Селвикян

Номер патента: 1132261

Опубликовано: 30.12.1984

Автор: Селвикян

МПК: G01R 29/24

Метки: зарядов, объемных

...Ч,Е= - -. - уЕосуммирование Е 1 и Е позволяет исключить .влияние контактной разности потенциалов, имеющейся между пластинами плоского конденсатора, на точ-. ность определения объемного заряда.- диэлектрическая постоянная,в . диэлектрическая, проницае, мость средьг,напряженность электрического поля, у пластины плоского конденсатора;- расстояние между пластинами конденсатора, определяют величину объемного заряда 2.35Однако известный способ обладает невысокой точностью, что обусловлено наличием контактной разности потенциалов между пластинами плоского конденсатора и ее изменениями в зависимос-" ти от материала и состояния поверх 1ности пластин.Цель изобретения - повышение точности измерения объемного заряда.Поставленная цель достигается...

Номер патента: 1129560

Опубликовано: 15.12.1984

Автор: Селвикян

МПК: G01R 29/12

Метки: флюксметр, электростатический

...выход сумматора через усилитель с коэфФициентом усиления, равным трем, подключен к первому входу второго диФ- ф 0 Ференциального усилителя, второй вход которого соединен с выходом первого диФФеренциального усилителя, а измерительные пластины электрического генератора расположены на раз ных в соотношении 1:2 высотах от заземленного экрана.На чертеже представлена Функциональная схема электрического Флюксметра.Устройство содержит электростатический генератор 1, выполненный в виде двух измерительных пластин 2 и 3 и заземленного экрана 4, причем измерительные пластины 2 и 3 соединены со входами первого диФФеренциального усилителя 5 и с входами сумматора б, выход которого через усилитель 7 с коэййициентом усиления, равным трем, соединен с...