Устройство для измерения двулучепреломления

Опубликовано 15,09.82. Бюллетень 34Дата опубликования описания 25.09.82 по делам изобретений и открытий(72) Авторы изобретения Институт физических исследований АН Армянской(54) УСТРОЙСТВО Д,ЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДВУ/ЧУЧЕПРЕ,ЛОМЛЕНИЯ сится к оптике кристалспользовано при исслеоторефракции в крис- нных для голографии, довании однородности х кристаллов,ство измерения двулупомощи компенсатоИзобретение отно лов и может быть и довании эффекта ф таллах, предназначе а также при иссле двулучепреломляющи Известно устрой чепреломления при ра 1.Однако данное устроиство характеризуется низким быстродействием.Наиболее близким к предлагаемому является устройство .для измерения двулучепреломления, содержащее расположенные по ходу луча лазер, держатель исследуемого кристалла, анализатор и фотоприемник2.Недостатком его является низкое быстродействие измеренийЦель изобретения - повышение быстродействия измерений.Цель достигается тем, что в устройство для измерения двулучепреломления, содержащее расположенные по ходу луча лазер, держатель исследуемого кристалла, анализатор, фотоприемник, между держателем исследуемого кристалла и а нализатором размещен электрооптический кристалл, и в устройство дополнительно введены источник переменного напряжения, формирователь сигналов, измеритель временных интерваловпри этом фотоприемник подключен к формирователю сигналов, электрооптический кристалл подключен к источнику переменного напряжения, формирователь сигналов подключен к измерителю временных интервалов, второй вход которого подключен к источнику переменного напряжения.На чертеже представлена структурная схема устройства.Устройство содержит лазер 1, держатель исследуемого кристалла 2, электрооптический модулятор 3, анализатор 4, фото- приемник 5, формирователь сигналов 6, измеритель временных интервалов 7 и генератор переменного на пря же ни я 8.Устройство работает следующим образом.Световой поток от лазера 1, поляризованный вдоль вектора С, распадается в анизотропном кристалле 2 и далее в электрооптическом элементе 3 на волны, поля958871 10 Формула изобретения Составитель В. КотеневТехред А. Бойкас КТираж 887 П Редактор Н. Киштулин Заказ 6770/55 рректор МдписноеССР ароши ВНИИПИ Гопо делам113035, Москва Филиал ППП Па дарственного комитета С Изобретений и открытий Ж - 35, Раушская наб., нтъ, г. Ужгород, ул. Пр д. 4/5ектная,ризованные вдоль Х и У. На выходе элементов волны оказываются сдвинутыми по фазе друг относительно друга на 1= 91+ г 1 где т, - фазовый сдвиг, в кристлле су - фазовый сдвиг в модуляторе 3, Выходной анализатор пропускает только компоненты волн параллельно С. Сдвинутые по фазе компоненты волн интерфируют.Рассмотрим систему, в которой на электрический вход модулятора подается синусоидальное напряжение с амплитудой.11=ЦЯп 411 (1)Можно получить, что придаточная функция системы будет иметь вид- = 51 п 1 - 1-.1. " ып сд" (2)Таким уравнением описывается сигнал, полученный с выхода фотодиода.,На частотомер, работающий в режиме измерения временных интервалов, .подаются два сигнала: один - эталонный, т. е. синусоида от блока питания, другой - с форыирователя сигналов, состоящего из дифференцирующего усилителя и триггера Шмидта с нулевым порогом. На вход формирователя подается сигнал с фотодиода, на выходе получает сигнал со емешанным на 0,5 нулевым уровнем. Частотомер запускается от переднего фронта синусоиды и останавливается от переднего фронта следующего импульса сигнала с формирователя импульсов, т. е. выдает время запаздывания одного еигнала по сравнению с другим, из которого по уравнениям (1) и (2) можно определить фазовый сдвиг в исследуемом кристалле.Время, необходимое для определения фазовой расстройки, 0,02 с и зависит от частоты напряжения, подаваемого на модулятор, Отказ от механических передвигающихся частей выгодно отличает предлагаемое устройство .от прототипа тем, что значительно уменьшает время определения фазовой расстройки, а также ввиду отсутствия какой-либо механики повышает надежность работы схемы. Предлагаемое устройство,значительно проще прототипа, так как отпадает необходимость в системе слежения. Устройство для измерения двулучепреломления, содержащее расположенные по15ходу луча лазер, держатель исследуемогокристалла, анализатор, фотоприемник, отличаюи 4 ееся тем, что, с целью повышения быстродействия измерений, между держателемисследуемого кристалла и анализаторомразмещен электрооптический кристалл, ив устройство .дополнительно введены источник переменного напряжения, формирова-.тель сигналов, измеритель временных интервалов, .при этом фотоприемник подключенк формирователю сигналов, электрооптический кристалл подключен к источнику пере 25 менного напряжения, формирователь сигналов подключен к измерителю временныхинтерваловвторой вход которого подключен к источнику переменного напряжени;:.Источники инфорыации,30принятые во внимание при экспертизе1. Меланхолии Н, М. Методы исследовавания оптических свойств кристаллов. М.,Наука, с. 14 - 15.2, Изв. АН,Латвийской ССР, Сер. физ-тех.наук, 197 б,3, с. 114 - 117.