Автоматический интерфференционный рефрактометр
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения абсолютного показателя преломления жидкости, и можетбыть использовано для определенияхимических и теплофизических параметров жидких веществ.Известен рефрактометр для измерения.разности показателей преломления веществ, содержащий немонохроматический источник света, расширяющую систему, четыре кюветы, одна иэ которых содержит исследуемое вещество, атри другие - контрольное вещество,диафрагму, собирающую и цилиндрическую линзы, механический компенсатороптической разности хода и окуляр.Измерение производится путем визуального наблюдения величины относительно сдвига двух интерференционных картин 111,Недостаток известного устройства,заключается в невозможности точногоопределения абсолютного показателяпреломления жидкости вследствие отсутствия точной информации о показателе преломления контрольной жидкости и низкой точности метода регистрации сдвига интерференционныхкартин.Наиболее близким по техническойсущности к изобретению является авто-ЗОматический интерференционный рефрактометр, содержащий последовательнорасположенные лазер, телескопическуюсистему, включающую две линзы, междукоторыми установлен интерференционный модулятор, блок кювет, включающийрабочую и три контрольные вакуумиро-ванные кюветы и ориентированный параллельно оптической оси лазера,диаФрагму, собирающую линзу, цилинд ррическую линзу и два блока фоторегистрации, а также блок измерения иблок управления модулятором 121.Основной недостаток данного устройства состоит твкже в невозможности точного определения абсолютногопоказателя преломления жидкостей,обусловленной отсутствием эталонныхжидкостей с известными с высокойточностью показателями преломления,Цель изобретения - повышение точности измерения абсолютного показателя преломления жидкостей.Поставленная цель достигаетсятем, что в автоматический интерференционный рефрактометр, содержащийпоследовательно расположенные лазер,телескопическую систему, включающуюдве линзы, между которыми установленннтерференционный модулятор, блоккювет, включающий рабочую и три конт рольные вакуумированные кюветы и ориентированный параллельно оптической. оси лазера, диафрагму, собирающуюлинзу, цилиндрическую линзу и дваблока фоторегиотрации, а также блок, 65 измерения и блок управления модулятором, введен третий блок фоторегистрации, выход которого соединен с входом блока измерения, а блок кювет помещен в вакуумированную кювету с двумя прозрачными боковыми стенками, снабжен устройством для поворота кювет в одной или двух плоскостях и в него дополнительно введены эталонная и четвертая контрольная вакуумированная кюветы.На чертеже показана оптическая схема предлагаемого устройства.Оптическая часть автоматического интерференциального рефрактометра содержит лазер 1., телескопическую систему, включающую линзы 2 и 3, диафрагму 4, блок кювет, включающий шесть кювет 5-10, собирающую линзу 11, цилиндрическую линзу 12, три блока фото- регистрации 13-15, интерференционный модулятор 16 оптической разности хода, устройство для поворота кювет 17, и вакуумированную камеру 18 с двумя прозрачнымистенками. Кювета 5 содер- жит исследуемое жидкое вещество, кювета 7 содержит эталонное.газообразное вещество, кюветы 6, 8, 9 и 10 вакуумируются.Устройство работает следующим образом.Луч лазера 1 расширяется телескопической системой линз 2 и 3 так, чтобы распределение интенсивности й . пределах щелей диафрагмы 4 было возмож-; но более равномерным. Припрохождении света через кюветы 5-10 кюветы 7 и 9 на чертеже не видны ) образуются шесть когерентных лучей, которые, проходя через узкие щели диафрагмы 4, дифрагируют на них и собираются линзой 11 в ее фокальной плоскости с образованием трех интерференционных картин. Пространственное положение полос в интерференционных картинах определяется характером отличия показателей преломления исследуемого и эталонного веществ. Изобретение каждой интерференционной картины растягивается по горизонтали цилиндрической линзой 12 и проектируется на плоскость анализа соответствующих блоков фото- регистрации 13-15. Интерференционный модулятор 16 осуществляет модуляцию оптической разности хода лучей по периодическому, например, синусоидальному закону, устройство 17 служит для поворота системы кювет в одной или двух плоскостях и может организовываться на базе обычных микрометрических устройств, обеспечивающих поступательное перемещениеВакуумированная камера 18 позволяет исключить влияние нестабильности показателя преломления воздуха на точность измерений.Измерения с помощью предлагаемого устройства основаны на следующем.
СмотретьЗаявка
3521589, 16.12.1982
МОСКОВСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА И ОРДЕНА ОКТЯБРЬСКОЙ РЕВОЛЮЦИИ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
ГРИШИН ВАЛЕНТИН НИКОЛАЕВИЧ, МАРКОВИЧ ЮЛИЯ МИХАЙЛОВНА, МИЩЕНКО ЮРИЙ ВИКТОРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 21/45
Метки: автоматический, интерфференционный, рефрактометр
Опубликовано: 30.08.1984
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1111077-avtomaticheskijj-interfferencionnyjj-refraktometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Автоматический интерфференционный рефрактометр</a>
Предыдущий патент: Способ термометрии микрообъектов по пристенному слою окружающей среды
Следующий патент: Проточный флуоресцентный детектор для аминокислотного анализа
Случайный патент: Газовая вагранка