Бибишева

Номер патента: 1413557

Опубликовано: 30.07.1988

Авторы: Бибишева, Дмитриев, Долгий, Кипаренко

МПК: G01R 31/02

Метки: качества, металлизации, отверстий, печатных, плат, проверки

...в двоично-десятичном коде снимается с измерителя 10 и запоминается в блоке 18. Носигналу тактовой системы блока 11все контактные группы первого релейного переключателя коммутатора 15переходят во второе положение. Стабилизатор 1 подключается к другой паре контактных щупов 4 и производитсявторое измерение без изменения положения щупов на плате. Результат вто" рого измерения поступает в блок 18.При совпадении измерений черезблок 11 закрывается ключ 19 и всеконтактные группы второго релейногопереключателя коммутатора 15 переходят во второе положение, и блок 22 подключается к контактным щупам 4. Через щупы 4 и метаплнзированное отверстие протекает линейно возрастаю" щнй ток определенной величины н длительности, которые задаются блоком 22,...

Номер патента: 885868

Опубликовано: 30.11.1981

Авторы: Арсентьев, Бибишева, Второв, Полупанов, Черныш

МПК: G01N 22/00

Метки: диэлектриков, листовых, параметров

...не требуется предварительного согласования высокочастотного тракта для компенсации волны . отраженной от подложки, при изменении толщины последней и величины поверхностного сопротивления контролируемой резистивной пленки. В результате повышается точность и производительность контроля, что позволяет испольэовать устройство в технологическом цикле изготовления микросхем, производя 100-ный контроль сопротивления тонких резистивных пленок, нанесенных на диэлектрические подложки. Формула изобретения Устройство для измерения параметров листовых диэлектриков, содержащее сверхвысокочастотный генератор, подключенный к нему облучатель исследуемого листового диэлектрика и отражатель, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности...