Способ измерения объемных зарядов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1132261
Автор: Селвикян
Текст
(19) 1) З(51) С 01 К 29/24 ААС ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н АОТОАСНОНУ СССССВТССОСТОУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТКОЙ(56) 1. Имянитов И.М. Приборы и методы для изучения электричества атмосферы. М., Гостехиздат, 1957,.с. 335-343,2. Авторское свидетельство СССР В 91098, кл. С 01 К 29/08, 24.10.49 (прототип).(54)(57) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОБЪЕМНЫХЗАРЯДОВ, заключающийся в измерениинапряженности электрического поляу пластины плоского конденсатора,помещенного в исследуемую областьпространства, .о т л и ч а ю щ и й -с я тем, что, с целью повышения точности, измерение напряженности электрического поля производят .одновременно у обеих пластин плоскогоконденсатора и по сумме измеренныхвеличин определяют объемный заряд.1 О где 1 ц - контактная разность потенциалов между пластинами,конденсатора,а напряженность электрического поля,измеренная .у второй пластины,кон 15 денсатора, Е 1 равна разности 251132Изобретение относится к электрическим измерениям и может быть использовано в метеорологии при использовании электрических свойств атмосферы, а также для контроля электризации аэродисперсных смесей в различных технологических процессах.Известны способы измерения объемного заряда, заключающиеся в измерении при помощи коллектора потенциала в центре проволочной клетки, помещаемой в месте определения объемного заряда 1.Недостатками таких способов являются сложность и низкая точность.Наиболее близким к предлагаемому является способ измерения объемных зарядов, заключающийся в измерении напряженности электрического поля у пластины плоского конденсатора, по мещенного в исследуемую область пространства, и по формуле 261 гтины конденсатора, Е 1 равна сумме .напряженностей электрического поля., создаваемых объемным зарядом и контактной разностью потенциалов между пластинами 6 чЕ,= - +Еоф Ч,Е= - -. - уЕосуммирование Е 1 и Е позволяет исключить .влияние контактной разности потенциалов, имеющейся между пластинами плоского конденсатора, на точ-. ность определения объемного заряда.- диэлектрическая постоянная,в . диэлектрическая, проницае, мость средьг,напряженность электрического поля, у пластины плоского конденсатора;- расстояние между пластинами конденсатора, определяют величину объемного заряда 2.35Однако известный способ обладает невысокой точностью, что обусловлено наличием контактной разности потенциалов между пластинами плоского конденсатора и ее изменениями в зависимос-" ти от материала и состояния поверх 1ности пластин.Цель изобретения - повышение точности измерения объемного заряда.Поставленная цель достигается тем,ф 5 что согласно способу измерения объемных зарядов, заключающемуся в измерении напряженности электрического поля у пластины плоского конденсатора, помещенного в исследуемую область пространства, измерение напряженности электрического поля производят одновременно у обеих пластин плоского конденсатора и по сумме измеренных величин определяют объемный за ряд.Поскольку напряженность электрического поля, измеренная у первой пласСпособ реализуется следующим образом.Плоский конденсатор с заземленными пластинами помещают в исследуе- мую область пространства, Длина пластин плоского конденсатора должна быть быть значительно больше расстояния между ними для того, чтобы электрическое поле, создаваемое объемным зарядом в конденсаторе было од-.Э нородным в местах измерения., Одновременно у обеих пластин конденсатора измеряют напряженность электрического поля, например,с помощью электроста-. тических флюксметров, устанавливаемых заподлицо с пластинами конденсатора, и измеренные значения суммируют, например, с помощью сумматора. Величину объемного заряда определяют по формулеЕбое.:где 1 - величина напряженностиэлектрического поля на выходе сумматора,Предлагаемый способ измерения объемного заряда позволяет полностью исключить ошибку за счет контактной разности потенциалов и тем самым повысить точность измерения, особенно всложных метеорологических условиях3 11322 б 1 4большого перепада температур и т.д.) . риалу, из которого изготавливают кона также снизить требования как к мате-денсатор, так и к его размерам.Составитель Е. ПлуиниковаРедактор С.Тимохина Техред А.Кикемезей Корректор М.МаксимишинецЗаказ 9787/39 . . Тираж 710 . ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035 Москва, Ж, Раушская наб., д 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4
СмотретьЗаявка
3543721, 17.01.1983
ГЛАВНАЯ ГЕОФИЗИЧЕСКАЯ ОБСЕРВАТОРИЯ ИМ. А. И. ВОЕЙКОВА
СЕЛВИКЯН ЯКОВ ВАГАРШАКОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 29/24
Опубликовано: 30.12.1984
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1132261-sposob-izmereniya-obemnykh-zaryadov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения объемных зарядов</a>
Предыдущий патент: Устройство для автоматического допускового контроля неравномерности амплитудно-частотной характеристики
Следующий патент: Измерительный электрод для проведения функциональных испытаний изоляции высоковольтных электрических машин
Случайный патент: Способ количественного определения 1-окси-2 метилдиэтаноламинобензола