Устройство для измерения микродеформаций поверхностей образцов под нагрузкой

Номер патента: 1136009

Авторы: Клюшкин, Ширяев

ZIP архив

Текст

.,801136009 А4(51) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТВЗЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОтйРЫтЮ(71) Волгоградский ордена ТрудовогоКрасного Знамени политехнический институт(54)(57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯфИКРОДЕФОРМАЦИЙ ПОВЕРХНОСТЕЙ ОБРАЗЦОВ ПОД НАГРУЗКОЙ, содержащее цилиндрический корпус, сменную площадку для размещения образца, установленную на торце корпуса, размещенные в нем тензобалку с измерительным щупом, закрепленным на одном ее конце, о т - л и ч а ю щ е е с я тем, что с целью повышения точности, оно снабжено тарировочньЫ приспособлением, кинематически связанным с другим концом тензобалки, и опорным стаканом, установленным соосно корпусу и подпружиненным относительно него, дно стакана жестко связано с тарировочным приспособлением, а края кинематически связаны через шарнирные опоры со свободной плоскостью сменной площадО ки, еИзобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения микродеформацийповерхностей образцов под нагрузкойв месте контакта двух образцов. 5Известно устройство для измере"ния,микродеформаций поверхностей образцов под нагрузкой, содержащеецилиндрический корпус, сменную пло-щадку для размещения образца, установленную на торце корпуса, размещенные в нем тенэобалку с измерительным щупом, закрепленным на одном ееконце 13.Однако при измерении этим устройством возникают значительные погрешности, связанные с упругой деформацией металла от деформируемой поверхности до места установки измерительного приспособления, с отсутствием 20возможности у измерительного приспособления самоустанавливаться относительно базовой поверхности, необходимостью проведения настройкитенэометрической балки вне прибора 25перед испытанием каждого образца,что, в свою очередь, повышает трудоемкость измерений.Цель изобретения - повышение точ-.ности измерений. ЗОПоставленная цель достигаетсятем, что устройство для измерениямикродеформаций поверхностей образцовпод нагрузкой, содержащее цилиндрический корпус, сменную площадку дляразмещения образца, установленную наторце корпуса, размещенные в нем тенФэобалку с измерительным щупом, закрепленным на одном ее конце, снабжено тарировочнья приспособлением, 40кинематически связанным с другимконцом тенэобалки, и опорным стаканом, установленным соосно корпусу иподпружиненного относительно него,дно стакана жестко связано с тарировочным приспособлением, а края кинематически связаны через шарнирныеопоры со свободной плоскостью сменной площадки,На чертеже изображено устройство.Устройство для измерения микродеформаций поверхностей образцов под .нагрузкой содержит цилиндрическийкорпус 1, сменную площадку 2 для размещения образца, установленную на 55торце корпуса 1, размещенные в немтенэобалку 3 с измерительным щупом 4,закрепленным на одном ее конце тарировочное приспособление 5, кинематически связанное с другим концом тенэобалки 3, опорный стакан б, установленный соосно корпусуи подпружиненный относительно него с помощью пружин 7, дно стакана жестко связано с тарировочным приспособлением 5, а края кинематически связаны через шарнирные опоры 8 со свободной плоскостью сменной площадки 2. На сменную площадку 2 при измерениях устанавливается образец 9.Кроме того, имеется винт 10 тарировочного приспособления, индикатор 11.Устройство работает следующим .образом.На сменную площадку 2 устанавливается образец 9 и нагружается тарировочным грузом, при этом измерительный щуп 4 прогнет тенэобалку 3. К тарировочному приспособлению 5 ( к его наружному винту 10 ) подводится индикатор 11, стрелку индикатора при этом совмещают с нулем шкалы. Такое положение нижнего конца тенэобалки 3 принимается за нулевое. Проводят тарировку тензобалки при помощи наружного винта 10 тарировочного приспособления. Затем последовательно на сменную площадку 2 устанавливают образцы и нагружают их,Под действием ,силы происходит перемещение и микро- . деформация поверхности образца 9, соприкасающейся со сменной площадкой. Измерительный щуп 4 изгибает тензобалку, сигнал с которой регистрируется вторичными измерительными приборами не показаны ). Повышение точности измерений микродеформаций предлагаемым устройством достигается за счет того, что тарировка тензометрической балки осуществляется непосредственно в приборе по испытуемому образцу, опоры опорного стакана и измерительныйщуп расположены в одной плоскости - плоскости стыка сменная площадка - испытуемый образец, что исключает погрешности, возникающие при деформации слоев материюала между зоной контакта и местом опор, позволяя получать достоверные данные о микроперемещениях поверхностных слоев испытуемого образца. Тарировочно-измерительное приспособление самоустаиавливается относитель" но пуансона за счет шарнирного соеди. кения опор опорного стакана и соотСоставительтор Е. Лушникова Техред М,К Муска: Корректор 29 Тираж 651И Государственного комитета ССделам изобретений и открытийМосква, Ж, Раушская наб.,аказ 102ВНИИП сное 11303 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная 3 13 бО 09 4ветственно корпуса тарировочно-измери- непараллельностью торцов опорной тельного приспособления, исключая площадки и неперпендикулярностью погрешности, связанные с возможной торца корпуса его,образующей.

Смотреть

Заявка

3441673, 19.05.1982

ВОЛГОГРАДСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ

КЛЮШКИН ИГОРЬ ЕФИМОВИЧ, ШИРЯЕВ АЛЕКСАНДР МИХАЙЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 7/16

Метки: микродеформаций, нагрузкой, образцов, поверхностей

Опубликовано: 23.01.1985

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1136009-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-mikrodeformacijj-poverkhnostejj-obrazcov-pod-nagruzkojj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения микродеформаций поверхностей образцов под нагрузкой</a>

Похожие патенты