Прибор для определения удельной поверхности порошкообразных материалов

Номер патента: 1610415

Опубликовано: 30.11.1990

Авторы: Квавадзе, Надарейшвили

МПК: G01N 25/20

Метки: исследуемого, образца, разностей, теплоемкостей, эталона

...регулирования, датчиком которой является термобатарея, а нагрузками - нагреватели адиабатических экранов кало".5 риметра. Это обеспечивает адиабатные условия дифференциальных ячеек в ходе всего процесса, Если теплоемкости образцаи эталона отличаются на неко- торую величину С, то во время нагре ва возникает разность температур ЕТ(г) между ячейками, как Функция времени, по которой определяют количество тепла Щ, перешедшее из одной ячейки в другую, Так как в начале и в конце 15 нагрева разность температур между ячейк ами р авиа нулю ( сист ема находится в тепловом равновесии), то,ЬС = = 2 ЛЯЙТ, так как й 0 Я, где (гчувствительность калориметра при температуре Т = (Т+ Т ) /2, то разность теплоемкостей образца и эталона может быть равна...

Номер патента: 1129514

Опубликовано: 15.12.1984

Авторы: Крючков, Пекерман, Пиевский

МПК: G01N 7/14

Метки: воздуха, исследуемой, массе, содержания

...размеров образца регистрируют 5 происходит неравномерное распреде.с момента достижения линейного изме- ление давления площади образца, акения длины образца.Овыше 20 - забивание проточек, чтоКроме того, в устройстве для опре понижает точность определения содер"деления содержания воздуха в иссле О жания воздуха.дуемой массе, содержащем камеру сжа- На фиг.1 приведено устройствотия, опорную шайбу и размещенный в для осуществления предлагаемого спокамере сжатия поршень, связанный с о а; на фиг. - график измененияиндикатором перемещения, на поршне размеров образца включающий йе выполнены проточки, образую ное изменение длины образца.щие кольцевой канал сооб аю йсящ щийся Устройство для проведения измерес камерой сжатия, причем проточки ний...

Номер патента: 1129516

Опубликовано: 15.12.1984

Авторы: Захаров, Леднева, Устинов

МПК: G01N 23/20

Метки: двухкристальному, держатель, образца, рентгеновскому, спектрометру, эталона

...показан предлагаемыйдержатель, поперечный разрез,Держатель состоит .з плоскопараллельной полированной пластины 1 круглой формы, в одной из половин кото -рой относительно диаметра вырезаноотверстие, в которое помещена втораяповоротная пластина 2.Лицевая сторона обеих пластин 1и 2 выполнена плоскои, а с противоположной стороны каждой нз них жестко закреплены кронштейны 3 и 4. Пластина 2 опирается на шарик 5, установленный в отверстии пластины 1,и поджнмается к нему другим шариком 6 че- .рез пружину 7 винтом 8. На концекронштейна 3 выполнена рамка 9 с окном и резьбовыми отверстиями, в которые ввернуты две пары винтов 10,взаимодействующих с хвостовиком кронштейна 4. Устройство работает следующим образом,Эталон и исследуемый образец...

Номер патента: 1134051

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Закутин, Ромасько, Хейфец, Шендерович, Шестакова

МПК: H01L 21/66

Метки: бесконтактный, образца, сопротивления, удельного, формы, цилиндрической, электрического

...соотношении между диаметром образца и расстоянием между электродами. Следовательно, данным способом осуществляется непосредственное измерение удельного сопротивления и т.к. при этом протекающий через образец импульс тока будет иметь такую же амплитуду и форму, как и при непосредственном контакте поясков с образцом, Измеряя с помощью измерителя импульсного тока 4 протекающий через образец ток, можно определить сопротивление образца между электродами, как отношение амплитуды импульса напряжения генератора 3 к амплитуде импульса тока, измеренного измерителем 4. В качестве измерителя импульса тока можно использовать, например, включенное последовательно с образцом малое сопротивление, импульс напряжения с которого измеряется с...

Номер патента: 1747891

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Григорьев, Мышкин, Семенюк, Холодилов

МПК: G01B 15/02

Метки: площади, поверхности, твердых, тел, удельной

...исследуемого диапазона 15неровностей, а об изменении удельной площади поверхности этих неровностей судятпо их отношению,На фиг.1 изображена схема взаимодействия пучка электронов (зонда) с исследуемой поверхностью; на фиг,2измерительный комплекс,Способ осуществляют следующим образом,На исследуемую поверхность твердого 25тела направляют сфокусированный пучокэлектронов, разворачивают его в растр, регистрируют интенсивность истинно вторичных электронов, определяют среднее 7 иминимальное 1 мин значения интенсивности, 30а об удельной площади поверхности (5 л)судят по отношению 35Поскольку неровности шероховатой поверхности имеют размерь 1, находящиеся вшироком диапазоне значений, измереннаявеличина ЧПП зависит от размера зонда (диаметра...