.1988
Авторы: Бибишева, Дмитриев, Долгий, Кипаренко
МПК: G01R 31/02
Метки: качества, металлизации, отверстий, печатных, плат, проверки
...в двоично-десятичном коде снимается с измерителя 10 и запоминается в блоке 18. Носигналу тактовой системы блока 11все контактные группы первого релейного переключателя коммутатора 15переходят во второе положение. Стабилизатор 1 подключается к другой паре контактных щупов 4 и производитсявторое измерение без изменения положения щупов на плате. Результат вто" рого измерения поступает в блок 18.При совпадении измерений черезблок 11 закрывается ключ 19 и всеконтактные группы второго релейногопереключателя коммутатора 15 переходят во второе положение, и блок 22 подключается к контактным щупам 4. Через щупы 4 и метаплнзированное отверстие протекает линейно возрастаю" щнй ток определенной величины н длительности, которые задаются блоком 22,...
Устройство для определения контрольного числа кадра
Номер патента: 864296
Опубликовано: 15.09.1981
Автор: Зиновьев
МПК: G06G 1/08
Метки: кадра, контрольного, числа
...с кулачком 5, и пру- .зины 7 один конец которой прикрепВ5лен к диску 3, а другой - к кулачку5. Второй вычислительный элемент выполнен в форме диска 8 с углублениями 9которые расположены под соответствующими,оцифрованными отверстиями 4 диска 3.В одном иэ углублений 9 установлен шариковый фиксатор 10, Диск 8 установлен на оси 2 под диском 3. Наддиском 3 расположен упор 11, прикрепленный к основанию 1, На поверхностиоснования 1 слева от упора 1 нанесена основная указательная метка 12,На поверхности диска 8 нанесена дополнительная указательная метка 13 однаиз которых нанесена против основной ЭОуказательной метки 12. На основании 1нанесена цифровая шкалаУстройство работает следующим образом,Набирают цифры кадра программы на Здиске...
Устройство для контроля качества обработки отверстий деталей
Номер патента: 1027514
Опубликовано: 07.07.1983
Автор: Кузнецов
МПК: G01B 11/30
...деталь 12 и привод 3поступательного вдоль оси)перемещения каретки 11, съемную кольцевуюдиафрагму 14 и корпус 15, на котором установлен"наконечник 16 с зеркалом 17 в виде конуса и жестко соединенный с ним Фотоприемник 18.Устройство. работает следующим образом,Параллельный пучок света, излучаемый источником 2 света, расширяется коллиматором 3 до необходимогодиаметра и, пройдя через кольцевуюдиафрагму 4, направляется на зеркало17 в виде конуса. Кольцевая диафрагма 4 свободно укреплена на оси 7привода 8, осуществляющего ее вращение. Отраженный зеркалом 17 световой поток направляется под некоторымуглом на контролируемую внутреннююцилиндрическую поверхность детали 12и, отражаясь от этой поверхности,поступает на фотоприемник 18....
Способ контроля качества поверхности цилиндрических отверстий
Номер патента: 1744455
Опубликовано: 30.06.1992
МПК: G01B 11/30
Метки: качества, отверстий, поверхности, цилиндрических
...в исследуемом отверстии, и следовательно нельзя контролировать отверстия диаметром от 0,3 мм,Целью изобретения является обеспечение возможности контроля качества поверхности цилиндрических отверстий диаметром 0,3 мм и более,Цель достигается тем, что в способе контроля качества поверхности цилиндрических отверстий, заключающемся в том, что освещают контролируемую поверхность световым потоком, формируют с помощью оптической системы изображения контролируемой поверхности на фотоприемнике и по току с фотоприемника судят о качестве поверхности, освещение контролируемой поверхности производят расходящимся световым потоком от точного источника света, расположенного перед контролируемым отверстием, подвергают пространственной фильтрации свет,...
Предыдущий патент: Способ получения раствора для формования
Следующий патент: Устройство для присучивания пряжи на кольцевой прядильной машине
Случайный патент: Чертежный прибор