Способ измерения углов поворота в диапазоне от 0 до 90
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 930007
Автор: Анисимов
Текст
) Приорит ано 23.05 ликования ло аелам изобрет и открытия(72) Авторизобретения М.М.Анис) Заявител Всесоюзный заочный машиностроительный институт54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ УГЛОВ ПОВОРО В ДИАПАЗОНЕ ОТ 0 ЯО:90 тем, чт ия углов подо 90 ,зарасполагают ческом или т анизо нного жидве последнего проницае Изобретение относится к измеритель ной технике и может быть использовано при измерениях углов поворота объектов.Известен способ измерения угла поворота объекта, заключающийся в том, что переводят нагревом жидкий кристалл в нематическую фазу, воздействуют на него внешними электрическими и магнитными полями, охлаждают жидкий кристалл до смектической фазы, выключают внешние поля и по изменению скорости ультразвука в жидком кристалле судят об угле поворота 13Недостатком этого способа является длительная подготовка.к измерениям, обусловленная переводом жидкого кристалла из смектической фазы в нематическую и обратно.Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ измерения углов поворота в диапазоне от 0 до 90 о, заключающийся в том, что располагают жидкий кристалл в электрическом или магнитном поле и, измеряют анизотропный параметр ориентированного жидкого кристалла, в качестве которого используют скорость распространения ультразвука в жидком кристалле 2.Недостатками этого способа являются низкая точность и сложность процесса измерения, обусловленные малой величиной анизотропии скорости распространения ультразвука, и большое количество операций.Цель изобретения - повышение точности и упрощение процесса измерений. Эта цель достигается согласно способу измере ворота в диапазоне от 0 ключающемуся в том, что жидкий кристалл в элект магнитном поле и измеря ный параметр ориентиров кого кристалла, в качес используют диэлектрическ4Предлагаемый способ измерения углов поворота позволяет повысить точность измерения в силу того, что анизотропия диэлектрической проницаемости имеет большую величину по сравнению с анизотропией скорости ультразвука, а малое число операций упрощает процесс измерения. 930007 Способ измерения углов поворотав диапазоне от 0 до 900, заключающийся в том, что располагают жидкийкристалл в электрическом или магнитном поле и измеряют анизотропныйпараметр ориентированного жидкогокристалла, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью повышения точности и упрощения процесса измерений,в качестве анизотропного параметраиспользуют диэлектрическую проницаемость жидкого кристалла в направлении, перпендикулярном к оси пово-.рота и образующем в плоскости вращения угол 45 в с направлением электрического или магнитного поля.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свйдетельство СССРпо заявке Ю 2443462/23,кл. 6 02 Г 1/13, 19772. Авторское свидетельство СССРпо заявке я 2896866/28,кл. О 01 В 17/00, 1980 (прототип),ВНИИПИ Заказ 348/50 Тираж Подписное филиал ППП "Патент", г. Ужгород, у ект мость жидкого кристалла в направлении, перпендикулярном к оси поворота и образующем в плоскости вращения угол 45 О с направлением электрического или магнитного поля. %На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующего способ измерения углов поворота.Устройствр содержит камеру заполненную жидким кристаллом 2, маг О нит 3, между полюсами которого рас:положена камера 1, конденсатор 4, расположенный в камере 1 под углом 450 к направлению магнитного поля магнита 3, соединенные последова тельно с конденсатором 4 измеритель 5,емкости и регистрирующий блок 6.Способ измерения углов поворота в диапазоне от О. до 90 заключается в том, что располагают камеру 1 с 2 в жидким кристаллом 2, например, в магнитное поле магнита 3, что приводит к пространственной ориентации директора; Ввиду того, что при повороте камеры 1 жидкий кристалл 2, гЗ в силу малой вязкости, остается в покое, меняется и направление измерения диэлектрической проницаемости, что приводит к изменению ее величины : пропорциональному углу поворота, Та- зв ким образом, при повороте камеры 1 меняется емкость конденсатора 4, измеряемая измерителем 5 емкости и регистрируемая регистрирующим блоком 6. Формула изобретения
СмотретьЗаявка
3004397, 12.11.1980
ВСЕСОЮЗНЫЙ ЗАОЧНЫЙ МАШИНОСТРОИТЕЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ
АНИСИМОВ МИХАИЛ МИХАЙЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 7/30
Метки: диапазоне, поворота, углов
Опубликовано: 23.05.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-930007-sposob-izmereniya-uglov-povorota-v-diapazone-ot-0-do-90.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения углов поворота в диапазоне от 0 до 90</a>
Способ определения анизотропии коэффициента поглощения ультразвука в жидких кристаллах
Номер патента: 947744
Опубликовано: 30.07.1982
МПК: G01N 29/02
Метки: анизотропии, жидких, коэффициента, кристаллах, поглощения, ультразвука
...18 и 19. Выходы последних через дифференциальные каскады 20 и 21 соединены со входами дифферен 947744циаль ного каскада 22, выход которогосвязан с регистратором 23.Анизотропия коэффициента поглощения ультразвука и его скорости описываются универсальной Функциейо(Ю) =а + с соз 6 + Ь соз 4 В,где 6 - угол между волновым вектором и директором (единичным вектором преимущественной ориентации молекул);О,Ь,С - коэффициенты угловой зависима ст и.Значения коэффициентов О, Ь, смогут быть определены по значениямизмеряемого акустического параметрадля дискретного набора углов ориентации волнового вектора относительнодиректора.Способ определения анизотропиикоэффициента поглощения ультразвукаосуществляется следующим образом.Помещают жидкий кристалл 2 в...
