Способ определения параметров поляризации электромагнитного поля

Номер патента: 1815612

Автор: Бычков

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИРЕСПУБЛИК 5612 9) .лЫ 29/О 51) 5 ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОВЕДОМСТВО СССР(ГОСПАТЕНТ СССР) ЛИСА ОБРЕТЕН АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ юл, %18оизводственноеобьеина ни Ю,В., Зоркин А.ф. Ансверхвысоких частота962, с.40-49,свидетельство СССР6 01 В 29/08, 1989,тенные х, Харь(54) СПОСОБРОВ ПОЛЯРИНОГО ПОЛЯ РЕДЕЛЕНИЯ ПЦИИ ЭЛЕКТРОМ МЕТНИной антенны "рф)"" -- -д" и второй"ьР ь Изобретение относится к параметров электромагнитных жет быть использовано для и эффициента эллиптичности и вращения поляризационного в тромагнитного поля,.Цель изобретения - упрощ ба,На рисунке при мостей фазы сигнализме поле мере напра ектор ниям и моя коления элекакже ее первои водной от й осям яемо и Ян ого к итаннполяризациполя и измеля разных эффициента е по формуние спосо ики зависииэмерительведены гра а на выходе ри - 90 О (ф 90 Ори 90 ф270 ь я(57) Использование: определение параметров поляризации электромагнитного поля. Сущность изобретения: в процессе поворота измерительной антенны вокруг направления на источник измеряемого поля, измеряется фазовая поляризационная диаграмма, т.е. зависимость относительной фазы сигнала на выходе измерительной антенны от угла ее поворота, а также первая и вторая производные фазы по углу поворота, после чего определяют их минимальное и максимальное значение, соответственно, и соответствующие имуглы поворота, Коэффициент эллиптичности определяют по приведенным формулам, 1 з.п. ф-лы,угла между больщим онных эллипсов изме рительной антенн значений эффектив эллиптичности, рассч лам- г-у-" периодические с периодом равр 2ным 180 О.Для отрицательных значений "гэф" фазовые поляризационные диаграммы меняют знак на отрицательный, соответственно изменяются знаки первой и второй производной, При Р =- 0" модуль первой производной имеет минимальную величину, при этом выражение (3) в зависимости от угла "у" примет видгэф -- Е - ф = - ) (у = угпп 1) (5) э --- гп иИз (2) коэффициент эллиптичности измеряемого поля определяется по формулеГ,ф - Га(7)ц 0/3Для определения "гэф" из (7) может использоваться любое значение угла Р", однако для повышения точности целесообразно использовать значение угла Р, при котором имеет место наименьшая плотность характеристик гр ф, гэф = сопэт)" в направлении параллельном оси "р", т.е. заданному приращению "Лр" соответствует наименьшее приращение "Л Гэф", С учетом изложенного выражение (7) в зависимости от угла "у имеет вид Й 9 Г/Гтах 2 - Я)тх 1 - 90 Я 1 91ГэфСЯ (90 - "гпах 1 + Угпах 2)Способ осуществляется следующим образом. Измерительнуо антенну наводят на истоцник изглеряемого поля. Затем измерительную антенну разворачивают вокруг направления на источник измеряемого поля, и в процессе разворота измеряют углы разворотов измерительной антенны в выбранной системе координат и соответствующие этим углам фазы сигналов на выходе измерительной антенны, Затем определяот первую производную фазы принятого сигнала по углу поворота измерительной антенны, рассцитывая ее, например, через приращение угла и соответствующее приращение фазы, Затем определяют угол поворота измерительной антенны, соответствующий минимулу модуля этой производной и ее значение, соответствующее этому углу, Найденное значение первой производной фазы по углу поворота измерительной антенны равно эффективному коэффициенту эллиптичности. Затем определяют коэффициент эллиптичности и направление вращения поляризационного вектора по формуле(6),Для повышения точности, определяютвторую производную фазы принятого5 сигнала по углу поворота измерительнойантенны, определяют угол поворота измерительной антенны, соответствующий макСИМУМУ МОДУЛЯ ЭтОй ПРОИЗВОДНОЙ Угпах 2Затем определяют эффективный коэффициент эллиптичности по формуле (8), Затемопределяют коэффициент эллиптичности инаправление вращения поляризационноговектора по формуле (6),Использование данного изобретенияпозволяет упростить процесс измерения.при использовании измерительной антенныс произвольной, но фиксированной поляризацией, Единственное ограничение заключается в том, цто измерительная антенна недолжна иметь круговую поляризацию. Использование изобретения по п,2 позволяетуменьшить составляющую погрешности измерений, обусловленную погрешностью измерителя разности фаз примерно в 3-10 разв зависимости от величины коэффициентаэллиптичности измеряемого поля и измерительной антенны,Формула изобретенияСпособ определения параметров поляризации электромагнитного поля, включающий наведение измерительной антенны наисточник исследуемого поля, прием ею исследуемого поля, вращение измерительнойантенны вокруг направления на источникисследуемого поля, измерение фазыр (у) принятого сигнала в зависимости от угла поворота у измерительной антенны, атакже первой производной фазы принятогосигнала на углу поворота измерительной антенны, определение ее максимального значения и соответствующего ему углаповорота измерительной антенны угпах 1 иопределение параметров поляризации исследуемого электромагнитного поля по результатам измерений, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью упрощения способа, в качестве измерительной антенны используютантенну с неизменяемой поляризацией дополнительно определяют минимальное значение модуля первой производной фазыпринятого сигнала по углу поворота измерительной антенны и соответствующий емуугол поворота измерительной антенныугпп 1 и определяют коэффициент эллиптичности по формулеГ = Гэф - Га/1-гэфга,правое направление вращения поляризационного вектора соответствует положительному значению коэффициента1815612 гэф 19 Я щах 21 Яшпак - 90 Л 19 (9 О - %пах 1 + )ъах 2) 10 Составитель В,БычковТехред М,Моргентал Корректор Л Пилипенко Редактор Заказ 1635 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж. Раушская наб 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 эллиптичности, а левое направление вращения - отрицательному значению коэффициента эллиптичности, где га - коэффициент эллиптичности измерительной антенны,ООгэф = - (у- уюп 1) - эффективный коэффидциент эллиптичности.2. Способ по п.1, о тл и ч а ю щи й с я тем, что дополнительно определяют вторую производную фазы принятого сигнала по углу поворота измерительной антенны. оп.ределяют максимум модуля второй производной и соответствующей ему угол поворота измерительной антенны 1 пах 2 и 5 определяют эффективный коэффициент эллиптичности по формуле

Смотреть

Заявка

4833410, 30.05.1990

НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ ИМ. С. А. ЛАВОЧКИНА

БЫЧКОВ ВЛАДИМИР ПАВЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 29/08

Метки: параметров, поля, поляризации, электромагнитного

Опубликовано: 15.05.1993

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1815612-sposob-opredeleniya-parametrov-polyarizacii-ehlektromagnitnogo-polya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения параметров поляризации электромагнитного поля</a>

Похожие патенты