Способ измерения двух электрических или неэлектрических параметров

(9) (Н) ГОСУД АРСТ ПО ДЕЛАМ НЫЙ НОМИТЕТ СССОбРЕТЕНИЙ, И ОТНРЫТИ ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТАВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Куйбыщевский филиал Всесоюзного института по проектированию. органиэации энергетического строительства "Оргэнергострой"(56) 1. Авторское свидетельство СССР В 250485, кл. С 01 С 19(12, 1967.2, Авторское свидетельство СССР Ф 331321, кл. С 01 К 1900, 1970. (54)(57) СПОСОБ, ИЗМЕРЕНИЯ ДВУХ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ИЛИ НЕЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ, основанный на последовательном проведении тактов измерения исследуемого параметра , с получением результата У исследуемого параметра У, вместе с. однородной ему образцовой мерой Ц с получением результата д, исследуемого параметра Х вместе с однородной ему образцовой мерой ( с получением результата ( и исследуемого параметра , , умноженного на известный коэффициент Х , с получением ре" зультата, вычислении разности между результатами 4 и , о т л и ч а ю щ и й с я тем., что, с целью сокращения количества тактов и времени при ансамблевом измерении, первым тактом измерения одновременно измеряют и исследуемый параметр 1 а четвертым тактом измерения одновре менно измеряют и исследуемый параметр Х 2, умноженный на известный коэффициент 1 , вычисляют разность между результатами Ч и У, , У и У а истинные значения параметров Х и У определяют по выражениямИзобретение относится к областиэлектрических измерений и предназначено для использования при ансамблевом измерении разнородных параметров.Известен способ измерения двух 5электрических или неэлектрическихпараметров, заключающийся в последовательном проведении для каждогопараметра трех тактов измерения -исследуемого параметра, исследуемого параметра вместе с однороднойему образцовой мерой и исследуемогопараметра, умноженного на коэффициент передачи входного звена, вычислении разности между результатами первого и третьего, второго,ипервого тактов измерения и определении истинного значения каждого иэ исследуемых параметров по отношениюнайденных разностей Я ,20Недостаток известного способазаключается в низкой точности измерения, обусловленной нестабильностьюкоэффициента передачи входного звена.Наиболее близким потехническомурешению к предлагаемому является способ измерения двух электрическихили неэлектрических параметров,предусматривающий для каждого изпараметров последовательное прове- З 0дение тактов измерения исследуемогопараметра, исследуемого параметравместе с однородной ему образцовоймерой, исследуемого параметра, умноженного на коэффициент передачи вход ного звена, и исследуемого параметра вместе с однородной ему образцовоймерой, умноженного на коэффициентпередачи входного звена, вычислениеразности между результатами первого 40и третьего тактов измерения, суммрезультатов второго и третьего, первого и четвертого тактов измерения,разности указанных сумм, определение.отношения первой из упомянутых разностей к второй, умножение полученного отношения на значение образцовой меры и оценку истинного значения каждого иэ исследуемых параметров по найденному произведению 12 50Недостаток указанного способасвязан е большим количеством тактовизмерения, которое при ансамблевомизмерении двух параметров соответствует шести тактам. Сложность иэвестного способа предопределяет ибольшое время его практической реализации. Целью изобретения является сокращение количества тактов и времени при ансамблевом измерении.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу измерения двух электрических или неэлектрических параметров, основанному на последовательном проведении тактов измерения исследуемого параметра К, с получением результата 1, , исследуемого параметра , вместе с однородной ему образцовой мерой Цс получением результата 1 , исследуемого параметра М вместе с однородной ему образцовой меройс получением результата1 и исследуемого параметра 1 умноженного на известный коэффициент 1 с получением результата У , вычислении разности между результатами У и 1, первым тактом измерения одновременно измеряют и исследуемый параметр 1, а четвертым тактом измерения одновременно измеряют и исследуемый параметр 1 , умноженный на иэвестный коэффициент 1 , вычисляют разности между результатамии 1, 1 и Ч , а истинные значения параметров 1, иопределяют по выражениям1У -УС х(2)На чертеже приведена схема информационно-измерительной системы для реализации предлагаемого способа.Первичный преобразователь 1 является элементом, чувствительным к двум исследуемым параметрам Х, и Х Последовательно с нйм включены промежуточный преобразователь 2, вычислительный 3 и регистрирующий 4 блоки.Способ осуществляется следующим образом.Весь цикл измерения состоит иэ четырех тактовВ первом такте. измеряют оба исследуемых параметра Х 1 ипо выходному сигналу информационно-измерительной системы. Так как любую статическую функцию преобразования на рабочем участке можно с требуемой точностью описать отрезками прямых, результаты первого такта измерения можно представить в виде полиномов первой степени:3 1147989Х,=С 1, 1 зХ р (3)У,-Ъ, фЪ,Х (4)где О, С 1 н 1 Ь - первичные коэфЯфициенты полинома, апрующего функциипреобразования,соответствующиеХ, и ХКоэффициенты О Озависят от1 Овеличины К а Ь,Ь 2 - от величины Х 2,Вид зависимости в каждом случаеопределяется конструкцией конкретного средства измерения.Во втором такте измеряют величинуисследуемого параметра1 с однородной ему образцовой мерой 41Ч 2=с 1 С 1 ХО,), (5)В третьем такте измеряют величинуисследуемого параметра Х 2 с однород 2 Оной ему образцовой мерой Ц 211= Ь,+Ь (ХЯ, (6)Образцовые меры Ц 1 и 6 так же,как и параметры М, и Х, в общем случае, могут быть разнородны (например, величины перемещения н тем" пературы, электропроводности и давления).В четвертом такте измеряют оба параметра Х и Ху умноженных на известный коэффициент К (постоянную составляющую мультипликативного теста):У,1 = О,с 1К Х, (7) "4 "+йК "г (8)Решая полученные шесть уравнений (3) - (8), являющихся совместными, относительно Х 1 и Х 2, получают соотношения (1) и (2) . Как видно из (1) и (2), истинные значения М 1 и Х определяются не из шести тактов, как пс способу-прототипу, а лишь из четырех, чтодостаточно для идентификации функций пре" образования средств измерения.Сокращение количества тактов влечет за собой и сокращение общего времени измерения. 25 Заказ 1570/37 Тираж 748 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5