Способ измерения внутреннего электрического поля в сегнетоэлектрических материалах
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(19) (11) 4(И) 6 01 К 29/08ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ОООРнннцннц цввввнн нцвицннОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯв ввтввснавт вввдвтввватвт н. т 1 т т вин(56) 1. Кем Е.Т., Вуе К.Ь.,Япррз Р.н. Ясгпсгцга 1 дпМЬ 1 г 1 опой геггое 1 есггдс ею 1 гсМп 8 1 п гг 181 усые зи 1 йае. 1 Реггое 1 есггдсз",1971, т. 3, с. 39-48.2. Гаврилова Н.Д. и др. Спонтанная поляризация и внутренние поляв легированном триглицинсульФате. -ФТТ, 1981, т.23, В 6, с. 1775.(54) (57) 1. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВНУТРЕННЕГО ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ В СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛАХ, основанныйна определении параметров спонтаннойполяризации и последующем аналитическом расчете искомого поля Е,отличающийся тем, что,с целью упрощения, повышения точности и обеспечения возможности измерения при любой температуре, в качестве параметров спонтанной поляризации используют временаи срелаксации, имеющие место йри прило"женин к исследуемому образцу внешнего коммутируемого электрическогополя Е ею в двух различных направлениях, а в качестве расчетного используют соотношение ентр 2 Евнещ 2 ф ( у 1 )2. Способ по п,1, о т л и ч а ю - щ и й с я тем, что времена К, и, Ф релаксации определяют путем снятия временных зависимостей числа скачков переполяризации, Фиксации интервалов 1 и 1 времени возникновенияа половины общего числа скачков и де- . ления найденных значений 1 и Ф на Рь 2.1140061 1 4 20 4 19 166 25 30 110 143 100 4 18 35 127 40 90 3 14 311 45 80 Составитель Л.МорозовРедактор М.Товтин Техред М.Надь Корректор М.Демчик Заказ 258/35 Тираж 748 Подписное ВНЦИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная, 4 Ев, В/см С , С Т,С Е В/см Упрощение способа измерения прояв-,ляется в том, что в данном случае 4определяются только временаи Грелаксации спонтанной поляризации.характеризующая материал). Основнаяпогрешность предлагаемого способасвязана лишь с определением Ф и ь1 2и составляет не более ЗХ. ИзмерениеЕсегнетоэлектрика может производйться при любой температуре, учиты- О вая, что скачок переполяризации происходит при переполяризации относи-тельно малого объема (порядка 10 мы)можно сделать вывод о повышенной .чувствительности измерительной установки,.построенной в соответствии сданным способом.
СмотретьЗаявка
3647304, 26.09.1983
КАЛИНИНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
РУДЯК ВЛАДИМИР МОИСЕЕВИЧ, ЖАРОВ СЕРГЕЙ ЮРЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 29/08
Метки: внутреннего, материалах, поля, сегнетоэлектрических, электрического
Опубликовано: 15.02.1985
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1140061-sposob-izmereniya-vnutrennego-ehlektricheskogo-polya-v-segnetoehlektricheskikh-materialakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения внутреннего электрического поля в сегнетоэлектрических материалах</a>
Способ определения параметров поляризации электромагнитного поля
Номер патента: 1815612
Опубликовано: 15.05.1993
Автор: Бычков
МПК: G01R 29/08
Метки: параметров, поля, поляризации, электромагнитного
...измерительной антенны, Затем определяот первую производную фазы принятого сигнала по углу поворота измерительной антенны, рассцитывая ее, например, через приращение угла и соответствующее приращение фазы, Затем определяют угол поворота измерительной антенны, соответствующий минимулу модуля этой производной и ее значение, соответствующее этому углу, Найденное значение первой производной фазы по углу поворота измерительной антенны равно эффективному коэффициенту эллиптичности. Затем определяют коэффициент эллиптичности и направление вращения поляризационного вектора по формуле(6),Для повышения точности, определяютвторую производную фазы принятого5 сигнала по углу поворота измерительнойантенны, определяют угол поворота измерительной...
