Устройство для измерения ширины линии ферромагнитного резонанса ферритовых пленок

(23) Приоритет ао делам изооротаикй и открытийДата опубликования описания 15,08,82(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШИРИНЫ ЛИНИИ ФЕРРОМАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА ФЕРРИТОВЫХ ПЛЕНОК Изобретение относится к измерительнойтехнике, в частности к измерению параметров ферритов, и предназначено для измерения ширины линии ферромагнитного резонан.са ( ЛЩ ферритовых пленок,Известны устройства для измерения ЛН,в которых в качестве измерительного устройства используются полые электродинамические системы, а также микрополосковые иполосковые стрелки линии передачи 1. Однако для того, чтобы измерит, ширинулинии ферромагнитного резонанса, нужны ферри.товые образцы .чалых размеров (т.е, необходиморазрушить крупные образцы), для установки об.разцов в измерительное устройство необходимоизготовление прецизионных устройств, низкаячувствительность устройства не позволяет производить измерения тонких ферромагнитныхпленок (3 - 5 мкм)невозможно проведениелокальных измерений в различных областяхпо площади измеряемой ферритовой пленки,Пленочные образцы произвольных размеровпозволяет исследовать установка с измерительным устройством в виде двух короткозамкнутых отрезков микрополосковых линий нанесенных на диэлектрические подложки.Устройство состоит из двух закороченных микраполосковых линий, нанесенных на две диэлектрические подложки с металлизнрованными торцами; диэлектрические пластины ус. тановлены на немагнитном металлическом основании вплотную металлизированными торца Оми таким образом, чтобы закороченные микрополосковые отрезки находились встык другк другу, Связь измерительного устройства сосхемой установки осуществляется посредством коаксиальнс-полосковых переходов. Образец в виде ферритовой пленки с помошьюприжимного приспособления устанавливаетсяна стыке двух закороченных микрополосковых линий. Подмагничиваюшее поле с помощьюспециальной магнитной системы прикладыва О ется перпендикулярно плоскости пленочногообразца 12). Однако сильная зависимость результатов измереций от величины угла приложения по.,С.Ес 1,:;Есо 1 СЕ:; С;-, ), С:С,1 .сзс 11 1 ссс Р".сОй ТВ: вс:1П Ц Пса 1 ЕПСа ГИЦ, раЗМЕВКП:.д Ьсе;71 у се;,1 .ПСЕОясцц ЬП-. МВ 1 спсЕ.ЕПО г;". 1 Г; О 7 ЕПВГЦЕСсц:Вапяцсто ПОЛЯ С ПОМОЦЬЕО ЦУНТ В01 В 1;я и:1 змеряется мицимальныи козф.ссППЕИЕЦТ ЗЗГУХаЕПЕЕЕ ПО МОГЦ ГОСтц СИГПала На В 1,1 хоце измерительного устроистВа на резо п 1 п цо 1 пасс оте. Гпс измерсинои е 1 еличице ВЕ 1- : ИСЕЯсЕОГ УРОВЕНЬ ЗатУХаНИЯ, На КОТОРОМ ЦЕ- оохо.имо производить измерения. Путем измсцсп.Ея частоты производится установка вы 111 с 11 еццого уровня затухаееия на пвух частогах г, и т 2, По результатам определения Еастот ф 1 и е; вы 1 исляется 11 ПЕ исследуемого образца по формулеД1 паиП ХсППОжец 11 ОЕ устрОйетВО Ласт ВОЗМОжЕЕОСТЬпо 1 сцть топЕзсть измерений й за счет ис.кл 1 очс ия це п 1 авильцой установке 1 образцаог 1 сос 11 телып 1 Всцс 1 ццего е 1 одслагничиваЕОНЕего петпя пе требует громоздких магнитных системи характеризуется простотой установки изме асмы. Образцов,свпо с 1 сспа ЕЕЗОбрЕ 1 цияс1 стзОЙство дл 11 цзмерення пЕирины линии ;:Есррома 111 итцого резонанса ферритовых плецслс, содер 1 тш 1 ее два короткозамкцутых отрезк 1;кро.1 олосковой линии, нанесенных на;1 ПЗ 11 СК 1111 ПЕЕСКИС ПО,тложКИс; СтаНОВЛЕЕЕНЫЕ ВНЕН 1 тпуЕС одна к другор 1 своими металлизиро. папып; торцами,. о - : л и ч а еп 1 ц е е С Л П :., ггО, С ЦСЛЫС ЕОВЬППЕЦИЯ тОЧНОСсь Е ЛИЕПЕ, В:1 ЕГО ЛОПГСЕНИтЕЛЬНО ВВЕЛЕДП 1 П СГОЕПЕЦЫХ МаГНИтас а ИЗМЕРИтсЛЬНОЕпсЕзо Еыполцсцо в виде двух стальных ЕП аетс 11 с К КаЕКДОй ИЗ КОТОРЫХ ПРИКРЕПЛЕНЫ . ЛНО 11 мсЕНЕьгьги полеасами лва постояце 1 ьх маг.а коро 1 козамкцутые отрезки микропо.к,;:пых 1 иций размегцсцы между двумя 1 ОС . ОВЕН Ы 1 с 1 1 апцита Ми На ОЛЕ 1 ОЙ И:3 СТаЛЬи ы х и;1." с т ц и,1 СТОЧНЕЕКИ ИцфОрМаПИИ,прппягыс и ЕН 1111 иание при зкспертизе" .-1 ецко д и др. Измерение цтреп 1 ы лп пп. ферромагнитного резонанса ферР 1 ЕОП Ы: ПЛЕНОК. "ВОПРОС с СПЕПИа.ЕЬНОй РаДИС;Ероцикп .:.ео. 1 Г 10. Вые 1, 1 978,951208 оставитель Г, Змиевскаяехред Т. Магочка Корректор А.дз Дь 1 льен едак ПодтисСССР ид. 4/5"Патент П ород, ул. Проект ипи аказ 5940/51 ВНТираж ИИПИ Государстве по делам иэобре Москва, Ж - 35, нного комитет ений и отх рь Раушская наб