Устройство для измерения ширины линии поглощения ферромагнитного материала

Номер патента: 1045182

Авторы: Балинский, Берегов, Кудинов, Обламский

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИН д) С 01 к 33/12 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ АНИЕ ИЗОБРЕТЕН ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ"Сов М.26 еСНа 11 оп "1 ЕЕ 1974 2. гора 8 пеа.ф 90. Я 1 г 1 Е 111 к М,Н. пй МЯЯИ Ре 1 ау асйопа оп Мадпе-10, Р 3, р,787 геа 1.10 ЯЯ а Е Тгапч. МА(71 ) Киевскнический инВеликой Октреволюции (53) 621.31 ЯО 10451(54 ) (57 ) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯШИРИНЫ ЛИНИИ ПОГЛОЩЕНИЯ ФЕРРОМАГНИТНОГО МАТЕРИАЛА, содержащее линию задержки, расположенную во внешнемпостоянном магнитном поле, состоящую из входного и выходного микрополосковых преобразователей, нанесенных на диэлектрическую подложку,о т л и ч а ю щ е е с я тем, что,с целью повышения точности измерения ширины линии поглощения, линиязадержки снабжена двумя дополнительными выходными микрополосковымипреобразователями, расположеннымина диэлектрической подложке междувходным и выходным микрополосковымипреобразователями, причем расстояния между соседними выходными микрополосковыми преобразователями неравны.10 Изобретение относится к измерительной технике сверхвысоких частот(СВЧ), а точнее к устройствам дляисследования свойств ферромагнитных материалов, и может быть использовано для исследования физических 5свойств тонких ферритовых пленок.Известно устройство для измеренияширины линии поглощения СВЧ мощности (24 НК), соответствующей возбуждению в ферромагнитном материалеколебаний вектора намагниченности сволновым числом К =211, где Я - длина волны колебаний, зависящая от величины постоянного поля подмагничивания и частоты СВЧ сигнала, содержащее постоянный магнит, волноводили резонатор, в котором расположенисследуемый материал. Значение поглощения определяется по различикв уровнях СВЧ мощности, зарегистрированной до ферромагнитного материала и после, а также по измерениюинтенсивности отклика спинового эхапри определенном расстоянии междусигнальным и опорным импульсами .(11.Недостатком данного устройстваявляется низкая точность измеренияширины линий поглощения тонких слоев ферромагнитного материала,Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является устройство для измерения ширинылинии поглощения ферромагнитногоматериала, выполненное в виде линии задержки, помещенной во внешнее постоянное магнитное поле и со- З 5деражащей входной и выходной микрополосковые преобразователи, нане. сенные на диэлектрическую подложку,отделяющую исследуемый ферромагнитный материал от заземляющей пластины Г 23Недостатком известного устройстваявляется низкая точность измеренияширины линии поглощения ферромагнитного материала, так как оно не позволяет учесть влияние внешнего постоянного магнитного поля и частотыСВЧ сигнала на условия возбуждения,затухания и отражения магнитостатических волн.Цель изобретения - повышение точности измерения ширины линии поглощения ферромагнитного материала,Укаэанная цель достигается тем,что в устройстве для измерения ширины линии поглощения ферромагнитного 55материала, содержащем линию задержки, расположенную во внешнем постоянном магнитном поле, состоящую извходного и выходного микрополосковых преобразователей, нанесенных на 6 Одиэлектрическую подложку, линиязадержки снабжена двумя дополнительными выходными микрополосковыми преобразователями, расположенными на диэлектрической подложке между входным и выходным микрополосковыми преобразователями, причем расстояния междусоседними выходными микрополосковыми преобразователями не равны.На чертеже изображена схема устройства для измерения ширины линиипоглощения ферромагнитного материала.На схеме условно обозначены падающая Рп д, отраженная Рр, прошедшаяР мощности магнитостатической волны и мощность Р отбираемая отводом.Устройство выполнено в виде линиизадержки, помещенной во внешнее постоянное магнитное поле, создаваемоемагнитами 1, содержащей входной 2и выходной 3 микрополосковые преобразователи, нанесенные на диэлектрическую подложку 4, отделяющую исследуемый ферромагнитный материал 5от заземляющей пластины б Н, снабженной двумя дополнительными выход- .ными микрополосковыми преобразовате-лями 7 и 8, расположенными на диэлектрической подложке 4 между входным 2 и выходным 3 микрополосковымипреобразователями.Устройство работает следующимобразом,Через входной микрополосковыйпреобразователь 2 в исследуемый ферромагнитный материал 5 подается СВЧимпульс с частотой заполнения, соответствующей диапазону возбуждениямагнитостатических волн при заданномзначении вектора внешнего постоянного магнитного поля, Часть мощностиимпульса, которая не должна превышать допустимую для линейного режима возбуждения, преобразуется в магнитостатическую волну и разделяетсяв ферромагнитном материале 5 на прямую Р и обратную Р. Прямая магнитостатическая волна, испытав затухание и задержку на длине 1, достигает дополнительного микрополоскового преобразователя 7 с мощностьюРц и разделяется на РР, соответствующую мощности, отраженной от преобразователя 7, Рсоответствующую мощности, прошедшей за преобразователь 7, и Р , соответствующуюмощности, отбйраемой преобразователем 7. Магнитостатическая волна,соответствующая Р пр, сновая испытывает задержку и затухание на длине 3, Падающая на дополнительныймикрополосковый преобразователь 8мощность Рд 2 разделяется на РО 2,омраспределяется мощность на выходномпреобразователе 3,Потери в ферромагнитном материале 5, позволяющие определить значение ширины линии поглощения, связаны только с затуханием и задержкойпрямой магнитостатической волнымежду микрополосковыми преобраэоваЗаказ 7547/48 Тираж 710 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 телями и могут характеризоваться коэффициентом передачи среды Кор, который связан с падающей и прадедшей мощностью следующим образоморгде= 2, 3, 4, и может быть найден из формулы полученной с учетом всех мощностей и длин между микро- полосковыми преобразователями1 де,-е,) е,)сротБ / ото Отоср 2 . От 2 от3 Укаэанная формула позволяетнайти К лишь В случае 3 , т.е, расстояния между соответствующими микрополосковыми преобраэователямн 7 и 8, 8 и 3 должны быть не 5равны. Изобретение позволяет в б раз повысить точность измерения ширины линии поглощения тонких пленок ферромагнитного матерна" ла.

Смотреть

Заявка

3417867, 14.01.1982

КИЕВСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. 50-ЛЕТИЯ ВЕЛИКОЙ ОКТЯБРЬСКОЙ СОЦИАЛИСТИЧЕСКОЙ РЕВОЛЮЦИИ

БАЛИНСКИЙ МИХАИЛ ГЕОРГИЕВИЧ, БЕРЕГОВ АЛЕКСАНДР СЕРГЕЕВИЧ, КУДИНОВ ЕВГЕНИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, ОБЛАМСКИЙ ВЛАДИМИР ГРИГОРЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 33/12

Метки: линии, поглощения, ферромагнитного, ширины

Опубликовано: 30.09.1983

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1045182-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-shiriny-linii-pogloshheniya-ferromagnitnogo-materiala.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения ширины линии поглощения ферромагнитного материала</a>

Похожие патенты