Способ определения параметров поляризации электромагнитного поля
Номер патента: 1689879
Опубликовано: 07.11.1991
Автор: Бычков
МПК: G01R 29/08
Метки: параметров, поля, поляризации, электромагнитного
...при любой величинеСначала у измерительной антенны уста- коэффициента эллиптичности измеряемого навливают эллиптическую поляризацию поля, в случае ортогональной поляризации правого направления вращения с некото- . измерительной антенны, обеспечивается рой величиной КЭ и при изменении угла 15 большая (в идеальном случае) бесконечная ориентации поляризационного эллипса из- крутизна фазовой поляризационной диагмерительной антенны измеряют фазовую, раммы в окрестности точки определения паполяризационную диаграмму и определяют раметров; максимальную величину ее первой произ- Формул а изобретен ия водной, затем устанавливают эллиптиче Способ определения параметров поля- скую поляризацию левого направления ризации электромагнитного поля,...
Система для контроля качества внутренних поверхностей
Номер патента: 1298546
Опубликовано: 23.03.1987
Авторы: Витман, Гребенюк, Кречман, Суминов
МПК: G01B 21/30
Метки: внутренних, качества, поверхностей
...сфокусированное световое кольцо на контролируемой поверхности детали 28, причем положение фокуса неоднозначно относительно отдельных участков поверхности по диаметру. Для того, чтобы сфокусировать кольцевой световой пучок на каждом из участков поверхности на пьезокерамические пластины 7, установленные на оси 6 в корпусе 5, от блока 5 управления пьезоэлементами подается соответствующее управляющее напряжение, причем величина этого напряжения в каждый момент времени определяется кодом с запоминающего устройства 16, куда заложена программа управления каждым пьезоэлементом для каждого положения контролируемой детали 28, Управление запоминающим устройством 16 осуществляется от датчика 26 положения детали, жестко связанного с механизмом 27...
Способ измерения внутренних тепловых параметров транзисторов
Номер патента: 169579
Опубликовано: 01.01.1965
Автор: Кузнецов
МПК: G01R 31/26
Метки: внутренних, параметров, тепловых, транзисторов
...напряжением, подаваемым на,него от источника, подключенного к зажимам 7. Переключение транзистора 1 в режим измерения производится коммутатором 2, контакты 8 которого размыкаются, 10 разрывая цепь эмиттера, Г 1 рл этом диод 3открывается, а диод 5 закрывается и уже не шунтирует вход осциллографа. Прямое падение напряжения на коллекторном переходе измеряется по отклонению луча осциллогра фа, на экран которого наложена прозрачнаясетка с нанесенной на нее усредненной температурной характеристикой, справедливой для значительного числа транзисторов различных типов. Шкала сетки проградуирована непо средственно в градусах. До начала измерений, регулируя величину прямого тока через коллекторный переход, сопротивлением 9 устанавливают луч...
Инсрумент для прессования полых изделий с внутренними продольными ребрами
Номер патента: 489544
Опубликовано: 30.10.1975
Авторы: Малафеев, Подгаецкий, Стариков, Степанский, Шляхин, Шухат
МПК: B21C 25/02
Метки: внутренними, инсрумент, полых, прессования, продольными, ребрами
...- раи по Б - Б на фиг. 1. Инструмент включает в себя контейнер 1,пресс-штемпель 2, иглу 3 с продольными пазами и матрицу 4 (фиг. 1). В инструменте применена игла бутылочной конструкции, 5 закрепленная в иглодержателе с самостоятельным приводом (не показаны) и неподвижная в процессе прессования.Данный инструмент применяется для прессования труб с четырьмя симметричными реб рами (фиг. 2,а) и труб с шестью попарно расположенными ребрами (фиг. 2,б).Матрица 4 снабжена продольными локальными каналами 6, сужающимися в направлении оси прессования. Каждый канал охваты вает либо один паз иглы (фиг, 2,а), либо двапаза (фиг. 2,б), Каналы начинаются с заход- ного торца матрицы и выходят на поверхность круглого очка матрицы. Игла в данном инструменте...
Предыдущий патент: Устройство для цифрового отображения формы электрического импульса
Следующий патент: Устройство для контроля состояния изоляции электрических цепей
Случайный патент: Способ вертикального сейсмического профилирования