Способ определения отклонения угла ориентации кристаллографических плоскостей от заданного угла относительно поверхности среза кристалла (его варианты)
Номер патента: 1052956
Опубликовано: 07.11.1983
Авторы: Агеев, Гоганов, Казанский, Комяк
МПК: G01N 23/20
Метки: варианты, его, заданного, кристалла, кристаллографических, ориентации, отклонения, относительно, плоскостей, поверхности, среза, угла
...разности измеренных углов 2.5 Наиболее близким кпредлагаемомуявляется способ определения отклонения угла ориентации кристаллографических плоскостей от заданного угла относительно поверхности среза кристалла, включающий облучение поверхности среза исследуемого кристалла пучком рентгеновских лучей и регистрацию отраженных от него лучей с помощью детектора 13Недостаток способа состоит в том,что необходимо поворачивать исследуемый кристалл для лоиска отражения и нахождения углового положения его максимальной интенсивности, что существенно снижает экспрессность анализа. Кроме того, точность определения угла отклонения таким способом зависит от точности изготовления узлов, обеспечивающих поворот и определение углового поло.ения кристалла,...
Способ измерения распределения скорости ультразвука в жидких средах
Номер патента: 1696889
Опубликовано: 07.12.1991
Авторы: Владишаускас, Данилов, Сядярявичус
МПК: G01H 5/00
Метки: жидких, распределения, скорости, средах, ультразвука
...фиксатора 9, причем при помощи калибровочной пластинки устанавливается на определенном расстоянии от излучающей поверхности преобразователя 5, При этом должно выполнять 1696889ся условие параллельности оси рассеивателя к излучающей поверхности,Для исключения дополнительных источников помех длина рассеивателя должна полностью перекрывать ультразвуковой луч, ширина которого в ближнем поле не превышает диаметра пьезоэлемента, База измерения может изменяться в пределах 1-10 мм и более, соответственно, меняется количество измерений и смещение системы пьезопреобразователь 5рассеиватель 8.Измерение проводят следующим образом. Размещают преобразователь 5 в верхней части неоднородности среды и измеряют скорость ультразвука, После этого...
Устройство для измерения скорости ультразвука в жидких средах
Номер патента: 587388
Опубликовано: 05.01.1978
МПК: G01N 29/00
Метки: жидких, скорости, средах, ультразвука
...собственной частотой подвижной приемной пьезопластины 4. Обе пластины односторонне нагружены исследуемой жидкостью. Приемнаяпьезопластина соединена с индуктивностью5, образукицей с емкостью пьезоэлементаи монтажной емкостью колебательный контур, собственная частота которого совпа- З 0дает с собственной частотой пьезоэлемента. Параллельно этому контуру включенрезистор 6, сопротивление которого равносопротивлению излучениями. Выход усили 35теля 7 принятого сигнала соединен с однимиз выходов сумматора 8, на другой вход которого поступает высокочастотное налряжениеот генератора 2. Выход сумматора соединен с регистрирующей схемой 940Устройство работает следующим образом,При возбуждении излучателя непрерывнымсинус оидальным напряжением в...
Способ поворота изображения на углы, кратные 90
Номер патента: 1439634
Опубликовано: 23.11.1988
Авторы: Дубчак, Кожемяко, Красиленко
МПК: G06K 9/00
Метки: изображения, кратные, поворота, углы
...хранения, то правое плечо ячейки может находиться в двух устойчивых состояниях, соответствующих проводящему и непроводящему состояниям фототиристора 382 или возбужденной, хранящей единичный сигнал, или невозбужденной ячейке. Для приведения регистровой структуры в исходное состояние, когда все ячейки всех оптоэлектронных кольцевых регистров сдвига обнулены, служит вход 6 "Сброс" устройства, который является общим для всех регистров. Если на него подать сигнал "Сброс" единичного уровня, а в то время на синхровходы 9 не подавать синхроимпульс, то на выходе элементов ИЛИ-НЕ 30 каждого регистра (фиг.З) появится также низкий уровень на время действия сигнала "Сброс". Поэтому на время его действия прерыватели 27, и 272 тока разомкнуты и...
Предыдущий патент: Устройство для контроля кинематической погрешности зубчатых колес
Следующий патент: Фотоэлектрическое устройство для определения положения границы объекта
Случайный патент: Электронагреватель текучих сред